噪声测试规范

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1、测试规范英威腾电气股份有限公司实验室文件编码:INVT-LAB-GF-16版 本:V1.0密 级:机 密生效日期:2010.12页 数:14 页噪声测试规范拟 制: 韦启圣 _ 日 期:2010-10-30审 核: 董瑞勇 _ 日 期:2010-12-02批 准: 董瑞勇 _ 日 期:2010-12-02更 改 信 息 登 记 表文件名称:噪声测试规范文件编码:INVT-LAB-GF-16版本更改原因更改说明更改人更改时间V1.0拟制新规范韦启圣2010.10.30评审会签区:人员签名意见日期目 录1、目的42、范围43、定义44、引用标准65、测试设备66、测试环境条件67、噪声测试67.1

2、.被测设备的安装67.2.传声器位置的选择77.3.噪声测量118、验收准则13附录A:噪声测试数据记录表14噪声测试规范1、目的本规范给出一种现场简易法测定电气设备的发射声压级。用于检验我司产品发射的噪声是否满足标准或设计的要求。使用本规范测试方法其结果的准确度等级为3级(简易级)。2、范围本规范规定的噪声测试方法,适用于深圳市英威腾电气股份有限公司开发生产的所有电气产品。3、定义本规范采用以下定义。其它声学术语、量和单位按GB/T 3947和GB/T 3102.7的规定。3.1 发射 emission由确定声源(被测机器)辐射出空气声。3.2 发射声压(P) emission sound

3、pressure在一个反射平面上,按规定的安装和运行条件工作的声源附近指定位置的声压。它不包括背景噪声以及本测试方法所允许的反射面以外其他声反射的影响,单位Pa。3.3 发射声压级(LP)emission sound pressure level发射声压平方P2(t)与基准声压平方P02之比的以10为底的对数乘以10。采用GB/T 3785规定的时间计权和频率计权进行测量,单位dB。基准声压为20Pa。P2(t)表示声压有效值平方随时间变化。3.4 脉冲噪声指数(脉冲性) impulsive noise index (impulsiveness)该指标用以表征声源发射噪声的脉冲特性,单位dB。

4、3.5 一个反射面上方的自由场 free field over a reflecting plane被测机器所处的无限大、坚硬平面上方半空间内,各向同性均匀媒质中的声场。3.6 工作位置,操作者位置 work station, operators position被测机器附近,为操作者指定的位置。3.7 指定位置 specified position与机器有关的位置,包括但不限于操作者位置。该位置可以是单一固定点,或某一路径上若干点,或离机器规定距离的表面上的若干点。3.8 运行时段 operational period被测机器完成某一指定过程的时间间隔,3.9 运行周期 operationa

5、l cycle被测机器完成一个工作循环所需时间,其中各个运行时段按规定序列出现,每个运行时段都与一个特定过程相联系,而该特定过程在一个运行周期中可能只出现一次,也可能重复多次。3.10 测量时间 measurement time interval运行时间或运行周期的一部分或几倍。在这段时间内,测定发射声压级或得到最大发射声压级。3.11 时间历程 time history在运行周期的一个或多个运行时段中,得到作为时间函数的发射声压级的连续记录。3.12 背景噪声 background noise被测机器以外的所有声源的噪声。注1:背景噪声应包括空气声、结构声和仪器的电噪声。3.13 背景噪声级

6、 background noise level被测机器不工作情况下,测得的声压级,单位dB。3.14 背景噪声修正值(K1)background noise correction该修正值用以表示背景噪声对被测机器指定位置发射声压级的影响,K1与频率有关,单位dB。A计权情况下的修正项K1A由A计权的测量值得到。3.15 环境修正值(K2)environmental indicator该修正值用以表示声反射或声吸收对表面声压级的影响,K2与频率有关,单位dB。在A计权情况下用K2A表示。3.16 局部环境修正值(K3)local environmental correction该修正值用以表示反

7、射声对被测机器指定位置发射声压级的影响,单位dB。K3与频率和位置有关。在A计权情况下,用K3A表示。3.17 典型距离(a) typical distance从指定位置到机器最近的主要声源的距离。若机器主要声源不能确定,则选择从指定位置到机器最近部分的距离作为a。4、引用标准l GB 3102.7-1993 声学的量和单位(neq ISO 31-1:1992)l GB/T 3222-1994 声学 环境噪声测量方法(neq ISO 1996-1:1982)l GB/T 17248.3-1999 声学 机器和设备发射的噪声 工作位置和其它指定位置发射声压级的测量 现场简易法(eqv ISO 1

8、1202:1995)l GB/T 3768-1996 声学 声压法测定噪声源声功率级 反射面上方采用包络测量表面的简易法(eqv ISO 3746:1995)5、测试设备TES-1352A噪音计每次测量前后,应当采用精度优于0.3dB的94dB1KHz标准音源对噪音计进行校正。噪音计应当每年按照相关标准要求进行校验。在测试记录中填写最后检定有效期。6、测试环境条件l 温度:040l 相对湿度:45%75%l 气压:86106kPal 应当避免环境条件对测量仪器的影响,不应把噪音计置于强电、强磁场、强风位置、并避免被测设备空气放电对噪音计的冲击。l 在户外测量时,风速应该小于6 m/s,并使用防

