焊点质量检测方法

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1、I,.ujuiiu.55top.corTp好好学习天天也上焊点质量检测方法1.1目视检测目视检测时最常用的一种非破坏性检测方法，可用万能投影仪或10倍放大镜进 行检测。检测速度和精度与检测人员能力有关，评价可按照以下基准进行：(1)湿润状态钎料完全覆盖焊盘及引线的钎焊部位，接触角最好小于20，通常以小于30为 标准，最大不超过60。(2) 焊点外观钎料流动性好，表面完整且平滑光亮，无针孔、砂粒、裂纹、桥连和拉尖等微 小缺陷。(3) 钎料量钎焊引线时，钎料轮廓薄且引线轮廓明显可见。1.2电气检测电气检测是产品在加载条件下通电，以检测是否满足所要求的规范。它能有效 地查出目视检测所不能发现的微小裂

2、纹和桥连等。检测时可使用各种电气测量 仪，检测导通不良及在钎焊过程中引起的元器件热损坏。前者是由微小裂纹、 极细丝的锡蚀和松香粘附等引起，后者是由于过热使元器件失效或助焊剂分解 气体引起元器件的腐蚀和变质等。1.3 X-ray 检测P好好学习天天也上X-ray检测是利用X射线可穿透物质并在物质中有衰减的特性来发现缺陷，主要 检测焊点内部缺陷，如BGA、CSP和FC焊点等。目前X射线设备的X光束斑 一般在1-5m范围内，不能用来检测亚微米范围内的焊点微小开裂。1.4超声波检测超声波检测利用超声波束能透入金属材料的深处，由一截面进入另一截面时， 在界面边缘发生反射的特点来检测焊点的缺陷。来自焊点表

3、面的超声波进入金 属内部，遇到缺陷及焊点底部时就会发生反射现象，将反射波束收集到荧光屏 上形成脉冲波形，根据波形的特点来判断缺陷的位置、大小和性质。超声波检 验具有灵敏度高、操作方便、检验速度快、成本低、对人体无害等优点，但是 对缺陷进行定性和定量判定尚存在困难。扫描超声波显微镜(C-SAM )主要利用 高频超声(一般为100 MHz以上)在材料不连续的地方界面上反射产生的位相及 振幅变化来成像，是用来检测元器件内部的分层、空洞和裂纹等一种有效方法。 采用微声像技术，通过超声换能器把超声脉冲发射到元件封装中，在表面和底 板这一深度范围内，超声反馈回波信号以稍微不同的时间间隔到达转化器，经 过处

4、理就得到可视的内部图像，再通过选通回波信号，将成像限制在检测区域， 得到缺陷图。一般采用频率从100 MHz到230 MHz，最高可达300 MHz，检测 分辨率也相应提高。1.5机械性破坏检测机械性破坏检测是将焊点进行机械性破坏，从它的强度和断裂面来检查缺陷的。 常用的评价指标有拉伸强度、剥离强度和剪切强度。因为对所有的产品进行检 测是不可能的，所以只能进行适量的抽检。1.6显微组织检测显微组织检测是将焊点切片、研磨、抛光后用显微镜来观察其界面，是一种发 现钎料杂质、熔蚀、组织结构、合金层及微小裂纹的有效方法。焊点裂纹一般 呈中心对称分布，因而应尽量可能沿对角线方向制样。显微组织检测和机械性

5、 破坏检测一样，不可能对所有的成品进行检测，只能进行适量的抽检。光学显 ujiuiu.SStop.conO好好学耳天天也上.中国3000万经理人首选培训网站微镜是最常用的一种检测仪器，放大倍数一般达1 000倍，可以直观的反映材料 样品组织形态，但分辨率较低，约20 nm。1.7其它几种检测方法染色试验荧光渗透剂检测是利用紫外线照射某些荧光物质产生荧光的特性来检 测焊点表面缺陷的方法。检验时先在试件上涂上渗透性很强的荧光油液，停留 5-10 min，然后除净表面多余的荧光液，这样只有在缺陷里存在荧光液。接着在 焊点表面撒一层氧化镁粉末，振动数下，在缺陷处的氧化镁被荧光油液渗透， 并有一部分渗入

