金属材料的英文词汇

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1、加热炉 heating furnace, reheating furnace 火焰炉 flame furnace 环形炉 circular rotating furnace 退火炉 annealing furnace, annealer 真空退火炉 vacuum annealing furnace 连续酸洗机组 pickle line processor:带钢不间断地通过几个酸性槽进行酸性。 轧辊 roll 挤压辊 extrusion roll 辊道 roll table 延伸辊道 extension roller table 芯棒 mandrel 卫板 guard 导板 guide 带卷箱

2、coil box 活套 loop 2.1.3 组织性能与测试 穿晶断裂 transgranular fracture:穿过多晶体材料的晶体内部发生的断裂。 晶间断裂 intergranular fracture:沿着晶粒界间发生的断裂。 解理断裂 cleavage fracture:沿着给定的晶面解理面发生的断裂(是穿晶断裂的方式之一)。 剪切断裂 shear fracture:沿着最大剪应力的作用面发生的断裂。 疲劳断裂 fatigue fracture:在低于材料的屈服强度的反复或交变应力作用下发生的断裂。 延迟断裂 delayed fracture:金属遭受本不足以直接引起断裂的静应力但

3、经过一段时间却发生了断裂。 断口 fracture surface:金属件的断裂面或破裂面。 断口形貌学 fractography 杯锥断口 cup cone fracture:圆柱形拉伸试件于延性断裂(韧性断裂)后,一侧的断口呈杯状,另一侧的断口呈锥状,两者合称杯锥断口。 丝状断口 silky fracture:表面光滑、有丝绸光泽的极细晶粒断口。 纤维状断口 fibrous fracture:金属或合金的延性足够大,在断裂前晶粒被拉长了从而总体看上去象许多纤维的断口。 层状断口 lamination fracture:所含非金属夹杂物在轧制过程中被延展成薄层的金属材料垂直于轧制面的断口。

4、贝壳状断口 conchoidal fracture:由许多同心圆圈组成的、好象贝壳状的断口。 金相学 metallography:研究金属和合金的内部组织的学科。其主要内容是借助于金相显微镜和电子显微镜研究金属及合金的内部组织以及化学成分、凝固条件、形变加工、焊接和热处理等等所引起的内部组织的变化和由之引起的性能的变化。 金相检查 metallographic examination:用金相方法对金属或合金的宏观组织和显微组织进行的分析、研究或检验。 光学显微镜 optical microscope:利用反射光研究对可见光并不透明的金属及合金的组织所用的显微镜。 镶样 mounting:将试样

5、的体积过小(例如丝材、薄带等)或形状复杂,从而不便于以手指捏持或夹具夹持时,将其镶嵌于塑料(胶木粉等)或易熔合金等之内的操作。 磨光 grinding:将金相试块上欲进行组织观察的一面,用手工或在普通磨光机上以从粗到细的各号砂纸、砂布或磨料依次进行研磨,或者用掺有各号粒度的磨料的蜡盘或MoS2盘依次进行研磨,直到用最细的砂纸或磨料磨过为止。 抛光 polishing:将金相试块上欲进行金相分析的表面搞得平滑而光亮的操作。 浸蚀 etching:用某种方法(通常是用蚀刻剂)将金属或合金的试块抛光面上的组织显露出来的操作。 浸蚀剂 etchant:使金属或合金的抛光面上的组织特征或组织组分显现出来

6、用的化学试剂。 蚀坑 etch pit:精细抛光的金属表面上由于深度化学蚀刻而形成的有规则形状的小坑。 高温显微镜 hot stage microscope:在高温下研究金属或合金的显微镜。 电子显微镜 electron microscope:利用高速运动的电子束代替可见光的光束作为工作媒介制成的一种显微镜。 扫描电子显微镜scanning electron microscope, SEM:利用电子束在被研究试样表面作规则地扫描而产生的二次电子和/或背散射电子等在显像管的荧光屏上成像的电子显微镜(即扫描式电子显微镜)。 透射电子显微镜transmission electron microsco

7、pe, TEM:利用电子束穿过被研究试样(薄膜试样或复型)而成像的电子显微镜(即透视式电子显微镜)。 复型 replica:透视电子显微术用的一种试样:以复型材料将经过蚀刻的显微磨面上的浮雕或者断口的凹凸形貌复制下来而制备成的极薄的(对电子射线来说,具有很高的透明度)薄膜。 提取复型 extraction replica:为研究金属或合金中的析出物和夹杂物而用蚀刻的方法将它们从基体上萃取到复型上面得到的一种复型。 投影复型 shadowed replica:为提高像的衬比或根据阴影长度测量浮凸的高度而用重金属(Cr、Au、Pt、Pd等或者其合金)进行过投影的复型。 衬度 contrast:底片

8、、照片、荧光屏上的最亮部分与最暗部分或者最白部分与最黑部分的强弱差别。 取向衬度 orientation contrast:在经过蚀刻的金属或单相合金的显微磨面上,因各个晶粒相对于磨面的晶体学取向之不同而造成的、各个晶粒之间的衬比。 相衬度 phase contrast:基于从试样表面(具有微小的凹凸差别)反射回来的光线中的微小相位变化(即微小的相位差)所造成的试样表面像内不同区域之间的衬比。 衍射衬度 diffraction contrast:由于晶体的选择衍射(满足布喇格反射条件)而产生的衬比。 电子探针 electron microprobe:将由热灯丝发射出来的电子,以静电场加速,随之

