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1、通用运算放大器主要参数测试方法说明1.运算放大器测试方法基本原理采用由辅助放大器（A）与被测器件（DUT）构成闭合环路的方法进行测试，基 本测试原理图如图1所示。辅助放大器应满足下列要求：开环增益大于60dB； 输入失调电流和输入偏置电流应很小；动态范围足够大。环路元件满足下列要求：满足下列表达式Ri IbVVosRVRidR Ib VosRosVRfVRidR1 = R2R1RL式中：Ib：被测器件的输入偏置电流；Vos :被测器件的输入失调电压；Rid :被测器件的开环差模输入电阻；Ros :辅助放大器的开环输出电阻；Rf/ Ri值决定了测试精度，但须保证辅助放大器在线性区工作。2.运算放
2、大器测试适配器SP-3160III数/模混合集成电路测试系统提供的运算放大器测试适配器便是根据 上述基本原理设计而成。它由运放测试适配板及一系列测试适配卡组成，可以完 成通用单运放、双运放、四运放及电压比较器的测试。运算放大器适配器原理 图如附图所示。3.测试参数以OP-77G为例，通用运算放大器主要技术规范见下表。ELECTRUCAL CHfifiACTERISTICS at 1 -*- uh耕* Mlwwr睫mEMF-IU4ETK*SMba-LCQKDITiiaHilMiNOP-FTE TY心MH&P-7TfOP-TOHUNmTYPWMiX肖IMTPHJUhSK女MMMl心LhLfing
3、TbmnE-J由Qi_ViWkiU3ifi-J仕*:aAli-pEl U n C jin 11-471 3iXi13t431 174iAC-HrclJ-a IhtfriAJ理瞒口胡G860留djSimiiiwiMhId L*e ieT打i.= i(Ku*irItJ，上IIJUaM23jago g ll.olgidiW川4 iJ IIJiyl kiriiaR GuTififIaIB引n*fl4133，密Ib-ulIgTtHZD#岫gD骚她、0 1SCH IMMflu4呻WPf H!如-+KSDH:C.V013liMi lArw- 4TaFIHail UliTIf Ki A)SB-5单Milla|
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6、1.2测试方法：测试原理如图2所示。宁图2 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2)电源端施加规定的电压； 开关“K4”置地(或规定的参考电压)； 在辅助放大器A的输出端测得电压Vlo；计算公式：Vos=(Ri/(Ri+Rf)*VLo 。3.1.3编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160)-测试名称:vos-测量方式：VosBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=0.0001 V测量低限=V测量延迟：50mS箝位延迟：50mSSKon=0,4,11,12,13,19,23
7、,27电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCVDCV 量 程:+/-2V3.2 参数名称：输入失调电流Ios (Input Offset Current)。3.2.1参数定义：使输出电压为零(或规定值)时，流入两输入端的电流之差。3.2.2测试方法：测试原理如图3所示。在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2)电源端施加规定的电压；开关K4置“地”(或规定的参考电压)；开关K1、K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL0； 开关K1、K2断开，在辅助放大器A的输出端测得电压VL1；(6)计
8、算公式：Ios=(Ri/(Ri+Rf)*(VL1-VL0)/R)。3.2.3编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160)测试条件详见下一参数。3.3参数名称：输入偏置电流Ib (Input Bias Current)o3.3.1参数定义：使输出电压为零(或规定值)时，流入两输入端电流的平均值。3.3.2测试方法：测试原理如图4所示。 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2)电源端施加规定的电压；开关K4置“地”(或规定的参考电压)；开关K1断开、K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL2；开关K1闭合、K2断开，在辅助放大器A的输出端测得电压VL3；(6)计算公
9、式：Ib=(Ri/(Ri+Rf)*(VL2-VL3)/2R)。3.3.3编程举例：(测试对象:OP-77G,测试系统：SP3160)-测试名称:Ib/Ios-测量方式:Ib/IosBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=2.8 nA测量低限=2.8 nA测量延迟：10mS箝位延迟：10mSSKon=0,4,11,12,13,19,23,27电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCV:+/-2V 程 量 DCV.3
10、.4参数名称：开环电压增益 Avo (Large Signal Voltage Gain)。3.4.1参数定义：器件开环时，输出电压变化与差模输入电压变化之比。3.4.2测试方法：测试原理如图5所示。在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；电源端施加规定的电压；开关K4置“1”，在辅助放大器A的输出端测得电压VL4；开关K4置“2”，在辅助放大器A的输出端测得电压VL5；计算公式：Avo=(Vref-Vref)/(VL4-Vl5)*(Ri+Rf)/Ri) -+或Avo=20lg(Vref-Vref)/|(VL4-Vl5)|)*(Ri+Rf)/Ri)(dB)。-+3.4.3编程举例：(测试
11、对象:OP-77G,测试系统：SP3160) -测试名称:Avo-测量方式:Op_AvoBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限= dB测量低限=126 dB测量延迟：10mS箝位延迟：10mSSKon=0,4,11,12,13,17,19,23,27电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=-5_5V 电压基准源3量程+/-10V 测试通道TP1测量单元DCV:+/-2V 程量 DCV.3.5参数名称：共模抑制比 CMRR (Common-Mode Rejection Ra
12、tio)。3.5.1参数定义：差模电压增益与共模电压增益之比。3.5.2测试方法：测试原理如图6所示。图6 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2)电源端施加规定的电压；输入端施加规定的直流共模信号电压Vic+，在辅助放大器A的输出端测得电压VL6；输入端施加规定的直流共模信号电压Vic-，在辅助放大器A的输出端测得电压VL7；计算公式：CMRR=(Vic-Vic)/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri) -+或CMRR=20lg(Vic-Vic)/(VL6-VL7)*(Ri+Rf)/Ri)(dB)。-+3.5.3编程举例：(测试对象:OP-77G,测试系统：SP3160)-测试名称:CMRR-测量方式:CmrrBias 1=-5_-25 VClamp1=-10.000mABias 2=25_5 VClamp2=10.000mA测量高限= dB测量低限=116 dB:10mS测量延迟箝位延迟：10mSSKon=0,4,11,12,13,18,19,23,27电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=-5_5V电压基准源3量程+/-10V测试通道TP1测量单元DCV:+/-2V
