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1、材料的介电常数和磁导率的测量(总5页)-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company Onel-CAL-本页仅作为文档封面，使用请直接删除无机材料的介电常数及磁导率的测定一、实验目的1. 掌握无机材料介电常数及磁导率的测试原理及测试方法。2. 学会使用Agilent4991A射频阻抗分析仪的各种功能及操作方法。3. 分析影响介电常数和磁导率的的因素。二、实验原理1. 介电性能介电材料(又称电介质)是一类具有电极化能力的功能材料，它是以正负 电荷重心不重合的电极化方式来传递和储存电的作用。极化指在外加电场作用 下，构成电介质材料的内部微观粒子，如原子，离子和分子这些微观粒子的正 负电
2、荷中心发生分离，并沿着外部电场的方向在一定的范围内做短距离移动， 从而形成偶极子的过程。极化现象和频率密切相关，在特定的的频率范围主要 有四种极化机制：电子极化(electronic polarization, 1015Hz),离子极化(ionic polarization, 1012 - 1013Hz)，转向极化(orientation polarization, 1011 1012Hz)和 空间电荷极化(space charge polarization, 103Hz)o这些极化的基本形式又分为位 移极化和松弛极化，位移极化是弹性的，不需要消耗时间，也无能量消耗，如 电子位移极化和离子位移
3、极化。而松弛极化与质点的热运动密切相关，极化的 建立需要消耗一定的时间，也通常伴随有能量的消耗，如电子松弛极化和离子 松弛极化。相对介电常数(时，简称为介电常数，是表征电介质材料介电性能的最 重要的基本参数，它反映了电介质材料在电场作用下的极化程度。的数值等 于以该材料为介质所作的电容器的电容量与以真空为介质所作的同样形状的电 容器的电容量之比值。表达式如下：式中C为含有电介质材料的电容器的电容量；c0为相同情况下真空电容器的电容量；A为电极极板面积；d为电极间距离；为真空介电常数，等于8.85x10-i2F/m。另外一个表征材料的介电性能的重要参数是介电损耗，一般用损耗角的正切（tanS）表
4、示。它是指材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效 应而引起的能量损耗。材料的介电常数和介电损耗取决于材料结构和极化机 理。除此之外，还与工作频率、环境温度、湿度有关。在交变电场作用下，材料的介电常数常用复介电常数表达：=，一花（2）式中8 和/都是与频率相关的量，二者的比值为tanstan 5 =一 = （3）88则介质电导率b=38 tan 5（4）式中为交变电压的角频率。8 tan5仅与介质有关，称为介质损耗因子， 其大小可以作为绝缘材料的判据。此外，还有一个表征介电材料耐压性能的物理量介电强度。当外加电 场强度逐渐增大，超过电介质材料所能承受的临界值时，电介质材料从介电状 态向
5、导电状态转变，这一临界电场强度即为介电强度。2. 磁导 率 （Magnetic Permeability）任何介质处于磁场中，均会使其所在空间的磁场发生变化，这种现象称为 磁化。在磁场强度为H0的外加磁场中，介质被磁化后会反过来影响所在的磁场，使其发生变化，即产生一个附加磁场H,此时介质所处磁场的总磁场强度H总为气-Ho + H（5）单位为安/米（A/m）。无外加磁场时，材料中原子固有磁矩的矢量总和为零，宏观上不呈现磁性。外加磁场时，物质被磁化，但是不改变其固有磁矩大小，只改变其取向。因此 物质的磁化程度可以用单位体积的磁矩大小来表示，即磁化强度M，其单位为 A/mM = m（6）V式中ZPm
6、表示体积为V磁介质中磁矩矢量和。M即上述的附加磁场，它与磁场 强度的关系为M = / H（7）式中X为单位体积的磁化率，量纲为1。通过垂直磁场方向单位面积的磁力线束称为磁感应强度，用B表示，其单位为T （特斯拉），它与磁场强度H的关系为B =七（H + M）（8）式中七=4nx10-7，单位为H/m（亨/米），称为真空磁导率。将式（7）代入式（5 ）代入可得：B = *（1 + /）H = *u H = .H（9）式中七为相对磁导率；四为物质磁导率，它反映磁感应强度B随外磁场强度H 变化的速率。通常使用的是磁介质的相对磁导率，其定义为物质磁导率与真空磁导率 %的比值，即：U = （ 10）0类
7、似的，在交变磁场中，相对磁导率是一个复数，即U=U，+W（）u表示在磁场作用下产生的磁化程度，反映材料对电磁波能量的存储能力； 叩表示外加磁场作用下材料磁偶矩重排引起的损耗，反映材料对电磁波产生损 u.耗的能力。磁性损耗介质对电磁波的衰减能力通常用损耗正切tan 5 =：来表 U示，其值越大，衰减能力越强。3. 阻抗分析仪测量介电常数和磁导率的原理本实验中使用的仪器是Agilent Technologies公司的生产的E4991A型射频 阻抗分析仪。它采用射频电流-电压（RF-IV ）测量技术，依据被测件终端电流 和电压来直接测量1MHz3GHz频率范围内的阻抗。通过测定的高精度的阻抗 值，自
