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1、参数扫描分析o a oxS概述：在基本电路特性分析中，每个元器 件的参数都取确定值，而在参数扫描和统 计分析中，将考虑由于参数变化引起的电路 特性变化情况。因此具有卞述两个特点：(1) 这种分析一定与某种基本电路特性 分析结合在一起进行。(2) 分析过程中对变化参数的每一个取 值都要进行一次基本特性分析，整个过程 涉及多次电路特性分析。参数扫描分析和统计分析从不冋角度考虑参数变化的影响，产生了 4种分 析类型。0 y温度扫描分析(Temperature Sweep)ey参数扫描分析(Parametric Analysis)o n o U1 蒙托卡诺分析(MC:Monte-Carlo Analy
2、sis)E mX-OQEUA1 最坏情况分析(WC:Worst-Case Analysis)20102010温度的影响参数变化的影响 参数统计变化对电路特性影响 的两种统计分析技术模拟类型分组及每组包含的功能温度扫描分析(Temperature SWe电阻阻值以及晶体管的许多模 型参数值与温度的关系非常密 切。如果改变温度，必然通过 这些元器件参数值的变化导致 电路特性的变化。so o o hS只需指定在哪几个温度下分析电路的哪种基本特PSpice 中的各个元器件模型都 考虑了模型参数与温度的关 系。进行电路特性分析时，PSpice 的内定温度为 27 摄氏 度。201温度扫描分析 (Temp
3、erature Sweep)例：差分对电路的交流小信号温度特性在每一个温度下，首先按元器 件模型计算该温度下电路中的 元器件参数值，然后进行指定 的电路特性分析。思考题o a oxS“以温度为变量进行DC分析”与“在以电压源作为变量进行 DC分析的基础上再进行温度扫描”的结果有什么区别？201参数扫描分析aiTametric SWeep1参数扫描分析的含义：分析电路中某某些参数变化引起电路C TRA这种基本特性的变化情况。其分析参数设置形式与析相。e r e e o l C uMo a o d o X h xS201温度分析是在不同温度下分析 电路特性的变化，具体地说是 在用户指定的每个温度下
4、均进 行一次电路基本特性分析。参数扫描分析的作用类似，对 指定的每个参数变化值，均执 行一次电路分析，不过在参数 扫描分析中，可变化的参数从 温度一种扩展为独立电压源， 独立电流源，温度，模型参数 和全局参数。温度分析的任务 也可以通过参数扫描分析来完 成。参数扫描分析在电路优化设计 方面有重要的作用，将其与 Probe 的电路设计性能分析功能结合在一起，可用于优化确 定元器件参数设计值。DC 分析是一种关于电路直流 偏置状态的基本电路特性分 析，而参数扫描分析是使电路 中的某一参数发生变化，然后 对每一个变化值重复进行基本 电路特性分析，也可以包括 DC 分析，因此，不能将同一个参 数既指定
5、为参数扫描分析中的 变化参数，同时又指定为 DC 分析中的自变量或参变量。参数扫描分析(Parametric Sweep)例：同时改变电阻RC1和RC2的阻值，差分对电路 的频率特性将如何变化？|D|x|21Capture - / - (Eiuple :Elie EUJ 2d _IJtTlA I 一一TI一三亘ZJ一.一卜一 .J二一-I一-，亠，二参数扫描分析(Parametric Sweep)1 Global parameter (全局参数)的含义与设置参数扫描分析中，若采用PARAMETERS符号设置参数，同时考虑多 个元器件的参数变化对电路特性的影响，这种参数称为全局参数。参数扫描分析
6、设置步骤(以差分对电路中RC1和RC2同时变化为(1)将两个电阻值改为带有大括号的参数例如Rval。(2)在电路中放置一个名称为PARAM的符号。连击该符号，调出元器 件参数编辑器，按New按钮，新增设一项属性参数Rval(必须与上述 参数名称相同)，并将其值设置为一个值，例如10k,作为进行其他电路特性分析是该参数的取值。PARAM 位于 Specail 库中。 在电路分析中，参数 Rval 的取 值将决定电路中每个Rval的 数值，因此称为全局参数。o a oxSA参数扫描结果直观地显示了频率响应与电阻RC1、RC2的关系。A设计人员可能更希望得到电路特性(例如增益)随电阻的变化 情况20
