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1、统计技术模拟题一、单选题1、 通过在被关注特性与潜在影响因素之间建立模型来研究其相互之间因果关系的统计技术称为（D）（A）实验设计 （B）假设检验（C）测量分析 （D）回归分析; 2、 计数型抽样方案是用（ B）对批作出判断。a）样本中含有的合格品数 b）样本中含有的不合格品数或不合格数c）样本中含有的不合格品数或合格数 d）批质量水平3、在抽样检验中，不合格是指（b ）a）有一个或一个以上不合格的单位产品b）指单位产品的任何一个质量特性未满足规定要求c）指单位产品的某一质量特性未满足要求d）指所有不合格的产品 & d3 h7 T: y4 % k, 4 x4、 是研究成对出现的两组数据之间关系
2、的图示技术，帮助分析两个变量之间的关系。(B) A.直方图B.散布图C.趋势图D.排列图5、代表的是(C) A.正态总体均值，表示数据分布的中心位置B.数据的平均值C.正态总体标准差，表示数据分布的离散程度 D.数据的极差6、 是通过一段时间内所关心的特性值形成的图，来观察其随着时间变化的表现。(C) a. 直方图b. 散布图c. 趋势图d. 排列图7、 以下 是正确的：a. CpCpk b. CpCpkc. CpCpk d. CpCpk6 (答案 Cpk=（1-K）Cp，K是偏移量，介于01之间。)8、 GB/T2828.1-2003标准中，AQL是 (B)a. 过程水平 b. 接收质量限c
3、. 检验水平d. 抽样方案9、 以下 也称为运行图。(C)a. 直方图 b. 散布图c. 趋势图d. SPC图10、 SPC图是 (C) a. 是用一系列等宽不等高的长方形不间断地排列在一起的图形，用以描绘所关心的特性值的分布。b. 是研究成对出现的两组数据之间关系的图示技术，帮助分析两个变量之间的关系。c. 是将从过程定期收集的样本所获得的数据按顺序点绘而成的图。d. 是通过一段时间内所关心的特性值形成的图，来观察其随着时间变化的表现。二.多选题：1、在ISO/TR 10017:2003中，很多统计技术都直接或间接地引用了假设检验，例如（ABCD）。（A） 抽样 （B） SPC图（C） 实验
4、设计（D） 测量分析2、在ISO/TR 10017:2003中涉及到的统计技术有（ ABCD）： （A）描述统计 （B） 假设检验（C） 测量分析（D）可靠性分析3、如果所控制对象只有合格与不合格品两种结果，则可以采用（BC ）a）x控制图b）np控制图 c）p控制图 d）u控制图4、 GB/T2828.1-2003标准是（BC ）a.计量抽样方案 b. 调整型抽样方案c. 计数型抽样方案 d. 非调整型抽样方案5、直方图是（AC ）。（A）描述性统计技术方法（B）研究成对出现的两组数据之间关系的图示技术（C）用一系列等宽不等高的长方形不间断地排列在一起的图形，用以描绘所关心的特性值的分布（D
5、）通过一段时间内所关心的特性值形成的图来观察其随着时间变化的表现二、简答题1、GB/T28281-2003标准中规定了哪几种抽样方案。当上述抽样方案均可同时使用时，应依据哪些条件决定使用哪种抽样方案？答：规定了一次抽样方案、二次抽样方案和多次抽样方案；当上述抽样方案均可同时使用时，可通过对比这些方案的平均样本量与管理上难易程度来决定使用哪些方案。2、 简述过程能力分析的概念及CP和CPK的含义。答：过程能力分析就是检查过程的固有变异和分布，从而估计其产生符合规范所允许变差范围的输出的能力；CP即整个容差除以6的比值，它是在规范上下限之间具有良好中心定位的过程的理论能力的测度；CPK的含义：它描
6、述了可能中心定位或示能中心定位的过程的实际能力。过程能力分析的用途：过程能力来评价过程连续产生符合规范的输出的能力，并估计预期的不合格产品的数量；适用于评价过程的任何一部分（如某一特定机器）的能力。GB2828学习试题一单选题1、所使用的样本量和有关批接收准则的组合是(A)A 抽样方案B 抽样计划C 抽样检验D 抽样系统2、不满足预期的使用要求是指(C)A 不合格 B 不符合C 缺陷 D 不合格品3.检验的开始，除非负责部门另有指示，开始检验时应（C）A 视产品多少决定B 视精度要求决定 C 采用正常检验 D 从加严开始: 4.使用二次或多次抽样时，每个后继的样本应从(D)A 全部产品中抽 B
7、 全部样品中抽C 从新生产的批中抽 D 同一批的剩余部分中抽选5.抽取样本的时间（D）A主要是在生产的前期 B主要是在生产后期C从库存品中 D样本可在批生产出来以后或在批生产期间抽取: 6.应按(A)抽样从批中抽取作为样本的产品, A 简单随机 B 精选良品 C 随便选取 D 方便处选取E当正在采用加严检验时，如果初次检验的接连( A)已被认为是可接收的，应恢复正常检验 A 5批 B2批 C3批D6批当正在采用正常检验时，只要初次检验中连续( A)批是不可接收的，则转移到加严检验:A 5 批或少于 5 批中有2 B 5 批或少于 5 批中有3C 6批或少于 6批中有2 D 6批或少于 6批中有
