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1、一、标准中涉及检测技术级别的条款在JB/T4730.2-2005标准中，规定了射线检测分为三级：A级低灵敏度 技术；AB级一一中灵敏度技术；B级一一高灵敏度技术。在标准中涉及检测技 术级别的条款概括起来有以下 9 条：1、第 3.8 条：射线检测技术等级选择；2、第3.2.2条：不同检测技术级别选择胶片的规定；3、第3.5条：不同检测技术级别选择增感屏的规定；4、第4.1.3条：不同检测技术级别对透照厚度比IK的规定；5、第4.2.2条：不同检测技术级别对射线源的透照厚度范围的规定；6、第 4.3.1 条：不同检测技术级别对射线源至工件表面的最小距离的规定；7、第441条：不同检测技术级别对X
2、射线照相最小曝光量的规定；8、第4.11.2条：不同检测技术级别对底片黑度D的规定；9、第4.11.3条：不同检测技术级别对底片的像质计灵敏度的规定。二、射线检测技术等级的选择JB/T4730.2-2005 标准第 3.8 条就有关射线检测技术等级选择的规定如下：3.8.1 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图 样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用 AB 级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制 作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。3.8.2 由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满
3、足AB级（或B级）射线检测技术的要求时，经检测方技术负责人批准，在采取 有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到AB级（或B级）射线检测技术的规定，则可认为按AB级（或B级）射线检 测技术进行了检测3.8.3 承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面的限制，检 测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准, 在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用 A 级技术进行射线 检测,但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。由于 A 级检测技术属于低灵敏度级别,一般不用于石油化工承压设备的射线检测，所以本文只讨论B级检测技
4、术与AB级检测技术的区别。三、不同检测技术级别选择胶片的规定JB/T4730.2-2005 标准第 3.2.2 条就有关不同检测技术级别选择胶片的规定如 下：322 A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线 检测技术应采用 T2 类或更高类别的胶片。胶片的本底灰雾度应不大于 0.3。由上条规定可知，AB级射线检测技术应采用AGFA-C7 （或其他T3类）胶 片，B级射线检测技术应采用AGFA-C4 （或其他T2类）胶片。由于 T2 类胶片感光乳剂粒度和感光速度比 T3 类胶片低，而胶片平均梯度和梯噪比比T3类胶片高，这些都有利于提高射线底片的灵敏度。所以B级检测 技术比
5、AB 级检测技术在胶片选取方面考虑了提高灵敏度的因素。在同等条件下，使用 T2 类胶片的曝光时间一般是使用 T3 类胶片时的 3 倍 以上，所以对检测设备的性能要求较高，检测效率下降，检测成本提高。而且 T2类胶片比T3类胶片价格高的多，对检测成本的提高显而易见。四、不同检测技术级别选择增感屏的规定JB/T4730.2-2005 标准第3.5条就有关不同检测技术级别选择增感屏的规定如 下：射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。增感屏的选用应符合表1的 规定。k 1増感屛的押掷和厚度射贱源前屑Jn屬村料厚度，ME忖X 射线 CWlOOkD铅小用或冬匕昭铅0. U3X射线(100 kV-150
6、k)铅WO. LOWO, L54MeV - I2M；V)X 射 (12MeV)*M 1(1)由于 Co-60 和高能 X 射线在石油化工的现场检测的运用比较少，所以只分析Se-75源和Ir-192源B级检测和AB级检测的不同之处。由上表可知，对Se-75和Ir-192源B级检测比AB级检测的透照厚度范围小。 这是因为相比于同等能量的X射线，丫射线的线质较硬，对比度、清晰度、颗粒 度都比 X 射线差，控制透照厚度下限值是为了保证小缺陷的检出率。由于 B 级检测采用感光度低的细粒胶片，所以曝光时间相对较长， 但过长的的曝光时间，使底片灰雾增加，对检测灵敏度不利，所以对Ir-192源B 级检测的透照
7、厚度上限值比AB级检测小。采用其他透照方式时，B级检测的透照厚度下限值不允许降低，而AB级检 测允许降低，表示B级检测比AB级检测对透照厚度的下限值控制更为严格。B 级检测时，各种射线源的透照范围变小，在很多情况下，不得不使用 X 射线透照，检测效率下降，检测成本增加。七、不同检测技术级别对射线源至工件表面的最小距离的规 定JB/T4730.2-2005 标准第 4.3.1 条就有关不同检测技术级别对射线源至工件表 面的最小距离的规定如下：4.3.1说选用的射线源至工件表面的距离f应满足下述要求：A级射线检测技术：f7.5db2/3AB级射线检测技术：f10db2/3B级射线检测技术：f 15
8、db2/3注：f为射线源至工件表面的距离；d 为射线源的有效焦点尺寸；b 为工件至胶片距离。由于焦距F=f+b，所以在d和b不变的情况下，B级检测比AB级检测的f 值大，所以焦距F也比AB级大。大的焦距几何不清晰度小，所以检测灵敏度高。注意：焦距是指射线源焦点到胶片的距离，而不是射线机机头到胶片的距离。 所以焦距为机头到胶片的距离加焦点到机头的距离，现场检测中应注意。一般 300KV 探伤机焦点到机头的距离为 130mm,250KV 探伤机焦点到机头的距离为 120mm。B级检测焦距比AB级检测焦距大，射线的能量和距离的平方成反比，焦距 越大，曝光时间越长，检测效率越低，检测成本越高。人 不同
9、检测技术级别对X射线照相最小曝光量的规定JB/T4730.2-2005标准第4.4.1条就有关不同检测技术级别对X射线照相最小 曝光量的规定如下：4.4.1 X射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级 射线检测技术不小于15mAmin; B级射线检测技术不小于20mAmin。当焦距改 变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。由4.4.1条规定可知，在相同焦距情况下，B级检测比AB级检测要求的最小 曝光量大，曝光量的增大有利于改善底片颗粒度，进而提高对比度。曝光量增大意味着曝光时间的延长，检测效率的降低，检测成本的提高。九、不同检测技术级别对底片黑度D的规定JB/T4
10、730.2-2005 标准第 4.11.2 条就有关不同检测技术级别对底片黑度 D 的 规定如下：4.11.2 底片评定范围内的黑度 D 应符合下列规定：A 级：1.5WDW4.0;AB 级:2.0WDW4.0;B 级：2.3WDW4.0。用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许 降至1.5; B级最低黑度可降至2.0由4.11.2条规定可知，无论是透照普通工件还是截面厚度变化大的工件，B 级检测比AB级检测要求的最低黑度值都要高。这是因为，对于承压设备射线照 相检测用的都是非增感型胶片，这种胶片的梯度随黑度的增加而增加，而梯度的 增加能提高射线检测对比高，进而提高灵敏度。黑底的增加，需要曝光时间的延长，检测效率下降，检测成本提高。十、不同检测技术级别对底片的像质计灵敏度的规定JB/T4730.2-2005 标准第 4.11.3 规定了不同检测技术级别的像质计灵敏度度， 由于内容较多，在此就不一一引述，大致要求是B级检测比AB级检测应识别的 丝号高 12 级。这是因为由于前述规定采取了各种提高检测灵敏度的措施，在 本条规定中用像质计灵敏度进行量化表示。如有侵权请联系告知删除，感谢你们的配合！
