《陶瓷的结构和表征》由会员分享，可在线阅读，更多相关《陶瓷的结构和表征（2页珍藏版）》请在金锄头文库上搜索。
1、陶瓷的结构与表征1.相对介电常数r的不同大小反映了材料的极化强度对外电场的响应大小，即越大，同样大小的电场所引发的极化强度就越大。晶体的独立介电常数的数目与晶体的对称性有关。二阶对称张量。4 x C x t =r 兀 x x d20d-样品直径； 0-真空介电常数(8.85X10-i2F/m)； t-样品厚度；C-介电电容2收缩率I陶瓷材料在烧结过程中会发生显著地收缩和致密化,线性收缩一般随烧结温度提高而增加，当收缩率不再增加时，陶瓷完全烧结，达到最高致密度。d dI = _o1 x 100%d0d0-烧结前样品直径；d1-烧结后样品直径；I-线性收缩率3.介质损耗tan6通常以电介质中存在一
2、个损耗电阻Rn来表示电能的消耗。这样就等于把通过介质的电 流分成消耗能量的部分IR和不消耗能量的部分IC。介质损耗越大，材料的性能越差。tan 5 =1OCRnw -交变电场角频率；C-介质样品的静电容值；R-损耗电阻n4.电阻R和电阻率p使用TONGHUI ELECTRONICSTH2683型绝缘电阻仪测试样品的电阻值。将绝缘电阻仪测试电压设定在500 V，放置镀银坯体于电座上测试，记录读数，并根据电阻定律的推导公式:p = RSL样品的厚度/cm； S样品的截面积/cm2； R电阻/Q ； p的单位是Qcm；5. 体密度P （阿基米德排水法）WP 二 0 X 0W - WH 21 2W0样品干燥重量；W水煮后试样重量；W2试样在水中的重量；6. X射线衍射（XRD ）分析粉体样品的XRD物相分析是在Rigaku D/MaxIlB型衍射仪上进行的。实验条件：采用Cu靶K射线，20角扫描范围10 o80。，扫描速度为0.3o/s,aZ=1.5405A, 40kV, 30mA。7扫描电子显微镜分析实验对样品进行扫描电子显微镜（SEM）分析。通过SEM可以直接观察到样品的表面形貌，颗粒的大小、形状、均匀程度以及结晶状况等。所用仪器是JEOL（日本电子）公司的JSM-6460进行烧结样品的表面形貌的观察。
