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1、质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透 射电子强度的改变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间 变化的函数关系的技术。扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是：STM、TEM、XPS、DTA。二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率低。（ ）高俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。（ ）样品粒度和气氛对差热曲线没有影响。（ ）*俄歇电子能谱适合于分析所有固体样品的表面化学成分。（ ）*X射线光电子能谱可用于固体表面元素的定性、定量和化学状态分
2、析。（ ）要测定聚合物的熔点，可以选择（ ）。 A、红外光谱 B、紫外可见光谱 C、差热分析 D、X射线衍射要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选择什么仪器？ 简述具体的分析方法。 答：要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，应选用配置有波谱仪或能谱仪的扫描电镜。具体的操作分析方法是：先扫描不同放大倍数的二次电子像，观察断口的微观形貌特征，选择并圈定断口上的粒状夹杂物，然后用波谱仪或能谱仪定点分析其化学成分（确定元素的种类和含量）差示扫描量热法：指在程序控制温度条件下，测量物质（样品）与参比物之间的 功率差随温度或时间变化的函数关系的技术。衍射衬度：由于样品
3、中不同位向的晶体衍射条件（位向）不同而造成的衬度差别。4.电子束与固体物质（样品）相互作用可能产生的信息主要有：二次电子、背散射电子、特征X射线、俄歇电子、吸收电子、透射电子等。电子能谱分析法是基于电磁辐射或运动实物粒子照射或轰击材料产生的电子能谱进行材料分析的方法，最常用的主要有（ ）、（ ）和（ ）三种。俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、紫外光电子能谱紫外光电子能谱、原子吸收光谱、波谱仪、差示扫描量热法的英文字母缩写分别 是（ ）、 （ ）、（ ）、（ ）。UPS、AAS、WDS、DSC电子光谱是（ ）。 A、 线状光谱 B、带状光谱 C、连续光谱下列分析方法中，（ ）不能分析固体表面元素的
4、含量。 A、俄歇电子能谱 B、X射线光电子能谱 C、紫外光电子能谱4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a第二聚光镜光阑 ；b. 物镜光阑 ；c. 选区光阑。5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。a球差 ；b. 像散 ；c. 色差。6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ a ）。a高阶劳厄斑点 ；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ b ）。a背散射电子；b.俄歇电子 ；c. 特征X射线。8. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍
5、射斑；c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。说明衍衬成像原理，并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。答：设薄膜有A、B两晶粒B内的某(hkl)晶面严格满足Bragg条件，或B晶粒内满足“双光束条件”，则通过(hkl)衍射使入射强度I0分解为Ihkl和IO-Ihkl两部分A晶粒内所有晶面与Bragg角相差较大，不能产生衍射。在物镜背焦面上的物镜光阑，将衍射束挡掉，只让透射束通过光阑孔进行成像（明场），此时，像平面上A和B晶粒的光强度或亮度不同，分别为IA I0IB I0 - IhklB晶粒相对A晶粒的像衬度为明场成像： 只让中心透射束穿过物镜光栏形成的衍衬像称为明场镜。 暗场成像：只让某一
6、衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为暗场像。 中心暗场像：入射电子束相对衍射晶面倾斜角，此时衍射斑将移到透镜的中心位置，该衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为中心暗场成像。 3二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?答：二次电子像：1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。2）平面上的SE产额较小，亮度较低。3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。背散射电子像：1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE，故一般不用BE信号。根据图示的TG、DTG和DTA曲线，推论NH4VO3的分解过程。
