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1、一填空题1. X 射线管主要由阳极、阴极2. X 射线透过物质时产生的物理效应有：、和窗口构成。散射 、 光电效应、 透射X射线 、和热。3.德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装 和偏装三种。4. X 射线物相分析方法分： 定性 分析和 定量 分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量 分析方法。5.透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应 和 像差 两因素影响。6.今天复型技术主要应用于萃取复型 来揭取第二相微小颗粒进行分析。7. 电子探针包括 波谱仪 和 能谱仪 成分分析仪器。8.扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子 。9.X 射线的本质是一种电磁辐射 ，同时具有波动
2、性和粒子性的特征。10. 晶体点阵中的一个二维阵点平面在倒易点阵中表示为一个倒易阵点。11. 透射电镜中的电磁透镜从电子枪到荧光屏的排列顺序为：聚光镜、物镜、中间镜、投影镜。12.内应力包括：宏观应力，微 观 应力，超微观应力。13 衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。14当 X 射线管电压低于临界电压仅可以产生连续谱X 射线；当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生连续谱 X 射线、特征谱X 射线 。15. 射线的短波限取决于管电压。16 线衍射仪测定宏观应力是根据它使衍射峰发生位移的原理进行的。17. 分子散射包括（ 拉曼散射）和（瑞利散射） 。1
3、8.X 射线衍射方法 （劳埃法）（旋转晶体法）（粉末法）（衍射仪法）。19. 特征 X 射线产生的根本原因是（原子内层电子的跃迁）。20. 衍射花样的基本要素 （衍射线的峰位）（线形）（强度）。21. 透射电子显微镜的分辨率主要受 （衍射效应）和（像差） 两因素影响。22. 电子探针包括 （能谱仪）和（波谱仪） 成分分析仪器。23. 扫描电子显微镜常用的信号是 （二次电子）和（背散射电子） 。24. 人眼的分辨率本领大约为 （0.2nm）选择题1. X 射线衍射方法中最常用的方法是（b）。A 厄法； B末多晶法；C 转晶体法。2.已知X 光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。a Co；b.
4、Ni；c. Fe。3. X 射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c ）。a哈氏无机数值索引 ；b. 芬克无机数值索引； c. 戴维无机字母索引。4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。a 第二聚光镜光阑；b.物镜光阑； c.选区光阑。5.透射电子显微镜中可以消除的像差是（b）。a球差 ； b. 像散 ；c.色差。6.可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。a高阶劳厄斑点； b.超结构斑点； c.二次衍射斑点。7.电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。a背散射电子； b. 俄歇电子；c.特征 X 射线。8.中心暗场
5、像的成像操作方法是（c）。a以物镜光栏套住透射斑；b以物镜光栏套住衍射斑；c将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。9. 用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是（B ）A.X 射线透射学； B.X 射线衍射学； C.X 射线光谱学； D.其它10.M层电子回迁到 K 层后，多余的能量放出的特征X 射线称（B）A.K； B.K；C.K；D.L。11.当 X 射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（B）ACu；B.Fe；C.Ni ； D.Mo。12.当电子把所有能量都转换为X 射线时，该X 射线波长称（A）A. 短波限 0；B. 激发限 k；C. 吸收限； D. 特征 X 射线13. 当 X 射线将某
