激励器测试报告

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1、测试报告一、激励信号1. 载频频率技术指标:525MHz/1KHz步进测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,并设置载频频率步进1kHz,用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出频率。在5MHz到25MHz范围抽测4个频点。 载频频率测试记录设定频率(MHz)测试频率(MHz)步进频率(KHz)测试频率(MHz)备注5.2835.28315.28410.25610.256110.25715.51215.512115.51324.82824.828124.8292. 调频频偏技术指标:20/30/50(KHz )测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率和调频频偏。在5MHz到15M

2、Hz范围内抽测3个频率,每个频率设定两个调频频偏,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。调频频偏测试记录载频频率(MHz)设定频偏(KHz)测试频偏(KHz)设定频偏(KHz)测试频偏(KHz)5.252019.63029.410.453029.55048.914.855049.72019.63. 调频周期技术指标:12/24/240 (ms)测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,调频周期。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出。设频谱仪中心频率为载频频率,SPAN=500Hz,RBW=1Hz,分别读出两根相邻谱线

3、的频率,调频周期为两根相邻谱线频率差的倒数。 调频周期测试记录载频频率(MHz)设定周期(ms)测试周期(ms)设定周期(ms)测试周期(ms)5.152020303010.253030505014.45505020204. 调制脉冲周期技术指标:1.0/1.2/1.5/2.0/2.4(ms)测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,调制脉冲周期,调频周期。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。调制脉冲周期测试记录载频频率(MHz)设定周期(ms)测试周期(ms)设定周期(ms)测试周期(ms)5.451.01.02.02

4、.010.851.21.22.42.414.251.51.51.01.05. 调制脉冲宽度技术指标:0.10.5(ms)测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,调制脉冲周期,调制脉冲宽度。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。调制脉冲宽度测试记录载频频率(MHz)设定宽度(ms)测试宽度(ms)设定宽度(ms)测试宽度(ms)5.450.10.10.40.410.850.20.20.50.514.250.30.30.10.16. 输出功率:技术指标:20dBm/(7dB可调,1dB步进)测试方法:在计算机的控制面板上设定

5、载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,并分别设定输出衰减(17)dB;使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。输出功率测试记录载频频率(MHz)输出功率(dB)设定衰减(dB)测试值(dB)备注5.1520.24119.2410.8520.06317.0614.4518.81711.819. 相位噪声技术指标:L(1Hz)-75dBc/Hz测试方法:使用PN9000相位噪声测试系统,任选低、中、高三个频率点,用HP8662信号发生器作参考源,测试富氏频偏为1Hz至1MHz的相位噪声。10.下边带抑制技术指标:65dB测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在

6、5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。下边带抑制测试记录载频频率(MHz)载频功率(dBm)边带功率(dBm)边带抑制(dB)备注5.4520.24-56.276.4410.8520.06-57.177.1614.2518.81-60.4178.8211.杂散抑制技术指标:80dB(以内)测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱的功率。设Span=4MHz, RBW=1KHz杂散抑制测试记录载频频率(MHz)载频功率(dBm)杂散功率

7、(dBm)杂散抑制(dB)备注5.4519.9-58.6-78.510.8519.2-59.0-78.214.2518.7-60.2-78.912.谐波抑制技术指标:30dB测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱的功率。设Span=40MHz, RBW=1KHz谐波抑制测试记录载频频率(MHz)载频功率(dBm)谐波功率(dBm)谐波抑制(dB)备注5.4519.7-6.826.510.8519.9-8.327.914.2518.6-1129.613.边带电平技术指标:-80dB相对载波功率

8、测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,控制激励器输出线性调频脉冲调幅信号。使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出,可用两种方法测试:1, 设置频谱仪中心频率为载频频率,SPAN=700KHz,RBW=1Hz,分别读出和处的幅度值。2, 设置频谱仪中心频率为载频频率, SPAN=500KHz,RBW=1Hz,先读出的幅值,重新设置频谱仪中心频率为,设置适当的参考电平,再读出的幅值。边带电平测试记录载频频率(MHz)载频功率(dBm)边带功率(dBm)边带抑制(dB)备注5.25-12.67-9582.330.1/1.0(ms)10.85-15. 5-10286.50.1/1.0

9、(ms)14.25-14.3-11095.70.1/1.0(ms)1. 调频周期技术指标:12/24/240 (ms)测试方法:在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为5.15 MHz、 14.25 MHz、 24.45 MHz,每个频率设置两个不同的调频周期。使用HP8560E型频谱分析仪测试一本振输出,设频谱仪中心频率为载频频率,SPAN=500Hz,RBW=1Hz,分别读出两根相邻谱线的频率,调频周期为两根相邻谱线频率差的倒数。调频周期测试记录载频频率(MHz)设定周期(ms)测试值(ms)设定周期(ms)测试值(ms)145.1512122424150.252424240240164

10、.4524024012124. 调频频偏技术指标:20KHz/30 KHz/50 KHz测试方法:在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为5.35 MHz、 14.55 MHz、 24.75 MHz,每个频率设置两个不同的调频频偏。使用HP8560E型频谱分析仪测试一本振输出,设定频谱仪中心频率为载频频率,SPAN=100KHz,RBW=10Hz, 调频频偏测试记录载频频率(MHz)设定周期(KHz)实测周期(KHz)设定周期(KHz)实测周期(KHz)145.3520205050150.5530302020164.75505030305. 杂散抑制技术指标:80dB(以内)测试方法:在计算

11、机的控制面板上设置“输出频率”分别为5.25 MHz、 14.85 MHz、 24.25 MHz,设置“信号形式”为单频。使用HP8560E型频谱分析仪测试一本振输出信号的频谱的功率。设Span=4MHz, RBW=1KHz杂散抑制测试记录载频频率(MHz)载频谱(dBm)杂散谱(dBm)杂散抑制(dB)备注145.25 3.5-77.581154.854.17-76.8381164.25 3.17-78.83826. 相位噪声技术指标:L(1Hz)-75dBc/Hz测试方法:使用PN9000相位噪声测试系统,任选低、中、高三个频率点,用HP8662信号发生器作参考源,测试富氏频偏为1Hz至1

12、MHz的相位噪声。测试结果:载频频率(MHz)相位噪声(dBc/Hz)备注145.25-75四、系统同步信号1) 收发开关控制信号技术指标:1. 输出电平:TTL2. 脉冲周期:1.0/1.2/1.5/2.0/2.4(ms)测试方法:在计算机的控制面板上设置“输出频率”分别为6.5 MHz、 11.5 MHz、 14.5 MHz, 设置“信号形式”为线性调频,设置不同的调频频偏和脉冲周期,设置“系统状态”为启动。使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。脉冲周期测试记录载频频率(MHz)设定值(ms)测试值(ms)设定值(ms)测试值(ms)6.51.01.02.02.011.51.21.22.42.414.51.51.51.01.08

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