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1、输入失调电压(VIO)是电压 一个重要的电性能参数， 将其定义为使输出电压为比较器(以下简称比较器)GB/T 6798 1996 中,规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压。传统测试设备大都采用被测器件(DUT，Device Under Test)辅助运放”的测试模式，测试原理图见图1。在辅助运放A的作用下，整个系统构成稳定的闭环网络，从而使VD=0，则VC = -VS1R1/ R2这样，调节外加电源VS1即可控制DUT的输出。当VC等于规定电压时,VIO = VA 一 VB通过测量辅助运放A的输出电压VE，便可换算出VIO。在上述的闭环回路中，DUT工作状态与普通运算放大器无异，这种测试的好
2、处是可以通过外加电源 VS1，方便地将DUT的输出钳位在规定值，同时由于VIO多为毫伏级，而将VIO放大至伏特级进行测试, 对测试设备的要求不高，但受干扰信号影响较大。美国Credence公司研制的IC测试设备ASL-1000，配置为DVI_300二块，ACS、TMU、DOAL、 MUX各一块，而比较器与运算放大器在输出特性上的差异以及运放测试回路DOAL(Dual Op Amp Loop) 的电路特点，决定了比较器在ASL-1000上的测试，不能象测试运放那样，利用DOAL形成一个闭环网络, 来实现DUT的输出嵌位。所以，用两块Force和Measure源dvi_9、dvi_11，辅之以do
3、al_8的部分 资源，构成了 VIO的开环测试电路，图2为LM311(单比较器)VIO的测试原理图。与闭环网络不同，这样的开环测试电路无法将DUT的输出电压Vout钳位于任意的规定值，因此采取 了逐次逼近测试法，dvi_9_channel_0和dvi_11_channel_0被用做给DUT提供工作电源，前者同 时给上拉电阻R1供电，显然如果不提供R1, DUT的Vout不可能逼近规定的1.4V。dvi_11_channel_1 对DUT同向端施加电压，初始值为12mV，由于反向端接地，正常情况下，在DUT输出端测量Vout的 dvi_9_channel_1测值应大于1.4V,然后按一定的步进减
4、小同向端电压，一旦Vout从大于1.4V跃 变到小于或等于1.4V,即Vout无限接近于1.4V时，便可认定此时施加在同向端的电压为目标测值VIO。 极端情况下，Vout的初始测值就不大于1.4V或始终大于1.4V,则可置VIO=999.9999mV，判定该芯 片损坏”。以下是在ASL-1000上自行开发的LM311的VI0测试程序Vio_2.cpp。#include asl.h#pragma warning (disable:4244)#include Vio_2.hvoid Vio_2_user_init(test_function&func)Vio_2_params *ours;ours
5、=(Vio_2_params*)func.params;void Vio_2(test_function&func)Vio_2_params *ours;ours=(Vio_2_params*)func.params;float measured_V,Vadj,V,Vio;int i;board_hardware_init();oal_8-open_relay(HV_BUF_CONN);oal_8-open_relay(LOAD_REF_GND);oal_8-close_relay(CONNECT_LOADS);oal_8-close_relay(LOAD_REF_EXT);oal_8-clo
6、se_relay(LOAD_600);dvi_9-set_current(DVI_CHANNEL_0,0.2);dvi_11-set_current(DVI_CHANNEL_0,0.2);dvi_9-set_voltage(DVI_CHANNEL_0,15); /VCCdvi_11-set_voltage(DVI_CHANNEL_0, -15); /GNDdelay(1);oal_8-close_relay(DUT_OUT_OUT);dvi_9-set_voltage_range(DVI_CHANNEL_1,POSITIVE_V_OUT,VOLT_20_RANGE, FAST_VOLTAGE_
7、MODE); /set measure rangedvi_9-set_current(DVI_CHANNEL_1,1.0e-6);dvi_9-set_meas_mode(DVI_CHANNEL_1,DVI_MEASURE_VOLTAGE);func.dlog-power=POWER_MILLI;Vadj=0.0;V=0.0120;for(i=0; iset_voltage(DVI_CHANNEL_1,V);dvi_11-set_current(DVI_CHANNEL_1,1.0e-3);delay(1);measured_V=dvi_9-measure();if (measured_V1.40
8、00) V=V+Vadj;else i=40;if (Vio=0.0120)|(measured_V1.4000) Vio=0.9999999;else Vio=V;do_dlog(func,0,Vio,ours-fail_bin,);board_hardware_init();上述电压比较器VIO的开环测试，实现了由间接测试向直接测试的转化，适当减小步进(测试时间 延长)可提高测试的分辨率，但却将ASL-1OOO配置中所有的Force和Measure资源全部用完，因而在测试 双比较器和四比较器时，将器件所有输入和输出端接至mux_20，通过ASL-1000的内部继电器矩阵切换, 完成了各通道的串行测试。
