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1、实 验 二 塞曼效应一、实验的目的：1.过观查塞曼效应现象，了解塞曼效应是由于电子的轨道磁矩与自旋磁矩共同受到外磁场作用而产生的。证实了原子具有磁矩和空间取向量子化的现象，进一步认识原子的内部结构。并把实验结果和理论进行比较。2.掌握法布里珀罗标准具的原理和使用，了解使用CCD及多媒体计算机进行实验图象测量的方法。19世纪伟大的物理学家法拉第研究电磁场对光的影响，发现了磁场能改变偏振光的偏振方向。1896年荷兰物理学家塞曼（Pieter Zeeman）根据法拉第的想法，探测磁场对谱线的影响，发现钠双线在磁场中的分裂。 洛仑兹跟据经典电子论解释了分裂为三条的正常塞曼效应。由于研究这个效应，塞曼和
2、洛仑兹共同获得了1902年的诺贝尔物理学奖。他们这一重要研究成就，有力的支持了光的电磁理论，使我们对物质的光谱、原子和分子的结构有了更多的了解。至今塞曼效应仍是研究能级结构的重要方法之一。一、 塞曼效应的原理当发光的光源置于足够强的外磁场中时，由于磁场的作用，使每条光谱线分裂成波长很靠近的几条偏振化的谱线，分裂的条数随能级的类别而不同，这种现象称为塞曼效应。 正常塞曼效应谱线分裂为三条，而且两边的两条与中间的频率差正好等于eB/4mc，可用经典理论给予很好的解释。但实际上大多数谱线的分裂多于三条，谱线的裂矩是eB/4mc 的简单分数倍，称反常塞曼效应，它不能用经典理论解释，只有量子理论才能得到
3、满意的解释。1 原子的总磁矩与总动量距的关系塞曼效应的产生是由于原子的总磁矩（轨道磁矩和自旋磁矩）受外磁场作用的结果。在忽略核磁矩的情况下，原子中电子的轨道磁矩mL和自旋磁矩mS合成原子的总磁矩m，与电子的轨道角动量PL，自旋角动量PS合成总角动量PJ之间的关系，可用矢量图1来计算。已知： mL=（e /2m）PL P= （1） mS=（e/m）p PS = （2） 式中L, S分别表示轨道量子数和自旋量子数，e, m分别为电子的电荷和质量。由于mL和PL的比值不同于mS和PS的比值，因此，原子的总磁矩m不在总角动量PJ的延长线上，因此m绕PJ的延线旋进。m只在PJ方向上分量mJ对外的平均效果
4、不为零，在进行矢量迭加运算后，得到有效mJ为： =gPJ （3） 其中g为朗德因子，对于LS耦合情况下g=1+（4）图1 角动量和磁矩矢量图 图2角动量旋进如果知道原子态的性质，它的磁矩就可以通过（3）.(4)式计算出来。2 在外磁场作用下原子能级的分裂。当原子放在外磁场中时，原子的总磁矩将绕外磁场B的方向作旋进，使原子获得了附加的能量。E = JBcos（R B） = Bcosa = gPBcos （5）由于或R在外磁场中取向是量子化的，则R在外磁场方向的分量PJcosb 也是量子化的。它只能取如下数值。PJcosb = M （ 6 ）M称为磁量子数，只能取M = J，（J-1），J。 （）
5、共（2J+1）个值。把（6）式代入（5）式：E = Mg （8）说明在稳定磁场作用下，由原来的只有一个能级，分裂成（2J+1）个能级，每个能级的附加量由（8）式计算，它正比于外磁场强度B和朗德因子g。3.能级分裂下的跃迁设某一光谱线是由能级E2和E1之间的跃迁而产生的，则其谱线的频率同能级有如下关系： h= E2- E1在外磁场作用下，上下两能级分裂为（2J1+1）个和（2J2+1）个子能级，附加能量分别为DE1、DE2 ，从上能级各子能级到下能级各子能级的跃迁产生的光谱线频率,应满足下式:h=(E2+DE2)(E1+DE1) =( E2- E1)+( DE2-DE1) = h+ (M2g2M
6、1g1) B (9)即: =(M2g2M1g1) B 换以波数差来表示 (=)D=-= (M2g2M1g1) = (M2g2M1g1) L （）其中L=称为洛仑兹单位。L=0.467B, 的单位用T（特斯拉），L的单位是也正是正常塞曼效应中谱线分裂的裂距。M的选择定则与偏振定则如下：DM = 0 1 当DM = 0 时的跃迁，产生 p 成分。DM = 1 时的跃迁，产生s 成分。当g1=g2 =1时,从式（4）可知，总自旋量子数S为0，J=L。这意味着原子总磁矩唯一由电子轨道磁矩决定，这时原子磁矩与磁场相互作用能量为E=M塞曼能级跃迁谱线的频率为 = 0 L （当ML= 1时） = L （当M
7、L= 0时）式中0=（E2-E1）/ h ,为拉莫尔旋进频率。L= eB/4m跃迁谱线对称分布在0两侧，期间距等于L。即没有外加磁场时的一条谱线，在磁场作用下分裂成频率为0和0L三条谱线，这就是正常塞曼效应。由此可见，原子内纯电子轨道运动的塞曼效应，为正常塞曼效应。三、实验装置根据（10）式可知：正常塞曼效应所分裂的裂距为一个洛仑兹单位，即= B，我们将波数差V换成波长差时，则 = 2=2 （11）设=500nm，磁场强度B=1特斯拉 ，则=0.1 ，由此可知，塞曼效应分裂的波长差的数值是很小的，欲观察如此小的波长差，普通棱镜摄谱仪是不能胜任的必须使用高分辨本领的光谱仪器。我们所使用的是法步里
