基准与轮廓度公差的介绍

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1、太友社技TAIYOU rECH _专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案基准与轮廓度公差的介绍ITAIYOU TECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案太友科技ITAIYOU TECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案ITAIYOU TECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案一、基准和基准体系基准是具有正确形状的理想要素,是确定被测要素方向或位置的依据,在规定位 置公差时,一般都要注出基准。在实际应用时,则由基准实际要素来确定。1、基准的建立由于实际基准要素存在形位误差,因此由实际基准要素建立理想基准要素(基准) 时,应先对实际基准要素作最小包容

2、区域,再来确定基准。1)单一基准中心要素由实际轴线建立基准轴线时,基准轴线为穿过基准实际轴线,且符合最小条件的 理想轴线;基准辅线(中心笠)ITAIYOU TECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案轮廓要素由实际表面建立基准平面时,基准平面为处于材料之外并与基准实际表面接触、 符合最小条件的理想平面。甚准平Ifc最小赳專区域-专业提供SPC数据分析软件等机械测量解决方案0太友科技UKUtaiyou tech2)组合基准公共基准由两条或两条以上实际轴线建立而作为一个独立基准使用的公共基准轴线时,公共基准轴线为这些实际轴线所共有的理想轴线。应用三基面体系时,设计者在图样上标注基准应特

3、别注意基准的顺序,在加工或检验时,不得随意更换这些基准顺序。确定关联被测要素位置时,可以同时使用三个基准平面,也可使用其中的两 个或一个。由此可见,单一基准平面是三基准体系中的一个基准平面。-专业提供SPC数据分析软件等机械测量解决方案0太友科技 UtJTAIYOU TECH任选基准有相对位置要求的两要素中,基准可以任意选定。主要用于两要素的形状、尺寸 和技术要求完全相同的零件,或在设计要求中,各要素之间的基准有可以互换的 条件,从而使零件无论上下、反正、颠倒装配仍能满足互换性要求。1Q2、基准的体现建立基准的基本原则是基准应符合最小条件, 但在实际应用中,允许在测量时用 近似方法体现。基准的

4、常用体现方法有:模拟法、直接法、分析法和目标法等。-专业提供SPC数据分析软件等机械测量解决方案0太友科技UE_Itaiyou tech模拟法通常采用具有足够形位精度的表面来体现基准平面和基准轴线用平板表面体现基准平面:用心轴表面体现内圆柱面的轴线:用V形块表面体现外圆柱面的轴线:-专业提供SPC数据分析软件等机械测量解决方案-专业提供SPC数据分析软件等机械测量解决方案2)直接法当基准实际要素具有足够形状精度时,可直接作为基准。如在平板上测量零件,-专业提供SPC数据分析软件等机械测量解决方案太友科技TAIYOU rECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案 就是将平板作为直接基

5、准。二、轮廓度公差1、线轮廓度公差线轮廓度公差是被测实际要素对理想轮廓线所允许的变动全量。用来控制平面曲线(或曲面的截面轮廓)的形状或位置误差。在平行于正投影面的任一截面内,被测实际要素的实际轮廓线必须位于距离为0.04mm对理想轮廓线对称分布的两等距曲线间区域内。理想轮廓线由R25、2X R10和22确定。公差带位置浮动。在平行于正投影面的任一截面内,被测实际要素的实际轮廓线必须位于距离为0.04mm对理想轮廓线对称分布的两等距曲线间区域内。理想轮廓线由R30、R15和22确定,而其位置由基准 A、B和理论正确尺寸12和25确定,公差带 位置固定。太友科技TAIYOU fECH线轮廓度误差测

6、量 线轮廓度测量的仪器有轮廓样板、投影仪、仿形测量装置三坐标测量机以及利用 太友科技数据采集仪连接百分表法等2、面轮廓度公差 面轮廓度公差是被测实际要素对理想轮廓面所允许的变动全量。 用来控制空间曲 面的形状或位置误差。面轮廓度是一项综合公差,它既控制面轮廓度误差,又可 控制曲面上任一截面轮廓的线轮廓度误差。被测实际要素的实际轮廓线必须位于距离为0.02mm对理想轮廓面对称分布的两等距曲面间区域内。理想轮廓面由SR35确定,而其位置可在尺寸40 0.2范围内浮动。太友科技TAIYOU rECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案被测实际要素的实际轮廓面必须位于距离为0.02mm对理想轮廓面对称分布的两等距曲面间区域内。理想轮廓面由 SF35确定,而其位置由基准 A和理论正确尺寸40,公差带位置固定太友科技TAIYOU rECH -专业提供spc数据分析软件等机械测量解决方案面轮廓度误差测量:面轮廓度测量的仪器有成套截面轮廓样板、仿形测量装置、坐标测量装置、光学 跟踪轮廓测量仪以及利用 QSmart数据采集仪连接百分表法等。

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