7、10电路性能分析概述S电路性能分析的步骤(方法1) 电路性能分析的步骤(方法2) 电路性能分析的步骤(方法3)2010-概述s c为了改进电路设计，往往需要知道电路特性值随电路 中关键元器件值的变化关系，由此选定最佳的元器件 值，实现电路的优化设计。针对电路设计中的这一要求，电路模拟软件0 rCAD/oyPSpice9中提供有电路性能分析(Performance Analysis )功e e能，可以从电路分析得到的节点电压和支路电流数据自o V M U o a动提取出电路特性参数，进而定量分析电路特性随元器件值的变化关系。o a oxS进行电路性能分析涉及的几个问题(1)确定变化的元器件参数。
8、2010(2) 确定电路模拟分析的类型。(3) 调用Goal Function并指定相应参数。(4) 显示电路特性分析结果。其中(1)和(2)由参数扫描分析完成；(3)和(4)由Probe完成。-,电路性能分析的步骤(方法1)(1)绘制电路图，设置变化的元器件参数。(2)进行基本特性分析。s(3)设置参数变化范围，进行参数扫描分析。0y(4)确定参与电路特性分析的数据批次，进入Probe。on说明：以上3步为通常的电路分析和波形显示步骤mU(5)选择Trace/Performance Analysis命令，启动电0 X路特性分析。0 XS(6)跟随电路特性分析向导Wizard完成电路特性分析。
9、(7)显示电路特性分析结果。(8)对结果进行分析。2010电路性能分析的步骤(方法1)(结合实例：RC电路上升时间与电阻关系的分析)(1)绘制电路图，设置变化的元器件参数。nadX(2)进行基本特性分析简单 RC 充放电电路的上升时 间和下降时间直接与电路中的 电阻阻值成正比。下面用电路 性能分析的方法定量计算他们 之间的变化关系。2010电路性能分析的步骤(方法1)(3)设置参数变化范围，进行参数扫描分析。电路性能分析的步骤（方法1）（4）确定参与电路特性分析的数据批次2010电路性能分析的步骤（方法1）（5）选择 Trace/Performance Analysis 命令，启动 电路特性分
10、析。底 SCHEMATIC-TRAN - PSpice A/D - TRAN (active)荃File Edit View Simulation |p-ace Plot Tools Window Help 蛊Iffl xlInsertCtrl+DeleteUndelete TracesCtrl+UCursorMacros.Performanee Analysis.100nsfc FourierQ Add Trace.Delete All TracesMeasureme nts. 坯 Evaluate Measurement.Create a performanc Time= 400.0E-0
11、9100%3 圍翻400ns电路性能分析的步骤（方法1）注释数据批次自变量坐标轴E使用说明按命令按钮-电路性能分析的步骤（方法1）|a2010电路性能分析的步骤（方法1）跟随电路特性分析向导Wizard完成电路特性分析Step 2:选择特征值函数电路性能分析的步骤（方法跟随电路特性分析向导Wizard完成电路特性分析Step 1:进入电路特性分析向导Wizard工作状态Performance Analysis Wizard - Step 1 oF4Welcome to the Performance Analysis Wizard. It will help you create a Perf
12、ormance Analysis trace, by helping you choose a Measurement, and test that Measurement on one of the traces you want to characterize.Choosing Finish now will take you directly into Performanee Analysis, where you will need to use T race/Add to manually add your Measurement, or expression of Measurements, (o create the Performance Analysis T race.It HelpICancelFinishntAEyhu nab-x（6跟随电路特性分析W导ar完成电路特性分析Step 3设置特征值函数的自变量Performance Analysis Wizard - Step 3 of 4Measurement Expression| R isetime_N oO vershoot()Now you need to fill in the Measurement arguments. That is, yo
