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1、实验二 晶体管单级共射放大电路静态工作点测试、实验目的1、掌握放大器静态工作点的调试方法及其对放大器性能的影响。2、观察放大电路参数对放大器指标的影响，了解共射极电路特性。3、熟悉电子元器件和模拟电路实验箱。二、实验仪器1、数字示波器2、函数信号发生器3、数字万用表4、模拟电路实验箱三、预习要求1、三极管单级共射放大电路的工作原理。2、如何理论估算放大电路的静态工作点？ 3、实验中，应怎样调整合适的静态工作点，预想实验现象将会怎样？四、实验原理图11为电阻分压式单管放大器实验电路图。它的偏置电路采用rb1和rB2组成的分 B1 B2压电路，并在发射极中接有电阻RE，以稳定放大器的静态工作点。R
2、p用来调节静态工作 点。当在放大器的输入端加入输入交流电压信号v.后，在放大器的输出端便可得到一个与 iv.相位相反，幅值被放大了的输出交流电压信号v,从而实现了电压放大。IUcc图 21 共射极单管放大器实验电路晶体管为非线性原件，要使放大器不产生非线性失真，就必须建立一个合适的静态工作点(Q点)，使晶体管工作在放大区。当Q点合适时，输入大小合适的信号，输出波形 不失真，若Q过低，如图2-2所示，则IB小，Ic小，VCE大，晶体管进入截止区，产生截BCE止信号，如图2-3 (A)所示；当Q点过高，即IB大，则Ic大，VCE 小,从而进入饱和BCE区，产生饱和失真；如图1-3 (b)所示。图2
3、2电路参数对静态工作点的影响图2 3静态工作点对vo波形失真的影响因此，在完成放大器的设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各 项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。因此，除了学 习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，放大器各项动态参数的测量与调试。实 验一主要针对对静态工作点的测量和调试。（1）静态工作点的调试如图2-2所示，放大器静态工作点的调试是指对管子集电极电流IC （或VCE）的调整 与测试。静态工作点是否合适，对放大器的性能和输出波形都有很大影响。测量时，静
4、态 工作点应选在输出特性曲线上交流负载线的中点。如工作点偏高，放大器在加入交流信号 以后易产生饱和失真，此时v。的负半周将被削底，如图23（a）所示；如工作点偏低则易 产生截止失真，即v。的正半周被缩顶，如图2 3（b）所示。对于线性放大电路而言，这些 情况都不符合不失真放大的要求。改变电路参数V （电源电压），RC，RB，都会引起静态工作点的变化，但当电路参数CC 确定后，工作点的调整主要通过电位器调节来实现，输入合适的信号时，使输出波形达到 最大且不失真，即为最佳的静态工作点。（考虑电位器增大或减小时，工作点的变化情况）注意：即使Q点合适，若输入信号过大，则输出波形的饱和和截止失真会同时出
5、现。（2）静态工作点的测量在图1 1电路中，当流过偏置电阻Rb1和RB2的电流远大于晶体管T的基极电流IB时B1 B2 B（一般510倍，考虑原因？ !，则它的静态工作点可用下式估算RV 沁 B1 Vb R + R ccB1 B2IV VTIBTERcEV = VCC - Ic(RC + Re)CE测量放大器的静态工作点，应在输入信号v=0的情况下进行，即将放大器输入端与地i端短接，然后选用量程合适的直流毫安表和直流电压表，分别测量晶体管的集电极电流IC 以及各电极对地的电位VB、VC和VE。一般实验中，为了避免断开集电极，所以采用测量B C E电压ve或VC，然后算出IC的方法，例如，只要测
6、出ve,即可用t V VIC沁IE = R 算出IC （也可根据IC = cCr C，由VC确定IC）,RERC二 V V同时也能算出V VBVE , VCEC E。BECE五、实验内容及步骤按照图2-1所示，连接单级共射放大电路，将Rp调节到最大，检查连线确认无误后，再 接通+12 V直流电源。1 、 观察静态工作点对波形失真的影响重新将 Rp 调节到最大状态，将函数发生器输出设定为频率1 KHz 的正弦波，将其 输出与放大器输入端连接。打开示波器，分别将通道1， 2与函数发生器的输出端和 放大器的输出端连接。注意需将各仪器的公共地端连接在一起。调节函数发生器的输出幅值由小逐渐变大，同时调节Rp,在示波器上观察输入和输出两个波形有何变化。通过观察，记录当输出波形达到最大且不失真的过程中， VBEBE（V）和VCE（V）的值，计算集电极电流IC的值，并记录波形达到最大且不失真时CECRp 的值。表1-12、测量静态工作点将输入端接地，输入信号为零。缓慢调节Rp,用数字万用表测量VB，VC,及VE的 对地电压（直流），并计算VBE（V）和VCE（V），填入表1-2。BECE表 1-2六、实验报告1、列表整理测量结果2、讨论静态工作点变化对放大器输出波形的影响及晶体管的工作状态3、分析讨论在调试过程中出现的问题