6、缺陷内腔，然后把多余的粉末吹掉。在暗室里用紫外线照射， 留在缺陷处的荧光物质就会发出照亮的荧光，显示出缺陷。磁粉检测是利用磁 粉检测漏磁的方法，检测时利用一种含有细磁粉的薄膜胶片，记录钎焊焊点中 的质量变化情况。使用后的几分钟内，胶片凝固并把磁粉凝结在一定的位置上， 就可以观察被检测试件上的磁粉分布图形，确定是否有缺陷。由于大多数钎料 是非磁性的，因此不常用于钎焊焊点的检验。化学分析方法可测量样品的平均成分，并能达到很高精度，但不能给出元素分 布情况。染色与渗透检测技术(D&PT)是通过高渗透性高着色性染料渗透到焊点开裂区 域，然后拉开焊点，观测焊点内部开裂程度和分布。试验时必须小心控制拉断

7、器件时的外力，以保证焊点继续沿预开裂区域断开。X-ray衍射(XRD)是通过 X-ray在晶体中的衍射现象来分析晶体结构、品格参数、缺陷、不同结构相的含 量及内应力的方法，它是建立在一定晶格结构模型基础上的间接方法。电子显微镜(EM)是用高能电子束做光源，用磁场作透镜制作的电子光学仪器， 主要包括扫描电子显微镜(SEM)，透射电子显微镜(TEM)，电子探针显微镜 (EPMA)和扫描透射电子显微镜(STEM)。其中SEM用来观察样品表面形貌，TEM 用来观察样品内部组织形态和结构，EPMA用来确定样品微观区域化学成分， STEM具有SEM和TEM的双层功能。此外，红外热相(IRTI)分析、激光全

8、息照相法和实时射线照相法等也可用于焊点质量检测。表2为不同分析项目的一些主要分析方法。体色iSsGCMS.研磨色涪GCM5、蜥磨 3不同分析项目对应的分析方法分析项目分析方法W顷：波使分散型X线光滑分析XftD： X射线衍射KJJ於最含型感咬警膺r喷量分析D&PT、染色与濯透检测微仙不纯物咒学显示、普珈、*M、荧光拟式光学显小 射线透示SW尤学显示、沌M.TEH刖磨币光学显* SEM、腥汉X KD、TEM光学嫉小、就此顷)K、WI)X、TKM、研磨网腐健光学显示、郎M. ATO.XR1) JEM.研磨,光学M示、SEME&1TEDX,WDX. AES、Xlf、XRFJ；CMSXPSJCRRFH

9、BU电礴色谱、气体色i普、GCMS.荧咒显示、研磨、腐蚀EDX、WDX 屈 E京 X PS3I MS、X RD JTIII、液EDX、WD阳AES.XPS.SFMS,电离色谓,液体FHR.M峻光谱、GCMSTDS.V 体色 itt.GCMS羚伸.推伸、剥离H艮聚焦高I束装置AFM,麻子内力#微铤SEN；扫描电镜.蚌俄瞅电尸光谱分析EDX：能执离故性X光分析XI性X射线激励光电子光谱柚砰臬电子探浏微咏分析S【MS：二次离予质代分析TFM：透射电镜XHF：荧光X射线光滑分析SAT：超声波显微镜响；博苴叶变换也供光谱分析TDS：加热气体分析GCMS：气体色谱法娅R分折内部蛆换界血形状断面IMC结晶料

10、裂纹分析化学隅合V体分析2加载检测及可靠性评价P好好学习天天也上产品失效主要原因包括温度、湿度、振动和灰尘等，各占比例为55%、19%、 20%和6%。加载检测是每一个部件在实用条件下进行加载以检测其动作状况， 方法有振动检测、冲击检测、热循环检测、加速度检测和耐压检测等，一般根 据实用条件把它们组合起来进行，且要求对每一个成品进行检测。这种方法最 为严格，可靠性高，只有航天产品等可靠性要求特别严格的情形下才予以采用。近年来国际上采用一种全新的焊点可靠性评估方法，即等温加速扭转循环法 (MDS)，通过在一定温度下周期扭转整个印刷电路板来考察焊点的可靠性。该方 法在焊点内产生的应力以剪切应力为主

