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1、实验一 集成门电路逻辑功能的测试一、 实验目的1. 熟悉数字电路实验的结构、基本功能和使用方法2. 掌握集成门电路逻辑功能的测试方法3. 掌握非门、与非门、或非门等门电路的逻辑功能4. 掌握门电路的逻辑变换二、 实验原理三、 实验设备与器件1. 数字电路实验箱2. 74LS04（CC4069）六反向器74LS00(CC4011)四2输入与非门或74LS20（CC4012）双4输入与非门74LS02(CC4001)四2输入或非门四、 实验内容及步骤1. 测试六反相器74LS04的逻辑功能实验前先检查实验箱电源是否正常（请先不要接通），然后在合适的位置选取一个14p芯片座，将实验用集成芯片（74L
2、S04）正确插入芯片座。14脚接+5V直流电源输出插口，7脚接地插口；输入端接逻辑电平开关输出插口（逻辑电平开关用于提供逻辑高低电平，开关往上拔时，对应的输出插孔输出逻辑“1”，开关往下拔时，输出逻辑“0”）。输出端接逻辑电平显示器的输入插口（逻辑电平显示器由发光二极管LED组成，用于测试电路逻辑电平的高低，LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”）。特别注意Vcc及地线不能接错。接好线后经指导教师检查无误后方可通电。实验过程中改动接线必须先断开电源，接好线后再通电实验。按表1-1要求按动逻辑电平开关（输入高、低电平信号），测出相应的输出逻辑电平。表1-11A1Y2A2Y3A3Y4A4Y5A5Y
3、6A6Y0101010101011010101010102. 测试四2输入与非门74LS00或双4输入与非门74LS20的逻辑功能测试方法及步骤同实验1.按表1-2或表1-3，测出相应的输出逻辑电平。表1-21A 1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y0 01001001001011011011011101101101101110110110110表1-3AB C D Y1111001111 1011111011111013. 测试四2输入或非门74LS02的逻辑功能测试方法及步骤同实验1.按表1-4，测出相应的输出逻辑电平。表1-41A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y001001001001010010010010100100100100110110110110尽管COMS集成芯片内部结构与TTL不同，但它们的逻辑功能完全一样，测试方法也完全相同。4. 集成门电路的逻辑变换（1） 用一片74LS00构成或非门Y1变换好后，测试方法及步骤同实验1.按表1-5，测出相应的输出逻辑电平。（2） 用一片74LS00构成异或门Y2变换好后，测试方法及步骤同实验1。按表1-5，测出相应的输出逻辑电平。表1-5输入输出ABY1Y20000011110111110
