电子元器件验(证)要求与方法

《电子元器件验(证)要求与方法》由会员分享，可在线阅读，更多相关《电子元器件验(证)要求与方法（11页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。

1、电子元器件入厂检验规程1 目的为本公司电子元器件类进料检验提供科学、客观的方法和依据，进而不断提高产品质量。2 适用范围本检验规范适用于所有电子元器件原材料的检验/ 验收。对某些无法用定量表明的缺陷， 可用供需双方制订的检验标准和封样的办法加以解决。3 参考文件3.1 GB/T 17215-2002 1 级和 2级静止式交流有功电度表。3.2 相关电子元器件技术文件和样品。4 缺陷类型4.1 A 类： 严重缺陷（CRICITAL DEFECT简写CRI）,是指不良缺陷足使产品失去规定的主要或全部功能， 或者特别情况下可能带来安全问题，或者为客户或市场拒绝接受的特别规定的缺点。4.2 B 类：

2、主要缺陷（MAJORDEFECT, 简写MAJ） ，不良缺陷足使产品失去部分功能， 或者相对严重的结构及外观异常， 从而显著降低产品的使用性能。4.3 C 类： 次要缺陷（MINOR3EFECT简写MIN）,不良缺陷可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点， 虽不影响产品性能， 但会使产品价值降低的缺点5 判定依据取一般检验水平II ,正常检验AQL A类缺陷为0, B类缺陷为0.4, C类缺陷为1.0。当缺陷位于产品的LOGO产品名称或图标的40mm内时，应重新审核决定此缺陷是否达到了影响标识、产品名称或图标的程度。 在实际执行时依照检验标准的条款或参照产品的封样。6 工作程序和要求6.1 外

3、观缺陷的检验方法及要求视力：具有正常视力1.0-1.2视力和色感。照度：室内照明800Lux （40W/日光灯）以上。目测距离： 眼睛距离 15-30cm 处目视， 必要时以 （ 三倍或三倍以 上）放大照灯检验确认。ESD 防护：凡接触电子元器件必需配带检测合格的静电防护措施（ 配带干净手套与防静电手环接上静电接地线） ； 检验前需先确认所使用工作平台清洁。6.2 外观尺寸及尺寸的配合的检验方法6.2.1 使用普通长度测量仪或各种量规（量具）进行测量。6.2.2 试装配：将电子元器件与PCB等试装位置、尺寸等应配合良好，并且插入后不应占到别的元器件的位置。6.3 检验仪器、仪表、量具的要求6.

4、3.1 所有检验仪器、仪表、量具必须在校正计量期内。6.4 本检验规范若与其它规范文件相冲突时，依据顺序如下：6.4.1 本公司所提供的技术文件等提出的特殊需求；6.4.2 本检验规范；6.4.3 由供应商提供的检验报告、规格书、承认书等资料；6.5 若有外观标准争议时，由质检部解释与核判是否允收。6.6 涉及功能性问题时，由技术部或质检部分析原因与责任单位， 并于验证后由质检部复判外观是否允收。7检验项目及标准7.1 按照“电子元器件检验明细表”（见附录）以及有关进料检验的 规定对新进原材料进行检验。7.2 对于我司目前不能检验的项目，可以验证供方提供的检验数据, 也可以委托国家检验机构进行

5、检验。附录 电子元器件检验明细表1 包装、标识检查（通用）序号检验项目标准要求缺陷类型检验方法1.1包装、标识1、不允许包装箱内无合格证、测试记录；B目视2、不允许没有制造商的名称；B3、不允许没有元器件名称；B4、不允许没有元器件型号、规格；B5、不允许没有包装数量；B6、不允许没有生产日期和生产批号；C7、不允许没有制造商合格盖章；B8、针对不同元器件的特性必须使用适当的包装方式；B1.2数量1、不允许实际包装数量与标识上的数量不相同；B目视 点检2、不允许实际来料数量与送检单上的数量不吻合；B2外观检查（通用）序号检验项目标准要求缺陷类型检验方法2.1材质不允许与文件要求不符合；A目视2

6、.2污迹不允许异物、油污、灰尘及其它污垢；C2.3金属壳体表面、 引脚1、轻微不光亮、发黑，不影响上锡功能；C2、发黑，生锈严重，上锡困难，甚至不能上锡；B3、影响组装；B4、不影响组装；C2.4丝印1、丝印错、漏；B2、丝印模糊，至字体无法识别；B3、字体排版错误（大小不等、次序颠倒）；B4、丝印模糊，但字体仍可识别；C2.5表面、引脚颜色不允许一批中有多种颜色；B2.6划伤1、划伤深度不超过2mm,不明显可见；C2、明显可见元器件内部材质；B2.4破裂1、本体破损面积超过 2mm 2,明显可见；B2、本体有裂纹面积小于 2mm 2,不明显可见；C2.8线头1、线头有松散现象；B2、堆锡超过

