亥姆霍兹线圈磁场测定实验报告模板

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1、、实验目的:1. 测亥姆霍兹线圈在轴线上的磁场分布。2. 测载流圆线圈在轴线上的磁场分布,验证磁场叠加原理。3. 比较两载流圆线圈距离不同时轴线上磁场分布情况。二、实验仪器设备:FD-HM -型磁场测定仪由圆线圈和亥姆霍兹线圈实验平台(包括两个圆线圈、 固定夹、不锈钢直尺、铝尺)、高灵敏度毫特计和数字式直流稳流电源等组成。三、实验原理一、圆线圈载流圆线圈在轴线(通过圆心 并与线圈平面垂直的直线)上磁场 情况如图1。根据毕奥萨伐尔定律, 轴线上某点的磁感应强度B为B = N -1(3.3.1)2( R 2 + X 2)3/2式中I为通过线圈的电流强度,N 为线圈匝数,R线圈平均半径,x为 圆心到

2、该点的距离,r0为真空磁导 率。而圆心处的磁感应强度B0为UB =0 N -1o 2 R(3.3.2)轴线外的磁场分布情况较复杂,这 里简略。二、亥姆霍兹线圈亥姆霍兹线圈是一对彼此平行且连通的共轴圆形线圈,每一线圈N匝,两线 圈内的电流方向一致,大小相同,线圈之间距离d正好等于圆形线圈的平均半径 R。其轴线上磁场分布情况如图3.3.2所示,虚线为单线圈在轴线上的磁场分布 情况。这种线圈的特点是能在其公共轴线中点附近产生较广的均匀磁场区,故在 生产和科研中有较大的实用价值,也常用于弱磁场的计量标准。设x为亥姆霍兹线圈中轴线上某点离中心点。处的距离,则亥姆霍兹线圈轴线上任一点的磁感应强度大小B为r

3、 r )2-3/2r r )23/2R 2 + x+R 2 +x,2 JJ2 JJ1 .而在亥姆霍兹线圈轴线上中心O处磁感应强度大小B0为(3.3.3)b,=_NI053/2 R(3.3.4)三、双线圈若线圈间距d不等于R。设x为双线圈中轴线上某点离中心点O处的距离, 则双线圈轴线上任一点的磁感应强度大小B 为 1=一 r d 23/2一 r d 2 -3/2B = p - N -1 - R2R 2 + x+R 2 +二xr2 0|_2 J_12 Jf(3.3.5)四、霍尔效应、霍尔传感器1. 霍尔效应霍尔效应是具有载流子的导体(或半导体)同时处在电场和磁场中而产生电 势的一种现象。如图3.3

4、.3 (带正电的载流子)所示,把一块宽为b,厚为d的 导电板放在磁感应强度为B的磁场中,并在导电板中通以纵向电流I,此时在 板的横向两侧面A, #之间就呈现出一定的电势差,这一现象称为霍尔效应,所 产生的电势差U称霍尔电压。霍尔效应的数学表达式为:HU=R里H H dR是由半导体本身载流子迁移率决定的物理常数,称为霍尔系数。霍尔效应可以 吊洛伦兹力来解释。详见附页。2. 霍尔传感器近年来,在科研和工业中,集成霍尔传感器被广泛应用于磁场测量,它测量 灵敏度高,体积小,易于在磁场中移动和定位。本实验用SS95A型集成霍尔传感 器测量载流圆线圈磁场分布,其工作原理也基于霍尔效应,即Uh=rh号=kh

5、ib K =R/dKH称为霍尔元件灵敏度,B为磁感应强度,I为流过霍尔元件的电流强度。理论 b为零时,图3.3.3霍尔效应示意U也为零,但实际情况U示值并不为零,这是由于霍尔元件所用的半导体材料结 晶不均匀、各电极不对称等引起附加电势差U,称为剩余电压。本实验采用的SS95A型集成霍尔传感器由霍尔元件、放大器和薄膜电阻剩余 电压补偿器组成,测量时输出信号大,剩余电压的影响已被消除。一般的霍尔元 件有四根引线,两根为输入霍尔元件电流的“电流输入端”;另两根为霍尔元件 的“霍尔电压输出端”。本实验在设计安装时,传感器、圆线圈的工作回路相互 独立,并且传感器的工作电流已设定为标准工作电流(定值)。即

6、KI=K(常数) 则有U=KBK为常数H这样U与B建立简单的正比对应关系,由U值可得出B的示值。四、实验步骤:一、测量前准备1. 连接电路,接通电源,开机预热10分钟以上。2. 用铝尺和钢板尺调整两线圈位置,使两线圈共轴且轴线与台面中心横刻线 重合,两线圈距离为R=10.00cm(线圈半径),即组成一个亥姆霍兹线圈.调节 依据可参考注意事项1。3. 熟悉传感器的放置方法。二、单线圈轴线上各点磁感应强度的测量1. 单线圈a轴线上各点的磁感应强度Ba按图接线(直流稳流电源中数字电流表已串接在电源的一个输出端),只给 单线圈a通电,旋转电流调节旋纽,令电流I为100mA。取台面中心为坐标原点 0,通

7、过O的横刻线为OX轴。把传感器探头从一侧沿OX轴移动,每移动1.00cm 测一磁感应强度B,测出一系列与坐标x对应的磁感应强度B,数据填入预习 报告的表格中。测量区域为-10cm+10cm。“实验中,应注意毫特计探头沿线圈轴线移动,每测量一个数据,必须先在直 流电流输出电路断开时(1=0)调零后,才测量和记录数据。2. 单线圈b轴线上各点的磁感应强度Bb只给单线圈b通电,旋转电流调节旋纽,令电流I为100mA。以上述同样的测量方法,测出一系列X凡数据,并将数据填入预习报告的表格中。测量区域 实验预习部分为-10cm+10cm。3. 在轴线上某点转动毫特计探头,观察一下该点磁感应强度的方向:转动

8、探 头观测毫特计的读数值,读数最大时传感器法线方向,即是该点磁感应强度方向。三、双线圈轴线上各点磁感应强度测量1. 令两线圈串连,流过的电流方向一致(红黑接线柱交错相接),组成亥姆 霍兹线圈。然后,旋转电流调节旋纽,在同样电流I=100mA条件下,测轴线上各 点的磁感应强度Br值测量方法同上。得出的一系列X Br数据填入表格。测量 区域为T0cm+10cm。2. 分别把双线圈间距离调整为d=R/2和d=2R并测量在电流为I=100mA时轴线上各点磁感应强度值。测量方法同上。并将得出的X By、X Br r数据填入 表格。测量区域为-10cm+10cm。2四、数据处理1. 将测得的单、双线圈中心点的磁感应强度与理论公式计算结果相比较,看 是否一致。2. 用直角坐标纸,在同一坐标系作B X、B X、B X、B + B X四Raba b条曲线,考察B X与b+bX曲线,验证磁场叠加原理,即载流亥姆霍兹线 圈轴线上任一点磁感应强度B是两个载流单线圈在该点上产生磁感应强度之和RB + B。a 3:用直角坐标纸,在同一坐标系作Br X、Br/X、Br X三条曲线,证明磁场叠加原理。R 2

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