6、物质原子的 K 层电子打出去后， L 层电子回迁 K 层，多余能量将另一个 L 层电子打出核外，这整个过程将产生（D）（多选题）A. 光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （ A+C）14. 布拉格方程是晶体对X 射线衍射的A充分条件B.必要条件.(B）C.充要条件D.A、B、C都不对15.X射线测定宏观应力计算公式为=KM其中K 为应力常数，它与有关。（A）A 试样的力学性能B. 入射 X 射线波长16 测 Fe 基材料最好作阳极靶。（CC.所选择的反射晶面）A CuB.MoC.CoD.Ni17 闪烁计数器是根据X 射线的的特性而设计的。（C）A具有穿透性B.能使气体电离C.使
7、荧光物质发光D.使照相底片感光18 由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律而造成的像差，称为。（A）A球差B.畸 变C.色差D.象散19 电子束与固体样品相互作用会产生各种信号，下列信号中能量最小的是。 （A）A俄歇电子B. 二次电子C. 背散射电子D.吸收电子20 质厚衬度与下列无 关 。（D）A厚度B.原子序数C.密度D. 晶体结构21 在扫描电子显微镜中，基本与样品成份无关的图象衬度是。 （D）A背散射电子象B. 吸收电子象C.透射电子象22 电镜的放大倍数取决于A聚光镜和物镜。 （D.二次电子象C）B.中间镜和物镜C.物镜、中间镜和投影镜D.物镜、聚光镜、中间
8、镜和投影镜23 子束照射多晶体可能得到A菊池线花样花样。 （BB.同心圆环）C.斑点和菊池线花样D.弥散环24 衍射与X 射线衍射有所区别的主要根源是。（D）A电子带负电荷而同C.电X 射线光子为中性粒子子波长比X射B.偏离矢量不线波长短得多D.消光规律不同25 线衍射方向取决于。（C）A晶胞中的原子种类B.原子在晶胞中的位置C.晶胞的大小和形状D.晶胞中的原子种类及原子在晶胞中的位置26 线衍射仪中的联合光阑由和构成。 （B）A聚光镜光阑，物镜光阑B窄缝光阑，梭拉光阑C窄缝光阑，选区光阑D梭拉光阑，选区光阑27. 分析钢中碳化物成分和基体的碳含量（ A）A 波谱仪 B 能谱仪28. 测定聚合
9、物的熔点（ C）A 红外光谱 .B紫外光谱C 查热分析29. 下列（ A）不能分析水泥原料的化学组成A 红外光谱 BX 射线荧光 C 等离子体发射30. 半导体的表面能带结构，可用（D）A 红外光谱 B 透射电镜 CX射线 D紫外光谱31. 下列晶面不属于【 110】晶带（ B）A（001） B（ 100）C（ 010）32. 几种高聚物组成的混合物的定性和定量分析，可用（A）A 红外光谱 B 俄歇电子光谱 C扫描电镜33. （ A）可用测定方解石的点阵常数AX射线衍射分析 B 红外光谱 C原子吸收光谱34. 合金钢膜中极小弥散颗粒的物相鉴定，可用（ D）AX射线衍射 B紫外光谱 C差热分析
10、D透射电镜35. . 当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后， L 层电子回迁 K 层，多余能量将另一个 L 层电子打出核外，这整个过程将产生（ D）。A. 光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （A+C）36. 有一体心立方晶体的晶格常数是 0.286nm，用铁靶 K（ K=0.194nm）照射该晶体能产生（ B ）衍射线。A. 三条； B . 四条； C. 五条； D. 六条。37. 最常用的 X 射线衍射方法是（B）。A. 劳厄法； B. 粉末多晶法； C. 周转晶体法； D. 德拜法。38. 测定钢中的奥氏体含量，若采用定量 X 射线物相分析，常用方法是（ C）。
11、A.外标法； B.内标法； C.直接比较法； D.K 值法。39.可以提高 TEM的衬度的光栏是（B）。A. 第二聚光镜光栏； B. 物镜光栏； C. 选区光栏； D. 其它光栏。40.如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D）。A. 六方结构； B. 立方结构； C. 四方结构； D. A 或 B。41. 将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ C ）。 A. 明场像； B. 暗场像； C. 中心暗场像； D. 弱束暗场像。42. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ B ）。A. 背散射电子； B. 二次电子； C. 吸收电子； D. 透射电子。43 成分和价键分析手段包括【b】（ a） WDS、能谱仪（ EDS）和XRD（b）WDS、EDS 和