7、1mm ;C2.9绝缘胶皮1、破损严重，看到内部芯线；B2、轻微破损，看不到内部芯线；B2.10表面保护膜不能有脱落严重，看到内部材质；B2.11引出线方向不允许一批中有多种引出线方向；B2.12元器件封口处不允许封口不光滑、有缝隙严重，用手摇动引出端有松动， 甚至有脱落现象；B2.13带金属焊接部分不允许绝缘胶粘附于部件焊接部分， 带金属部分有氧化，生 锈、压伤严重现象；B2.14极性不允许标识与实际不符；A2.15变形不允许外形变形严重；B3尺寸检查（通用）序号检验项目标准要求缺陷类型检验方法3.1尺寸不允许重要尺寸不符合图纸、bom要求（引脚直径、定位尺寸、本体直径、引脚长度）；A卡尺4

8、装配检查（通用）序号检验项目标准要求缺陷类型检验方法4.1装配1、插不进PCB板、表壳、端子等；A试装 目视2、插入PCB板、表壳、端子等困难；B5可焊性试验（通用）序号检验项目标准要求缺陷类型检验方法5.1可焊性无特殊技术要求，以下两种方法可选其一试验：a、用电烙铁以温度为235C,时间为3S试验，锡点圆润有光泽， 稳固；b、PIN上锡不良，或完全不上锡，均不可接受；（将零件脚插入 现使用之合格松香水内， 全部浸润；再插入小锡炉5秒钟左右后 拿起观看PIN是否100娘好上锡；如果不是则拒收）；A实际操作 恒温烙铁 锡炉耐焊接热温度24010C,浸锡（焊接）时间 5s后，外观、电气与机械 性能

9、良好；A6电性检验6.1 电阻序号检验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.1.1电阻值不允许实际测量电阻值超出偏差范围；数字万用表或LCR数字电桥耐压测试仪A6.1.2*耐压不允许实际测量耐压值超出偏差范围；A6.1.3*额定功耗不允许实际测量功耗超出偏差范围；A6.2 电容序号检验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.2.1电容值不允许实际测量电容值超出偏差范围；数字电容表或LCR数字电桥测 耐压测试仪A6.2.2空载漏电流不允许实际测量漏电流值超出偏差范围；A6.2.3耐压不允许实际测量耐压值超出偏差范围；A6.2.4损耗角不允许实际测量损耗角超出偏差范围；A6.3 电感、磁珠序号检

10、验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.3.1电感量不允许实际测量电容值超出偏差范围；电容电感表或LCR数字电桥测A6.3.2绕组不允许不同绕组短路，同组线圈开路；A6.3.3平衡度不允许两组电感量平衡度不符要求；B6.3.4电压试验电压不符合要求；A6.4 光耦序号检验项目6.4.1光电转换检验标准/方法1、数字万用表检测法：下面以PC 1 1 1光耦检测为例来说明数 字万用表检测的方法，检测电路如图1所示。检测时将光耦内接 二极管的十端1脚和一端2脚 分别插入数字万用表的H fe的e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管c极5脚接指针式万用表的黑表笔，e极 4脚

11、接 红表笔，并将指针式万用表拨在RX 1 k挡。这样就能通过指针 式万用表指针的偏转角度一一实际上是光电流的变化，来判断光 耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。黔字方可NhFtMaUNPN档叙1k槎22、光电效应判断法：仍以PC 1 1 1光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。将万用表置于RX 1 k电阻挡，两表笔分别 接在光耦的输出端4、5脚；然后用一节1. 5 V的电池与一只 5 0-100 Q的电阻串接后，电池的正极端接P C 1 1 1的 1 脚，负极端碰接2脚，或者正极端碰接1脚，负极端接2脚，这 时观察

12、接在输出端 万用表的指针偏转情况。如果指针摆动，说明 光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动 偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。检验设备缺陷类型数字万用表 指针式万用表1.5V电池50100 Q电阻 指针式万用表序号检验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.5.1电压检验变压器的各次级空载、负载电压是否与技术文件要求一致；耐压测试仪数字万用表DC稳压电源A6.5.2耐压用耐压测试仪给变压器进行各项耐压测试（耐压测试仪的测试时 间设为5S,最大漏电流设为1mA）,若耐压测试仪显示“ PASS” 则所测变压器抗电强度合格；A6.5.3通断不允许线圈开路、短路、无电压输出；A

13、6.6电压互感器序号检验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.6.1耐压用耐压测试仪给电压互感器的“初级与次级”间加2KV、50HZ的交流电压进行耐压测试（耐压测试仪的测试时间设为5S,最大漏电流设为1mA）,若耐压测试仪显示“ PASS”则所测电压互感器抗电强度合格，照此再对初级一铁壳间作 3.0KV的耐压测试；耐压测试仪 数字万用表A6.6.2通断用万用表欧姆档测量初次级各导线是否有断开或短路；A6.7电流互感器序号检验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.7.1耐压用耐压测试仪给电流互感器的“初级与次级”间加3KV、50HZ的交流电压进行耐压测试（耐压测试仪的测试时间设为60S ,最大漏电流设为1mA）,若耐压测试仪显示“ PASS”则所测电流互 感器抗电强度合格；耐压测试仪 数字万用表A6.7.2通断用万用表欧姆档测量次级两根导线是否有断开或短路现象A6.7.3绕组检测一次绕组与二次绕组之间的绝缘电阻，要求1000M Q（DC=500V ）A6.8发光二极管序号检验项目检验标准/方法检验设备缺陷 类型6.8.1发光特性选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注：有标记的一端为负极。数字万用表A6.9 二极管序号检验项目检验标准/方法检验