政府采购进口产品专家论证意见

上传人:汽*** 文档编号:512500346 上传时间:2023-01-13 格式:DOC 页数:18 大小:326KB
返回 下载 相关 举报
政府采购进口产品专家论证意见_第1页
第1页 / 共18页
政府采购进口产品专家论证意见_第2页
第2页 / 共18页
政府采购进口产品专家论证意见_第3页
第3页 / 共18页
政府采购进口产品专家论证意见_第4页
第4页 / 共18页
政府采购进口产品专家论证意见_第5页
第5页 / 共18页
点击查看更多>>
资源描述

《政府采购进口产品专家论证意见》由会员分享,可在线阅读,更多相关《政府采购进口产品专家论证意见(18页珍藏版)》请在金锄头文库上搜索。

1、政府采购进口产品专家论证意见一、基本情况申请单位郑州轻工业学院拟采购产品名称光谱采集分析系统拟采购产品金额采购项目所属项目名称学科建设采购项目所属项目金额二、申请理由 1.中国境内无法获取: 2.无法以合理的商业条件获取: 3.其他。原因阐述:光谱采集分析系统属于全自动、高精度、多功能信号探测处理设备,具有快速精确,灵敏度高探测性能,且具有较宽光谱范围,可实现适用于长时间积分,也适用于超快探测模式。因此即可用于诸如拉曼光谱、荧光光谱以及反射光谱等领域光谱分析也可用于快速变化过程的动力学研究。该设备适用于物理、光学、材料、及化学等领域,主要用于不同待测样品时其光谱的检测和采集,分析材料的特性,可

2、对郑州轻工业学院凝聚态物理学科的建设和发展起到重要的推动作用,同时也可为我校材化学院的博士点建设提供有力支持。目前省内高校均为购置成熟的成套光谱设备,如拉曼光谱仪、红外光谱仪等,不能根据科研需要改变相应的实验条件,如变温变压等。购买光谱仪组件根据需要自行搭建相关光谱测试系统,是目前科研设备发展的方向,也为创新性实验结果提供设备保障。目前国内生产的光谱采集探测系统精度较低,稳定性较差;国内生产的激光器寿命较短,性能不稳定,不能满足我校承担的国家级科研课题需要。满足相应指标的光谱采集探测系统无法从中国境内获取。特此申请购买该类进口设备。三、专家论证意见技术专家信息: 李良彬 中国科技大学 教授 1

3、3225691098技术专家意见: 光谱仪是光物理、光化学、生物物理和材料学交叉学科研究必不可少的强大工具,根据实验条件自行搭建光谱仪是一大亮点,国产光谱仪存在精度不高,性能不稳定的缺点,建议购买进口设备。技术专家信息: 方亚鹏 湖北工业大学 教授 15871385096技术专家意见:目前国产光谱仪的空间分辨率和光谱分辨率都不高,无法满足科研的需求,建议购买进口设备。技术专家信息: 梁二军 郑州大学 教授 13837126869技术专家意见:进口光谱仪可同时具备超高的成像质量和效率以及较好的灵活性,而国产仪器的精度、参数、性能均无法满足,建议购买进口设备。技术专家信息: 晁明举 郑州大学 教授

4、 13598866672技术专家意见: 进口光谱采集分析系统拥有先进的光学设计,分辨率较高,可满足从紫外到近红外范围内的高分辨率光谱采集,提供更多的科研数据,建议购买进口设备。法律专家信息: 曾俊伟 河南豫都律师事务所 律师 13014503118法律专家意见:此次申请购买进口设备符合我国相关政策规定,同时该光谱采集分析系统不属于限制进口产品,不违背国家产业政策,建议同意采购该类进口仪器。光谱采集分析系统仪器设备论证专家名单姓名单位技术职称联系电话(手机)备注李良彬中国科技大学教授13225691098技术专家方亚鹏湖北工业大学教授15871385096技术专家梁二军郑州大学教授1383712