8、3二多选当正在采用正常检验时，如果下列各条件均满足，应转移到放宽检验：()当前的转移得分至少是 30 分；, W M$ R+ r) Z4 : u h生产稳定；负责部门认为放宽检验可取;客户有要求时统计分析类试题一。选择题:1。（单项）通过在被关注特性与潜在影响因素之间建立模型来研究其相互之间因果关系的统计技术称为( )A)实验设计 B)假设检验C)测量分析 D)回归分析( 8 B: H1 P$ f+ P u! a K, S0 j% Q本题主要考点为ISO10017有关统计有关的概念，答案：为D）回归分析9 k) |# wb! M, m5 h( T K2。（多选）按接收质量限(AQL)检索的逐批
9、检验抽样计划可用于(但不限于)下述检验（）：A）.维修操作 B）数据或记录；C）管理程序 D）管理体系;本题考点为GB2828有关计数型抽样检验的相关概念，答案：A）、B）、C）9 h- b6 m7 v; ?; H4 x& a3。（多选）在ISO/TR 10017:2003中，很多统计技术都直接或间接地引用了假设检验，例如（ ACD）。+ F. B+ j( |1 2 t, p& F（A） 抽样（B） SPC图（C） 实验设计（D) 测量分析4 y) c2 y) v: p& C1 ?. b J H4。 （多选）在ISO/TR 10017:2003中涉及到的统计技术有（ ABCD）：: # N:
10、G6 j4 a1 re6 LM（A）描述统计（B） 假设检验（C） 测量分析（D）可靠性分析% W4 c$ Y; Z: y7 l3 6 f1 s) P5。（多选）属于描述统计的有（ABCD）a$ y/ i* . , eA运行图 B概率图 C 直方图 D散点图二。判断题:3 f$ j, I0 Is) G# a9 C( e1 散点图，有助于评估两个变量之间的关系（）2 直方图，刻画所关注特性的值的分布情况。（）3 之所以使用统计技术是因为它们的应用可以帮助组织提高质量管理体系的绩效。（）5 By1 C/ w+ v8 V: q! V/ h# E- ?一.单选题% Ii4 a- 6 d1、以下分别用来
11、表示分布的中心位置和散布的大小的特征值是（A）。A均值、方差 B方差、均值C标准差、均值D方差、标准差6 i9 d; M* k xx2、改变直方图的形状可用（C）方法。A精确制图 B改变组距 C数据变换 D组限变换3、（A）检验是根据被检样本中的不合格产品数，推断整批产品的接收与否。A计件抽样 B计点抽样 C计数抽样 D计量抽样+ S$ p- q% |1 _$ x4、（D）检验是通过测量被检样本中的产品质量特性的具体数值并与标准进行比较，进而推断整批产品的接收与否。. t& H! t. B$ U/ WA计件抽样 B计点抽样 C计数抽样 D计量抽样5、批量指检验批中单位产品的数量，常用符号（B）
12、来表示。AM BN CA DY6、GB/T2828.1中规定了（C）三种抽样方案类型。4 2 n a8 c; n2 ) GA一次、二次、三次 B一次、二次、四次+ G r! r L2 R1 j6 n! A6 c- % m/ D( WC一次、二次、五次 D一次、二次、三次7、计数调整型抽样检验标准中重要的经济指标是（A）。+ k q. Y; Y M9 dA平均样本量: （ASN）计数调整型抽样检验标准中重要的经济指标 o- R2 P/ U. T) Sr, wB平均检出质量上限(AOQL)控制它，保证多数批的质量) O( N/ q$ r/ i9 G z9 b gC批容许不合格率: （LTPD）是孤
13、立批抽样检验的重要参数，严格控制就能起到保护使用方的作用）控制它保证每批的质量1 E; u, s5 F: l* xD平均检验总数: （(ATI)计数挑选型抽样检验中的重要指标，是衡量技术挑选型抽样方案的一个尺度)8、计数型抽样方案是用（B）对批作出判断。A样本中含有的合格品数B样本中含有的不合格品数或不合格数7 G8 G3 J6 wZ0 K( r7 8 C样本中含有的不合格品数或合格数! : v6 v4 f I0 fD批质量水平4 M3 Y1 Q. r, F1 A0 q- m1 a9、在GB/T2828.1中，以不合格品百分数表示质量水平时，AQL的范围是（B）。 5 Xd9 L0 A1.0100 B0.0110 C0.01100 D0.110002 u. / 3 y8 7 l# H5 P+ h& 10、世界上第一张控制图是（B）提出的不合格品率控制图。* M( B6 % U5 mA朱兰 B休哈特 C戴明 D道奇4 |; S/ |0 J* m5 e 11、若对检验费用高的产品进行控制，最宜选取的控制图为（B）。6 x8 V4 ( # C% d& E5 iA -R控制图 BX-Rs控制图 Cp控制图 Dc控制图0 |9 J8 H6 J6 kR) e, z; z12、（A）控制图多用于现场需要把测定数据直接记入控制图进行控制的场合。AMe-R BR C -R