11、，和温度循环相似，因而失效模式和机 理极为相似，但试验周期却可从温度循环的几个月减少到几天。该方法不但可 以用来快速评估焊点可靠性，同时也可以用来进行快速设计和工艺参数优化。可靠性评价分类见表3。迁移是金属材料在环境下化学反应形成的表面侵蚀现 象，其生长过程分为阳极溶解、离子迁移和阴极还原，即金属电极正极溶解、 移动，在负极析出导致短路。迁移的发生形态常称为Dendrite和CAF(见图1)。 Dendrite指迁移使金属在PCB的绝缘部表面析出，或者是形成树枝状的氧化物; CAF指金属顺着印制板内部的玻璃纤维析出，或者使氧化物作纤维状的延伸。可第性评价分类Id评价内容评价方法裂纹，针孔 光学

12、显微镜 接合部 结晶结构 X射线分析、扫捕式电子显微镜状点分析固溶、元素扩散乂射城分析一次离子.质里分析按合踢度绝缓性按合界面结拘拉伸挠曲迁移晶须俄歇电子光谱兮析利用行业协会制定的 翰测标准进行检测专业协会标淮电子色普仪分析图 1 Dendrict 和 CAF金属离子的指标可用标准电极电位Eo来表示，其中Sn比Pb和Cu稳定，能形 成保护性高的纯态氧化膜，抑制阳极溶解。电极电位的大小不仅取决于电对的 本性，还与参加电极反应的各种物质的浓度有关。对于大多数电对来说，因为H + (或OH-)直接参与了电极反应，因此电极电位还与pH值有关：pH值越高， 电极电位越小。另外，助焊剂残留如果不清洗干净，

13、一些腐蚀性、活性元素(如 Cl)会使电迁移更强，影响电路可靠性。所以，目前常用免清洗助焊剂严格控制 其活性和组份。3热循环加速试验热循环失效是指焊点在热循环或功率循环过程中，由于芯片载体材料和基本材 料存在明显的热膨胀系数(CTE)差异所导致的蠕变-疲劳失效。通常SMT中芯片 载体材料为陶瓷(A12O3)，CTE为6.0x10-6/C，基板材料为环氧树脂/玻璃纤 维复合板(FR4)，CTE为20.0X10-6/C，二者相差3倍以上。当环境温度发生变 化或元件本身通电发热时，由于二者间CTE差异，在焊点内部就产生周期性变 化的应力应变过程，从而导致焊点的失效。IPC-9701标准化了五种试验条件

14、下的热循环试验方法，从良性的TCl参考循环 条件到恶劣的TC4条件，符合合格要求的热循环数(NTC)从NTC-A变化到 NTC-E(见表 4)。 4挽摘环成赣条伴恶合格要求TPV-97OI中描述的试巧.条件M：LA：Am:注烽Ttl0+ I0OioO推希参考TC2-25+ 10012537,STC3+ 1251必炽lhC4-55+ 12535现反 fff:-SM-785ITC5-55+ 1LXJ15552.5注反WC-97OJ中描述的含格饕求合隔要求循环数说明2U0NTC-B5WNTC-C!000推在渗等TC2,TC3,TC4KTC-DNTC-160W推吞参孝TC】失效循环次数可用一个简单修正

15、的Coffin-Manson数模来预测，并可以加速获得 热循环测试结果。Coffin-Manson数模是关于热应力引起的低循环疲劳对微电路 和半导体封装可靠性影响进行建模的有效方法，表达式为：A7=U f 尸，X严 X /mg（1）其中：Nf为疲劳失效循环数，A为常数，e为每个循环的应变范围，f为循环 频率，K为波尔兹曼常数（eV），Tmax为最高循环温度（K）。IPC-9701使用Engelmaier-Wild焊点失效模型来评估加速因子AF（循环数）和AF（时间）。AF（循环数）与焊点的循环疲劳寿命有关，是在给定使用环境中产品 寿命的试验中获得，可表示为：.1循环数）=畚把址=（”，儿尸 x血原）唧（