5、6869技术专家晁明举郑州大学 教授13598866672技术专家曾俊伟河南豫都律师事务所律师13014503118法律专家光谱采集分析系统技术参数光谱采集分析系统光谱仪焦长320mm数值孔径f/4.6扫描范围0-1400nm线色散倒数2.38nm/mm波长精度0.2nm复位精度0.05nm步长0.005nm狭缝10m-3mm电脑接口USB光栅配备300、1200和1800刻线光栅,其CCD分辨率分别为0.304、0.07、0.042nmCCD探测器暗电流0.8读出噪声3 e- rms (typical), 4 e- rms (maximum)100kHz6 e- rms (typical),

6、 8 e- rms (maximum)2MHz工作温度-120-室温CCD分辨率1340 x 100像面大小26.8 x 2.0 mmADC速率50, 100, 200, 500 kHz and 1, 2, 4 MHz; 16 bits非线性度 1% 100 kHz垂直转移时间 6.67 msec/row (programmable)模拟增益1, 2, 4 e-/ADU (high sensitivity); 4, 8, 16 e-/ADU (high capacity)认证CE数据采集软件可安装于64位Windows操作系统,界面友好计算机CPUG2020 2.9GHz显卡独立2GB DDR

7、3显卡内存4GB DDR3硬盘1TB 7200转/分光驱DVD光驱显示器液晶 18.5英寸以上激光器1工作波长3755 nm峰值功率150mW工作模式连续功率稳定性1%光束发散角1 mrad光束直径3 x 5 mm激光器2工作波长7855 nm峰值功率200mW工作模式连续FWHM线宽0.3nm功率稳定性 93% 417 - 1100 nm直径25mm陷波滤波片中心波长785nm通光带宽350-1600nm陷波带宽39nmOD6光学平台规格2400*1200*800mm螺孔M6,阵距:25mm台板厚度200mm板面不锈钢表3政府采购进口产品专家论证意见一、基本情况申请单位郑州轻工业学院拟采购产

8、品名称正电子符合多普勒展宽谱仪测试系统拟采购产品金额采购项目所属项目名称学科建设采购项目所属项目金额二、申请理由 1.中国境内无法获取: 2.无法以合理的商业条件获取: 3.其他。原因阐述:正电子湮没谱对固体中原子尺度的缺陷研究和微结构变化十分敏感,是其他手段无法比拟的。作为电子的反粒子,正电子容易鉴别,又能形成电子偶素,可以替代电子探针来获得材料中更多的信息,已成为一种研究物质微观结构的新手段。我校已采购正电子寿命谱仪,正电子符合多普勒展宽谱仪与正电子寿命谱仪的结合不仅能为凝聚态物理学科的提供重要的设备支撑,同时可以更好地为物理化学、材料、生物等科研领域提供特色鲜明的实验测试手段,提升我校学

9、科的学术水平。我校本次申请采购的美国ORTEC公司生产的正电子符合多普勒展宽谱仪测试系统性能优良,且目前世界上只有美国ORTEC一家公司生产,该产品已在武汉大学,中国科技大学,中科院高能物理研究所,中科院金属研究所,广西大学等单位使用,反应良好。国内无此类产品及生产厂家。正电子符合多普勒展宽谱仪测试系统的引进,将使我校成为中原地区唯一一所拥有完备正电子湮没技术的高等院校。该设备的引进可以加强与国内一流大学、科研院所之间的交流与合作,有利于学科人才的引进与培养,有利于促进学科的建设与发展。结合正电子技术对金属、半导体材料检测优势,可以与企业联合实现产学研的有效结合,促进科研成果的转化。 无该设备

