浮栅MOS晶体管的制造方法

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19)中华人民共和国国家知识产权局汐(12 )发明专利申请(10)申请公布号CN103441075A(43)申请公布日2013.12.11(21)申请号 CN201310336943.7(22)申请日 2013.08.02(71)申请人 上海华力微电子有限公司地址201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号(72)发明人 秦伟;高慧慧;杨渝书;黄海辉(74)专利代理机构 上海申新律师事务所代理人 竺路玲(51)Int.CI权利要求说明书 说明书 幅图浮栅MOS晶体管的制造方法(57)摘要本发明公开了一种浮动栅极的制造方法 包括以下步骤:于一硅衬底的表面依次沉积介质 层、多晶硅层和氮化物层;依次刻蚀所述氮化物 层、多晶硅层和所述介质层至所述硅衬底中,形 成 STI 沟槽;沉积一氧化层充满所述 STI 沟槽并 覆盖剩余氮化物层的表面;对所述氧化硅层进行 平坦化工艺,去除位于所述剩余氮化物层的表面 上的氧化硅层;回蚀部分位于 STI 沟槽中氧化硅 层后,去除所述剩余氮化物层。本发明发明先进

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