8、动计算试样的介电常数或磁导率，可直接在显示器上读取结果。测量介 电常数时需将E4991A与夹具16453A配套使用，测量磁导率时需将E4991A与 夹具16454A配套使用。三. 实验仪器及试样制备1. 实验仪器仪器：Agilent4991A射频阻抗分析仪、16453A夹具、16454A夹具，见图1。规格：内置等效电路分析能对被测件的多元件模型进行计算，在扫描频率 范围1MHz-3GHz内方便的获取测试数据，彩色LCD/CRT可以同时显示多组测量曲线；先进的校正和补偿方法降低了测量误差。测量频率范围：1MHz3GHz,分辨率：1mHz ；震荡器水平：40dBm 1dBm，分辨率：0.1dBm
9、；输出 阻抗：50 ；直流偏压：。40 V,分辨率：1 mV ；直流偏流：100!iA50mA,- 100|iA-50mA，分辨率：0.01mA。图1 Agilent4991A射频阻抗分析仪2. 试样制备 环状试样：外环直径中外20.0mm，内环直径9 内3.1mm，厚度h8.5 mm ； 圆柱或块状试样：最大外径9 大15mm, 0.3mm厚度h3mm。四. 实验步骤1. 测试前准备：连接主机各种组件，包括电源线，键盘，鼠标，测试端头等，然后开机， 预热0.5h以上。2. 选择测试模式： E4991A 状态初始化：“system”Tpreset 设置测量模式：“Utility”T“Utili
10、ty”T“Material Option Menu”“MaterialType“选择测试参数：Permittivity （介电常数）/Permeability （磁导率）”3. 设置测试条件： 设置显示方式：“Display”Display Num of Traces : 3 Scalar 设置测试参数：“Meas/FormatMeas/FormatMeasParameterFormat:Lin Y-Axis 设置扫描参数：“StimulusSweep Setup/Parameter设置扫描点数（201）及 方式（Log） 设置振荡水平:“Stimulus“Source“Osc Unit选择电
11、流（磁导率）或电压 （介电常数） 设置扫描幅度:“Stimulus“Start/Stop “Start或“Stop”设置相应的频率范 围4. 校正测试端头（7mm端）： 校正准备:“Stimulus“Cal/Comp “Cal MeunUncal “CalType : Fixed Freq&Pwr 开路校正：“连接0S到7mm端”“Meas Open“Meas Open“逆时针卸 载0S 短路校正：“连接0Q到7mm端“Meas Short“Meas Short“逆时针卸 载0Q 负载校正：“连接 50Q 到 7mm 端”“Meas Load“Meas Loadt“逆时针卸载50Q 低损耗电容
12、校正:“连接低损耗电容到7mm端“Meas Low Loss C fMeas L-L”“逆时针卸载低损耗电容”“Done”屏幕底端状态Uncal 显示为Cal Fix，校正完毕。5. 补偿测试夹具：16453A的补偿： 将16453A连接到7mm端，输入标准负载厚度0.78mm : “Stimulus “Cal/ Comp“Cal Kit Meun“Thickness 选择夹具模式：“Stimulus”“Cal/Comp” “Fixture Type “16453A 选择校正的测试点类型：“Cal MeunUncalTCal Type: Fixed Freq&Pwr” 短路校正：调节释放/提升
13、按钮，使夹具上下电极接触，MeasShortTWMeas Short” 开路校正：调节释放/提升按钮，使夹具上下电极分开，Meas Open”- WMeasOpent” 负载校正：将标准负载置于上下电极之间，“Meas Load”-fMeasLoad”-“Done”确认屏幕底端状态栏中Uncal变为Cal Fix，校正完毕。16454A的补偿： 将16453A/16454A连接到7mm端 选择夹具模式：“Stimulus”Cal/Comp”TFixture Type” 选择“16454S 或 16454L” 补偿：“Stimulus”Cal/Comp”“Comp Meun”将样品托置于测量夹具
14、上Meas Open” “寸MeasOpent” ； “Meas Short”“寸Meas Short” ； “MeasLoad”“寸Meas Load” “Done”确认屏幕底端状态中Uncal变为Cal Fix，补偿完毕。6. 测试与保存： 测试准备：“Utility”“Utility”“Material Option Menu”“输入样品实际尺寸” 测试：安装试验试样，然后“Scale”“Autoscale all”，开始自动测试。 保存数据：“Save/Recall”“Save Data”“Asc II ”“File name”“OK” 关机：“开始菜单”“Shut down”关机并卸载测试夹具及测试端头等。六.实验内容和要求1. 教师现场介绍射频阻抗分析仪的原理及构造、演示操作过程及数据分析。2. 学生分组练习设备的操作，并记录分析实验试样的介电常数和磁导率。3. 将实验结果和分析及以下思考题的答案写在实验报告上。七.思考题1. 影响介电常数和磁导率的因素有哪些？2. 测试过程中需注意哪些事项？
