一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法

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(19 )中华人民共和国国家知识产权局P( 12 )发明专利申请(10)申请公布号CN109030298A(43 )申请公布日2018.12.18(21 )申请号 CN201811295091.0(22)申请日 2018.11.01(71 )申请人山东理工大学地址255086山东省淄博市高新技术产业开发区高创园A座313室(72 )发明人刘伟;秦福元;王雅静;申晋;马立修;陈文钢(74 )专利代理机构淄博佳和专利代理事务所代理人孙爱华权利要求说明书说明书幅图(54 )发明名称一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测量方法(57)摘要一种后向散射纳米颗粒粒度测量装置及测 量方法,属于颗粒粒度检测技术领域。其特征在 于:在样品池(1)的后侧依次设置有透镜(5)、激光器(8)和GRIN透镜(9),GRIN透 镜(9)的输出端连接光电倍增管(10)的输入 端,光电倍增管(10)的输出端连接光子相关器(11)的输入端;还设置有用于调节透镜(5)与 样品池(1)之间间距的透镜调节装置,所述透镜(5)置于透镜调节装置内。通过本后向散射纳米

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