10、将直接影响我校材料物理相关科研工作的进展,急需购置。三、专家论证意见技术专家信息:陈志权 武汉大学物理科学与技术学院 教授 13986130578技术专家意见:正电子技术已成为一种研究物质微观结构的新手段。贵校已采购正电子寿命谱仪,符合多普勒展宽谱仪与正电子寿命谱仪一起组成正电子测试系统,丰富测试内容,更全面的开展正电子技术研究工作,提升贵校学科的学术水平。由于目前国内无该类产品的生产厂家,世界上只有美国ORTEC一家公司生产。因此该套设备只能从国外进口。技术专家信息:吴奕初 武汉大学物理科学与技术学院 教授 18971627720技术专家意见:符合多普勒展宽能谱测量是除寿命谱测量之外用的比较

11、多的实验手段。它主要反映了电子的动量分布,还可以反映价电子和芯电子处的缺陷信息,与寿命谱测试手段一起能更全面的测试固体材料内部的缺陷信息。多普勒展宽谱仪测试系统的引进,有利于促进学科的建设与发展。目前国内无相关类似产品生产厂家,只能从国外进口。技术专家信息:常方高 河南师范大学物理与信息工程学院 教授13782512771 技术专家意见:符合多普勒展宽谱仪与正电子寿命谱仪的结合可以保证同时测量正电子寿命和湮没g多普勒展宽能谱信息,能更全面的反映正电子与不同动量电子发生湮没的寿命关系结合正电子技术对金属、半导体材料检测优势,可以与企业联合实现产学研的有效结合,促进科研成果的转化。目前世界上只有美

12、国ORTEC一家公司生产,该套设备只能从国外进口。技术专家信息:李平林 郑州大学物理工程学院 教授 18339813996技术专家意见:利用正电子寿命谱仪与符合多普勒展宽谱仪同时测量正电子寿命和湮没g多普勒展宽能谱信息,反映正电子与不同动量电子发生湮没的寿命关系,对研究电子偶素在材料中形成、热化过程以及正电子素化学等十分重要。符合多普勒展宽谱仪与正电子寿命谱仪的结合不仅能为凝聚态物理学科的提供重要的设备支撑,同时可以更好地为物理化学、材料、生物等科研领域提供特色鲜明的实验测试手段。目前该设备只有美国ORTEC一家公司生产,只能从国外进口。法律专家信息:曾俊伟 河南豫都律师事务所 律师 1301

13、4503118 法律专家意见:此次申请购买进口设备符合我国相关政策规定,同时该符合多普勒展宽谱仪不属于限制进口产品,不违背国家产业政策,建议同意采购该类进口仪器。正电子符合多普勒展宽谱仪仪器设备论证专家名单姓名单位技术职称联系电话(手机)备注陈志权武汉大学物理科学与技术学院教授13986130578技术专家吴奕初武汉大学物理科学与技术学院教授18971627720技术专家常方高河南师范大学物理与信息工程学院教授13782512771技术专家李平林郑州大学物理工程学院教授18339813996技术专家曾俊伟河南豫都律师事务所律师13014503118法律专家正电子符合多普勒展宽谱仪测试系统技术参

14、数及要求技术要求1. 主要用途主要用于高分子材料缺陷、微观物质结构、微观电子动量信息的研究。2. 需求总则2.1 实时、形象、真实地反映情况2.2 运行稳定、维护及时快捷2.3 系统操作简便、直观、有较好的人机操作界面2.4 支持数据的接入、传输、存储、分析3. 主要配置3.1、BaF2探测器2个3.2、放大器 1个3.3、多参数测量板卡 1个3.4、660双路探测器偏压 1个3.5、4001A/4002D NIM机箱和160W电源 (提供 6 V, 12 V, 24 V) 1个3.6、551时间单道分析器 2个3.7、GEM25P4-PL 高纯锗探测器 2个3.8、CFG-PH4 水平冷指 2个3.9、DWR-30

展开阅读全文
相关资源
相关搜索

当前位置:首页 > 大杂烩/其它

电脑版 |金锄头文库版权所有
经营许可证:蜀ICP备13022795号 | 川公网安备 51140202000112号