9、风罩。l 测试环境还应满足7.3.6的测试环境鉴定要求7、噪声测试7.1. 被测设备的安装在许多情况下,被测机器的噪声发射与机器的支撑和安装条件有关。应尽量模拟产品说明书中的安装条件。若安装条件不具备或不能用于测试,要小心避免因测试使用的安装系统而引起机器辐射噪声的变化。并且采取措施设法减少设备安装结构的声辐射。基础支承安装和墙壁安装的机器应当放在反射平面上(声学硬表面,如地板或墙壁)。7.2. 传声器位置的选择本规范选择的测量表面为各边与基准体(被测机器)对应平行的矩形平行六面体形表面。传声器位置所在的测量表面,是一个面积为S,包络声源,各边平行于基准体的边,与基准体的距离d(测量距离,一般

10、取d= 1m)的一个假想表面。7.2.1 声源位于一个反射面上时传声器位置将测量表面的每一个面细分为尽可能小的等尺寸矩形单元面积,单元面积的最大边长为3d(见图Cl)。传声器位置位于每个单元面积的中心。图C2-C6中的传声器位置用这种方法得到。注2:大型被测设备顶部的位置可省略。7.2.2 地立设备靠一面墙放置,有四个传声器位置的平行六面体测量表面,如图C7所示7.2.3 地立设备靠两面墙放置,有三个传声器位置的平行六面体测量表面,如图C8所示7.3. 噪声测量7.3.1 测量被测声源典型工作周期的A计权声压级LPA1典型工作周期应包括但不限于以下工作状态:A) 启动过程B) 空载运行C) 满

11、载运行D) 限流状态E) 停机过程F) 制动状态测量方法:通过选择开关,将噪音计设定为A频率加权和慢速(SLOW)动态特性,并选择合适的档位(以不出现“UNDER”或“OVER”符号为准)。在声源工作的典型周期上观察A计权声压级,读取并记录每个传声器位置上的A计权声压级。7.3.2 测量单次事件声压级LPA1S单次事件噪声是指被测设备在工作过程中发出的瞬时单次噪音(例如大型开关闭合或断开时发出的噪声)。测量方法:通过选择开关,将噪音计设定为A频率加权和快速(FAST)动态特性;择合适的档位(以不出现“UNDER”或“OVER”符号为准);并按“MAX”功能键。测量单次事件噪音的最大发射声压级。

12、读取并记录单次事件声压级。7.3.3 测量背景噪声的A计权声压级LPA2背景噪声声压级用于确定背景噪声修正值K1。测量方法:通过选择开关,将噪音计设定为A频率加权和慢速(SLOW)动态特性,并选择合适的档位(以不出现“UNDER”或“OVER”符号为准)。读取并记录每个传声器位置上的A计权声压级。7.3.4背景噪声修正背景噪声修正值KlA用式(1)计算:K1A(dB) = 10lg(1 10-0.1LA) (式1)式中:LA = LPA1- LPA2若LA10dB,不需修正,若LA3dB,按本规范所做的测量有效。当LA在3dB与10dB之间,应根据式(1)加以修正。如果LA3dB,测量结果的准

13、确度就要降低。测量所能加的最大修正值是3dB。但这样的测量结果也可以报告。它可作为确定被测声源上限声压级的参考。报告时,应当在报告的正文和结果的图表中详细说明背景噪声没有满足本规范的要求。7.3.5测试环境修正环境修正K2A,来自于房间边界(墙、地板、天花板)或被测声源附近反射物声反射的影响。其大小主要由测量表面面积S和测试房间吸声面积A之比决定,与声源在测试房间内所处的位置没有重要关系。在本规范中环境修正值K2A由式(2)给出:K2A(dB) = 10lg1+4(S/A) (式2)式中:A1kHz频率上房间的等效吸声面积,m2;S测量表面面积,m2。环境修正作为A/S的函数如图C9所示。图C

14、9 环境修正K2A7.3.5.1 确定房间吸声面积A的近似方法:A = aSV (式3)式中:a 平均吸声系数,工业厂房一般取0.2;SV 测试房间边界总面积(墙、天花板、地板),m2。7.3.5.2 测量表面面积S:根据图C1-C6,测量表面的面积S由式(4)给出:S = 4(ab+ac+bc) (式4)a=0.5l1+d;b=0.5l2+d;c=l3+d 式中:l1 、l2 、l3分别是基准体的长、宽、高。被测设备安装在靠近一个以上的反射表面,其S的计算方法在图C7和图C8中给出。7.3.6测试环境的鉴定要求测试室中测量表面满足本规范要求时,吸声面积A与测量表面面积之比应当大于或等于1,即:A/S1

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