焊缝探伤实验步骤UT.doc

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1、采用CTS-22型模拟机对焊缝进行探伤的基本操作步骤:1.根据给定的试板厚度确定灵敏度:板厚在15mm以上:评定线 1x6-9 dB ,定量线1x6-3 dB ,判废线1x6+5 dB。2. 测定探头的前沿距离和K植:探头置于CSK-IA试块上。对准R100圆弧面,前后移动探头,找到最高反射回波,量出此时探头至试块边缘的距离X,则探头前沿L0=100-X mm。例如:量出探头至试块边缘的距离X为90mm,则前沿距离为L0=100-90=10mm。然后将探头对准CSK-IIIA试块上埋深为30mm的1x6孔,前后左右移动探头,找到最高回波,量出探头至试块边缘的距离Y,则探头的K值为:K =(Y+

2、L0-40)/30。3.假设焊缝试样T=20mm,采用CSK-IA、IIIA试块,K2探头。按水平1:1调节扫描速度(1)将始波前沿对准零位,探头置于CSK-IIIA试块上,选定深度分别为20mm,40mm的横孔,先将探头对准深度d=20mm的横孔,探头前沿到试块边缘的距离定为80-L0,找到最高回波,用微调将其前沿调至水平刻度50处。用水平旋扭将回波前沿调至40mm处。(2)移动探头,将探头对准深度d=40mm的横孔,探头前沿到试块边缘的距离定为120-L0,找到最高回波,若此回波前沿所对的水平刻度值为y,应求出x=80-y。当x为0时,正好是水平1:1;当x为正时,用微调将回波向大读数移动

3、到y+2|x|处;当x为负时,用微调将回波向小读数移动到y-2|x|处。(3)用水平将回波前沿调至水平刻度80处。(4)再将探头对准深度d=20mm的横孔,探头前沿到试块边缘的距离定为80-L0,看反射波的位置是否正好在40处。如果是,调整完毕;如果不是,按上述方法重复调节。测距-波曲线: 探头对准d=10mm1x6,把增益旋扭调至最大,粗调衰减器调至20dB处,找到最高反射波,调微调衰减器,当回波靠近80%波高时,调增益,使其最大回波达到80%。然后固定增益,调衰减器,分别使d=20,30,40mm的1x6最高反射回波达到80%,记录相应的衰减器的读数于下表中,并作出相应的距离-波幅曲线。比

4、如:深度(mm)10203040水平距离(mm)204060801x6(dB)40342822加耦合补偿后1x6(dB)36302418判废线1x6+5-4(含耦合补偿)(dB)41352923定量线1x6-6-4(含耦合补偿)(dB)30241812评定线1x6-9-4(含耦合补偿)(dB)2721159调探伤起始灵敏度: 固定增益,调衰减器,使读数对应d=40mm(d应略大于或等于2T)1x6的评定线值。如上表中,则将探伤起始灵敏度调至9 dB。如果杂波太多,干扰了探伤,则可适当地减小探伤灵敏度。4. 假设焊缝试样T=30mm,采用CSK-IA、IIIA试块,K2探头。按深度1:1调节扫描

5、速度(1)将始波前沿对准零位,探头置于CSK-IIIA试块上,选定深度分别为30mm,60mm的横孔,先将探头对准深度d=30mm的横孔,探头前沿到试块边缘的距离定为100-L0,找到最高回波,用微调将其前沿调至水平刻度35处。用水平旋扭将回波前沿调至30处。(2)移动探头,将探头对准深度d=60mm的横孔,探头前沿到试块边缘的距离定为160-L0,找到最高回波,若此回波前沿所对的水平刻度值为y,应求出x=60-y。当x为0时,正好是水平1:1;当x为正时,用微调将回波向大读数移动到y+2|x|处;当x为负时,用微调将回波向小读数移动到y-2|x|处。(3)用水平将回波前沿调至水平刻度60处。

6、(4)再将探头对准深度d=30mm的横孔,探头前沿到试块边缘的距离定为100-L0,看反射波的位置是否正好在30处。如果是,调整完毕;如果不是,按上述方法重复调节。测距-波曲线: 探头对准d=10mm1x6,把增益旋扭调至最大,粗调衰减器调至20dB处,找到最高反射波,调微调衰减器,当回波靠近80%波高时,调增益,使其最大回波达到80%。然后固定增益,调衰减器,分别使d=20,30,60mm的1x6最高反射回波达到80%,记录相应的衰减器的读数于下表中,并作出相应的距离-波幅曲线。比如:深度(mm)102030601x6(dB)48423624加耦合补偿后1x6(dB)44383220判废线1

7、x6+5-4(含耦合补偿)(dB)49433725定量线1x6-6-4(含耦合补偿)(dB)38322614评定线1x6-9-4(含耦合补偿)(dB)35292311调探伤起始灵敏度: 固定增益,调衰减器,使读数对应d=60mm(d应略大于或等于2T)1x6的评定线值。如上表中,则将探伤起始灵敏度调至11dB。如果杂波太多,干扰了探伤,则可适当地减小探伤灵敏度。5.扫查探测探头分别置于焊缝的两测做锯齿形扫查,齿距不大于晶片尺寸,保持探头与焊缝中心线垂直的同时做10-15的摆动,探头前后移动的距离应大于2KT(例:K=2,T=20,则移动距离应大于2x2x20mm)。1找出缺陷最大反射波,用衰减器将最大反射波高降到80%,根据衰减器的读数及定量线确定缺陷的波幅,标记为SL dB。标记位置S20S1S焊缝中心线2根据荧光屏上缺陷反射的水平距离,在试板上量出缺陷的位置,标出缺陷到焊缝中心线的距离S,未到中心线的,标负;超过中心线的,标正。3增益6dB,将探头向两边移动,当波高分别降至80%时,为该缺陷的左右端点位置,记录该两端点到标记线的距离 S1 ,S2。则缺陷的指示长度L=S2-S1 .记下缺陷实际深度H=水平距离/2。4考试时判断缺陷只在一次波的范围内,即水平距离为2T的范围内。二次波的不管(或作为参考)!

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