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1、北京卓川电子科技有限公司硅料表面金屈杂质含是沥试便SY.29-03图片简介型号硅料表面金屈杂质含星测试便，其主要用途是对多晶硅料的硅料表面金屈杂质含星进行分析。包括Fe、* Hi、匚u、Zn. Ca. Mg. Al等金属元素。.产品特点体积小巧、功能 全面、操作简便，操作及维护费用低全新功能保证自动进行系统检查，减少样品的重复巷洌。增加实验姑 果的可靠性，确保便器硬件的运行状态，并提前给出出错提示。通过软件控制，自动实现原子化器的选 择、切换和校准，无需手动操作。在启动FC时，自动运行系统检查来确定应将的运行状态。大幅减少重复作样的机登，提高了数据可靠性和准确性。智能化附件，用户化普析要求。波
2、长准确度高， 光度计准确性，稳定性好技术指标检出限：ppm缀样品分析能力:单元素分析，每个样品每个元素比秒测试范围：可测 包括Li、Be、B、Fe、Cr. Hi、Cu. Zn.匚a、Mg. Al等在内的超过5D个元素线性动态范围：1D的2技方 电源：iW 240V（10%） , 50/60HZ j 300VA 主就京寸 重星:780 宽 X5也高 X 595柱mm 60 kg.推荐工作条件室内环境 温度15-301C ；相对湿度（全天候）不超过M常室内无强磁场干扰：元妨碍便器正常工作的震动室内 环境涪洁、干蝶、没有灰尘、无腐蚀性气体硅料表面金屈杂质含星洌试演是精密仪器，为防止酸、碱及 其它腐蚀
3、性气体、烟零侵蚀位器，必须和化学实验室分开：仪器光学系统对湿度、温度要求很高，实验室应安 装空调及去湿设备 北京卓川电子科技有限公司电话:010-5949973B 57161285 5717B682 57173683 6291836015811387398 1532137973315321531285 其：01Q-6W918360 网址：www.bjzcdz.cam 邮箱：webmasterbjzcdz,.com1.分析检测技术在高纯硅材料及太阳级硅片生产中的应用（百度文库）ICP-OES （电感耦合等离子体发射光谱仪）适用于硅材料（2N-5N），未精馏TCS中痕量、微量金属元素及部分非金属元
4、素的定性、 定量分析；以及光伏产业生产、研发中使用的各种化学药剂中痕量、微量金属元素及部分非 金属元素的定性、定量分析。2. 碳分析仪针对黑色金属、有色金属、稀土金属、无机物等各种固体物质中碳含量进行分析，检出限为 4ppmw。3. 氧分析仪针对黑色金属、有色金属、稀土金属、无机物等各种固体物质中氧含量进行分析，检出限为 2ppmw。4.ICP-MS （电感耦合等离子体质谱仪）适用于高纯硅材料（6N-9N），精馏后TCS中痕量、微量金属元素及部分非金属元素的定性、 定量分析。以及晶体硅片表面杂质沾污成分及含量分析5. GDMS（辉光放电质谱仪）适用于太阳级硅材料（6N）中痕量、微量金属元素及部
5、分非金属元素的定性、半定量分析。 相比于ICP-MS，使用GDMS对样品进行测试更加快速、简便，因此更加适用于光伏行业。 同时，LDK自行开发的仪器测试校准方法能够有效提高GDMS的检测精度，目前，经过校正 后的GDMS已经可以对太阳级硅材料中的B、P实现定量分析。硅料表面金属杂质含量测试仪（北京合能阳光新能源技术有限公司）5测试方法5. 1再生硅料中碳含量测量按照GB/T1558进行测试。5. 2再生硅料中HI-V族杂质含量按照GB/T24574-2009或陟T24581-2009或SEMI PV1 或GB/T24579-2009 或SIMS测试。5. 3再生硅料中的金属杂质含量按照SEMI PV1或GB/T24579-2009或GB/T24582-2009或SIMS测试。5. 4再生硅料的尺寸分布范围用筛网检验，或由供需双方商定的方法检验。5. 5再生硅料的表面质量用目视/放大镜检查。5. 6再生硅料的导电类型测试方法按照GB/T1550进行测试。5. 7再生硅料的电阻率测定按照GB/T1552进行测试。
