《SZT-D粉末电阻率测试台操作说明书.doc》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SZT-D粉末电阻率测试台操作说明书.doc（7页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、注意：敬请用户在操作使用SZT-D型半导体粉末电阻率测试台之前，必须详细阅读技术使用说明书！并妥善保存。SZT-D型半导体粉末电阻率测试台(配ST-2258A多功能数字式四探针测试仪) 操作使用说明书苏州晶格电子有限公司 图2-1 测试台结构部件名称SZT-D型半导体粉末电阻率测试台操作说明书一、概述本测试台参照有关国际标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。 组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末
2、的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。 本仪器采用国际通用的电流、电压四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接触），可以消除电极与导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。测试参数时同步检测压力和高度，也是区别于以往旧款同类测试台新特点！便于研究材料的特性曲线！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工
3、具。二、主要技术指标：1、 试样粒度：40目以下（标准筛网）2、 试样容器：内经：11.28mm（S=1.0cm2）高度：020mm可调,带高度尺监测，测量误差：0.02mm。3、测试压强标准压强：P0=4Mpa0.05Mpa，合压力40kg0.5 kg(S=1.0cm2)。 压强量程：10Mpa, P=010 Mpa可调，合压力0100Kg,(S=1.0cm2)4、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。电子数码显示压力值！四位有效显示数0200Kg，分别率0.1 kg！5、测试台外形：250mm（前宽）220 mm（后长）540mm（总高） 重 量：10Kg6、测试台结构部件名称如图2-1.三
4、、操作说明：1 联机准备如右图连接SZT-D型半导体粉末电阻率测试台和ST2258A型四探针测试仪，如图3-1A联机操作图。顺时针旋转手轮抬起上电极，测试台压力降到零，露出装料容腔,如图3-1B。 图3-1A联机操作图 图3-1B2 加料操作A注备：先摇动手轮使上电极调到较高位置，远离加料腔的工作台面，便于加料。如图3-1B。 图3-2控制加料腔中加料深度 图3-3加料B调整加料腔深度，控制加料量： 如图3-2，调节深度（料高）调节螺母，同时观察深度尺读数，以控制加料腔中加料深度。注意，深度尺的零位为10.00cm刻度处，如读数为11.00cm,则加料腔深度为1.00cm。深度控制在0.502
5、.00cm为宜。C加料：如图3-3,用所配的小勺子取粉末样品加入加料腔，每次小心适量，直至加满稍溢满，然后用小勺子稍压实、压平，如图3-4,然后用刷子扫净容腔边缘台面上多余样品料，清洁台面。如图3-5。 图3-4压实料 图3-5清洁台面3 加压操作 逆时针转动手轮，压下上电极。上电极压至台面时样品开始受压，数码压力表显示压力值开始明显上升，如图3-6A, 图3-6B, 图3-6A 加压 图3-6B压力显示3 读取样品当前高度，求修正系数 如当前压强P=20MPa,即压力值 F=20.0Kg,(S=1cm2)。如图3-6B。如图3-7，读取样品高度为:H=10.50cm-10.00cm=0.50
6、cm=5.0mm 查附表 粉末电阻率测试修正系数表查5.0mm行和0.0mm列，得修正系数K=2.000图3-7，读取样品高度4 设定仪器修正系数，测试样品电阻率值 如图3-8A 仪器在设定档，设定修正系数F=K=2.000,转测试挡，读取电阻率值，如图3-8B.电阻率=10.24-cm. 图3-8A设定修正系数 3-8B读取电阻率值 *一般行业标准压强取P=40.0MPa,即F=40.0Kg ,测试方法同上* 5 出料（退片） 测试参数完毕，顺时针转动手轮，上升上电极，如图3-9出料准备，可见已经被压实的料片。把样料退出容腔的出料方法有两种，一是如图3-10，把退料器喇叭口朝上扣在上电极下端
7、，逆时针转动手轮，用上电极下压退料器及台面，用下电极顶出料片，注意观察高度计，直到显示容腔深度为-0.1cm=-1mm,再回升上电极，向上拿掉退料器，可见退出容腔的成形料片，如图3-11出料完毕。 图3-9出料准备 如图3-10退料器法退料 二是直接顺时针扭动深度调节螺母，下压台面，用下电极顶出料片，注意观察高度计，直到显示容腔深度为-0.1cm=-1mm, 可见退出容腔的成形料片，如图3-11出料完毕。 图3-11A 出料完毕 图3-11B 料片移位5 收料和清洁台面 测试和出料完毕，应收起保存料片和粉料样品，并用配备的刷子等工具清扫台面和仪器表面，以免污染环境。长期不用存放时，请盖好防尘罩
8、。附表3： 半导体粉末电阻率测试修正系数表K=s/h, s=1.00cm2 , h=*mm,样品高度，即压片容腔深度，注意：h查表按mm检索，(计算按cm代入),K单位cm,按表中系数输入人主机h(mm).0.1.2.3.4.5.6.7.8.90110.009.0908.3337.6927.1436.6676.2505.8825.5565.263025.0004.7624.5454.3484.1674.0003.8463.7033.5713.448033.3333.2263.1253.0302.9412.8572.7783.7032.6322.564042.5002.4392.3812.326
9、2.2732.2222.1732.1282.0832.040052.0001.9611.9231.8871.8521.8181.7861.7541.7241.695061.6671.6391.6131.5871.5631.5381.5151.4931.4711.449071.4291.4081.3891.3701.3511.3331.3161.2991.2821.266081.2501.2351.2201.2051.1901.1761.1631.1491.1361.123091.1111.0991.0871.0751.0641.0531.0421.0311.0201.010101.0000.9
10、910.9800.9710.9620.9520.9430.9350.9260.917110.9090.9000.8930.8850.8770.8700.8620.8550.8470.840120.8330.8260.8200.8130.8060.8000.7930.7870.7810.775130.7690.7630.7580.7520.7460.7410.7350.7300.7250.719140.7140.7100.7040.6990.6940.6900.6850.6800.6760.671150.6670.6620.6580.6540.6490.6450.6410.6360.6330.6
11、29160.6250.6210.6170.6130.6100.6060.6020.5990.5950.592170.5880.5850.5810.5780.5750.5710.5680.5620.5620.559180.5560.5520.5490.5460.5430.5410.5380.5350.5320.529190.5260.5240.5210.5180.5150.5130.5100.5100.5050.503200.5000.4980.4950.4930.4900.4880.4850.4830.4810.478*查表举例: h=11.5mm时，求F= K=s/h, 在表第一列查到11，对应该“11行”，如表所示，再在表第一行查到.5，对应该“.5列”，如表所示,则“11行”与“.5列”交汇处的得k=0.870。*对于h5mm以下，表中无数据的，最好按k=s/h,计算值带入较精确！3