9、以静电透镜聚焦到试样表面极微小的一点上来激发该点(微体积)内诸化学元素的标志X射线,而后分析标志X射线谱或和谱线的强度,以进行该点的化学成分的定性或和定量分析的仪器。 俄歇电子能谱术Auger electron spectroscopy 场离子显微镜 field ion microscope:分辨本领极高的一种显微镜,它是在尖形试样的尖端加上对荧光屏来说为正的高压电势,成象气体(He、Ne或其它稀有气体)在试样尖端被电离为正离子,并从电离点径向加速至荧光屏而成像。 原子探针 atom probe 扫描隧道显微术 scanning tunnelling microscopy, STM 穆斯堡尔谱

10、术 Mossbauer spectroscopy 正电子湮没技术positron annihilation technique X射线金相学 X ray metallography:利用X射线研究金属及合金的学科。 X射线衍射分析 X ray diffraction analysis:以X射线衍射为基础的晶体结构分析。 X射线形貌学 X ray topography X射线衍射花样 X ray diffraction pattern:用照相方法记录下来的、X射线被晶体衍射所产生的衍射花样。 劳厄法 Laue method:用固定不动的单晶作试样,以连续X射线进行晶体结构分析的方法,以德国物理学

11、家劳厄(M.T.F.V.Laue)的姓氏命名。 粉末法 powder method:使用粉末试样或多晶体(细小晶体的集合体)试样,以单色X射线拍摄X射线衍射花样来进行晶体结构分析的方法。 周转晶体法 rotating crystal method:使作为试样的单晶体绕一定轴转动或摆动来进行X射线衍射分析的方法。 极图 pole figure:用极射赤面投影方法,以多晶金属材料的一个特定面(例如,冷拉线材中垂直于其纵轴或者平行于其纵轴的截面;冷轧板材中的轧制平面即板面)作为投影面,将该材料中各个晶粒的同一特定晶面(hkl)表示在一个极射赤面投影图上。这种极射赤面投影图称为“极图”。 反极图 in

12、verse pole figure:将多晶金属材料中的某一参考方向(例如,线材的纵轴;板材的轧制方向等)的分布密度表示在与该材料的晶体点阵相同的标准极射赤面投影图上的轴分布图。 极射赤面投影 stereographic projection:假设有一个球,其上端为北极,下端为南极,其中腰为赤道;再假设,将一个晶体或者晶体点阵中的一个晶胞置于球心处;由球心向诸晶面引垂线,这些垂线的延长线与球面相交,其交点称为极点。然后再将北半球上的诸极点与南极引直线,而南半球上的诸极点与北极引直线;所有这些直线与赤道平面投影面相交,此投影面上的诸交点就组成了晶体的极射赤面投影。 心射赤面投影 gnomonic

13、projection:假设有一个球,其上端为北极,下端为南极,其中腰为赤道;再假设,将一个晶体或者晶体点阵中的一个阵点置于球心上;由球心向诸晶面引垂线,这些垂线的延长线与球面相交,其交点称为极点。然后再由球心向诸极点引直线,并延长到与球的北极或南极相切的平面投影面相交,此投影面上的诸交点就组成了晶体的心射赤面投影。 膨胀测量术 dilatometry:研究金属或合金试件于加热和/或冷却时的长度变化(膨胀和/或收缩)以寻找其相变点的技术。 示差膨胀测量术 differential dilatometry:测量被测试件与标准件两者的线膨胀量和/或线收缩量之差的膨胀测量术。 硫印 sulfur pr

14、int:用硫印法检测钢中硫化物的分布状况时,在照相纸上所印得的硫印痕。 无损检测 non destructive testing:在不破坏被检物的条件下来检查材料缺陷的方法。 超声检测 ultrasonic testing:用超声波检查金属体内部缺陷的无损检测。 磁粉检测 magnetic particle inspection:利用极细的铁磁性粉末(通常为磁性氧化铁的粉末)检验钢铁等铁磁性材料表面或靠近表面的宏观缺陷(裂纹、非金属夹杂物等)的无损检测。 荧光磁粉检测 fluorescent magnetic particle inspection:使用涂有在紫外线照射后能发出荧光的物质的铁磁

15、性粉末的磁粉探伤。 X射线探伤 X ray radiographic inspection:使用X射线透射术进行金属材料或工件的内部缺陷(例如裂纹、疏松、缩孔等)的无损检验。 射线探伤 ray radiographic inspection:使用射线透射术进行金属材料或工件的内部缺陷(例如裂纹、疏松、缩孔等)的无损检验。 荧光液渗透探伤 fluorescent penetrant test:利用荧光渗透液的渗透探伤。“荧光液渗透探伤”是将添加了在紫外线照射后能发出荧光的物质的渗透液,涂布于被检物的表面,渗透液即渗入缺陷里去,随之清除净残留在表面上渗透液,再以波长为33030nm的紫外线照射之,缺陷处便发出荧火,由之显示出缺陷的图象。 涡流检测 eddy current inspection:利用涡流现象的无损检验。 引伸计 extensometer: 测宽仪 width gauge: 测厚仪 thickness tester, thickness gauge 测压仪 load cell 同位素测厚仪

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