8、泊罗标准具和测量望远镜、联合装置来进行观察和测量。1 FP标准具： （1）FP标准具的结构为：两块平面玻璃板，板面的平整要求在1/20至1/100波长，为了消除背面的反射所产生的干涉与正面所产生的干涉重叠，每块都不是严格的平行平面玻璃板，板的两个面成一很小的夹角，通常是2030，平板的表面涂以多层介质薄膜，以提高反射率。两块板的中间放一玻璃环，其厚度为d ，装于固定的载架中。该装置为多光束干涉的应用，其干涉条纹为一组明暗相间，条纹清晰，细锐的同心圆环，其经典用处是作为高分辨本领的光谱仪器。FP标准具的光路图见图4所示当单色平行光束S。以小角度 入射到标准具的M平面时，入射光束S。经过M表面及M
9、表面多次反射和透射，形成一系列相互平行的反射光束这些相邻光束之间有一定的光程差 ,而且有 = 2 n d cos d为平板之间的间距，n为两平板之间介质的折射率（标准具在空气中使用，n = 1 ），为光束入射角，这一系列互相平行并有一定光程差的光在无穷远处或用透镜汇聚在透镜的焦平面上发生干涉，光程差为波长整数倍时产生干涉极大值。 2 d cos = NN为整数，称为干涉序。由于标准具的间距是固定的，在波长不变的条件下，不同的干涉序N对应不同的入射角。在扩展光源照明下，FP标准具产生等倾干涉，故它的干涉条纹是一组同心圆环。 图4 标准具光路 由于标准具是多光束干涉，干涉花纹的宽度是非常细锐的，花
10、纹越细锐表示仪器的分辨能力越高。（2）.标准具测量波长差的公式： 2d（1- ）= k （12）式中D表示圆环的直径，f 为透镜的焦距，d为法白板间的距离。由上式可见，公式左边第二项的负号表明直径愈大的干涉环纹序愈低。同理，对于同一级序的干涉环直径大的波长小。对于同一波长相邻级项k和k1圆环直径分别为Dk和Dk1，其直径平方差用D2表示，由（12）式可得 D2 = D2 k1 D2k= 4f2/d （13）由上式知，D2是与干涉级项k无关的常数。对于同一级项不同波长、b、c而言，相邻两个环的波长差ab的关系由（13）式得：ab=a-b= d（D2b D2a）/ 4f2Kbc=b-c= d（D2
11、c D2b）/ 4f2K（13）式代入上式而得D2bD2aab=a-b=(D2b D2a) / k (D2k1 D2k ) （14）bc=b-c=(D2cD2b) / k( Dk1 D2k) （15）本实验对应圆环直径见图六。由于FP标准具中，大多数情况下，cos =1 K = 2d/于是有：ab=a-b=2（D2b- D2a）/ 2d (D2k-1-D2k) （16）bc=b-c=2（D-D）/ 2d (D2k-1- D2k ) （17）用波数表示：Vab= Va-Vb =(D2b-D2a) / 2d (D2K-1-D2K) =D2ab/(2dD2 ) （18）Vbc=Vb-Vc=(D2c-
12、D2b) / 2d (D2K-1-D2K) =D2ab/(2d D2 ) （19）由上式可知，波长差或波数差与相应干涉圆环的直径平方差成正比。 2 、 实验系统装置 研究塞曼效应的实验装置如图5所示。在本实验中，光源用水银放电管，由专用电源点燃；N、S为电磁铁的磁极,电磁铁用支流稳压电源供电；L1为会聚透镜，使通过标准具的光强增强；A、B为FP标准具；P为偏振片，在垂直磁场方向观察时用以鉴别成分和成分；k为1/4波片，在沿磁场方向观察时用以鉴别左圆偏振和右圆偏振光；后部分是测量望远镜、CCD图象采集处理部分。微摄像系统的核心器件是电荷耦合器件，简称 CCD （Charge Coupled De
13、vice ）。自1970年发明以来 ，由于应用广泛，发展极为迅速。作为对光敏感的图象传感器，CCD 具有光电转换、电荷存储和电荷传输的功能。由面阵CCD制成的摄像头，可把经镜头聚焦到CCD表面的光学图像扫描变换为相应的电信号，经编码后输出PAL或其他制式的彩色全电视视频信号，此视频信号可由监视器或多媒体计算机接受并播放。图5 实验装置示意图多媒体计算机加装视频多媒体主件，工作于Windows操作环境。视频多媒体主件的核心是多媒体采集卡，可将输入的PAL或NTSC制视频信号解码并转换为数字信息，此信息可用于在计算机显示器上同步显示所输入的电视图象，并可做进一步的分析处理。本实验中用CCD作为光探测器，通过图象卡使FP标准具的干涉花样成像在计算机显示器上，实验者可使用本实验专用的实时图象处理软件读取实验数据。
