试验一叶脉书签的制作

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1、實驗六:光學顯微鏡分析法班級:四高二A組別:第O組實驗者:學號: 4980G037 姓名:許峻杰基礎儀器分析實驗:光學顯微鏡分析法一、光學顯微鏡的原和目的: 光學顯微鏡是一種用透鏡產生光學放大效應的顯微鏡。由物體入射的光被至少個光學系統(物鏡和目鏡)放大。一般的 光學顯微鏡有多個可以替換的物鏡,這樣觀察者可以按需要換放大倍。光學顯微鏡的解析是有極限的, 1600 倍為光學 顯微鏡放大倍的最高極限。光學顯微鏡的解析受到光波長的限制,一般超過 0.3 微米。假如顯微鏡使用紫外線作為光 源或物體被放在油中的話,解析還可以得到提高。二、0M的種與用途:OM依樣品的同可分為反射式和透射式。1 反射顯微鏡

2、: 其樣品-般是透明的,光從上面照在物體上,被物體反射的光進入顯微鏡。這種顯微鏡經常被用觀察固體等, 多應用在工學、材域,如屬 和礦物等透明物體 相組織的顯微鏡,稱作相顯微鏡,也廣泛用於積體電矽片的檢測工作。2透射顯微鏡的物體是透明的或非常薄,光從可透過它進入顯微鏡。這種顯微鏡常被用觀察生物組織。依特性分為:1. 明視野顯微鏡:用自然光或電燈光源,依光學原,使檢體本身呈暗的態,背景為明的態,此型顯微鏡-般實驗室最常用。2. 暗視野顯微鏡:加裝集光器,引導光源進的徑,使檢體呈明,背景則呈暗影,可觀察活菌體。3. 紫外線顯微鏡:使用紫外線為光源,波長較短,所以解像約為一般顯微鏡的2倍,但是紫外線無

3、法目視,需要將影像顯示在螢幕上。4. 螢光顯微鏡:有些處過的檢體可以吸收紫外線,放出較長波長的可光,此現象稱為螢光反應,這種使檢體產生螢光的螢光染色劑,可以用在抗體免疫技彳術之應用。5. 位相差顯微鏡:主要設置為一位相差物鏡及聚光鏡,用菌體各部位密的差,產生光線折射的同,使細胞同部位的對比強,藉而分辨細胞內同的構造。可用相位差功能觀察活菌體。6. 偏光顯微鏡(POM):應用域有屬材。複合材。玻璃、陶瓷材。電板材。材/紙材。3電子 顯微鏡 ( EM):是使用電子展示物件內部或表面的顯微鏡。高速電子的波長比可光的波長短(而顯微鏡的解析受其使用的波長的限制,EM的解析約 0.1nm,遠高於光學顯微鏡

4、的解析(約 200 nm )。電壓差非常高,-般 在千伏到 3百萬伏之間。電子透鏡用聚焦電子。電子透鏡的作用與光學顯微鏡中的光學透鏡的作用是一樣的。真 空裝置用以保障顯微鏡內的真空態,這樣電子在其徑上會被吸收或偏向。種有 穿透式電子顯微鏡(TEM)可以直接獲得-個樣本的投影。在顯微鏡中電子穿過樣本,樣本必須非常薄。 掃描式電子顯微鏡(SEM)中的電子束儘聚焦在樣本的一小塊地方,然後一一地掃描樣本。入射的電子導致樣本表面散發出電子,顯微鏡觀察的是這些每個點散射出的電子。由於電子必透射樣本,其加速電壓必非常高。 場發射掃描電子顯微鏡 是-種比較簡單的電子顯微鏡,它觀察樣本上因強電場導致的場發射所散

5、發出的電子。4掃描隧道顯微鏡(STM),是-種用子 中的隧道效應探測物質表面結構的儀器。它主要是用-根非常細的鎢屬探針,針尖電子會跳到待測物體表面上形成穿隧電,同時,物體表面的高低會影響穿隧電的大小,針尖隨著物體表面的高觀察物體表面的納米結構,是顯微鏡技術的-大進展,低上下移動以維持恒定的電,依此觀測物體表面的形貌。應用於也成為往後納米技彳術中的主要分析工具,專門用觀測屬或半導體的表面。可原子顯微鏡(AFM)用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用,從而達到檢測的目的,具有 原子級的解析。由於AFM既可以觀察導體及非導體,從而彌補STM的足。其目的是為使非導體也可以採用似掃描探

6、針顯微鏡(SPM)的觀測方法。AFM與STM最大的差別在於並非用電子 穿隧效應,而是檢測原子之間的接觸,原子鍵合,凡德 瓦耳 或喀希米爾效應等呈現 樣品的表面特性。相對於SEM,AFM優點:同於電子顯微鏡只能提供二維圖像,AFM提供 真正的三維表面圖。AFM需要對樣品的任何特殊處,如鍍銅或碳,這種處對樣品會造成可逆轉的傷害。SEM需要運在 高真空 條件下,AFM在常壓下甚至在液體環境下可以好工作。這樣可以用研究生物宏觀分子,甚至活的生物組織。和SEM相比,AFM的缺點在於成像範圍太小,速慢,受探頭的影響太大。三、觀察結果:(請出各種 OM 之照片並加以簡單明 )、IW.衛生紙紙板布毛線屬塊 塑膠袋四、討:五、結:、資源: (請將報告張貼在網頁上,即算交報告)附件一、截圖方法:1. 按下鍵盤上的Print Screen按鈕(於F12旁邊或是Backspace的右邊);2. 開啟小畫家編輯貼上圖片或是直接按 Ctrl + V;3. 點取選擇然後截取所想要的圖片. 點右鍵選擇剪下 or 複製;4. 開新檔案貼上所截取的圖片另存新檔,檔案型選取為 JPEG

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