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1、天线测试综合报告1测试总结表1测试总结产品型号样机数量硬件版本测试人员测试日期软件版本测试类别天线耦合测试天线数量测试依据硬件测试规范GSM移动终端产品（V 1.0）天线厂名称故障级别故障现象描述备注严重一般轻微测试结论测试结论为：不通过1. 1 射频测试，衰减设置：900MHz -15 d B, 1800MHz -20 d B.测试目的：测试天线的发射功率，灵敏度等参数，这些参数都会对通话效果（包括掉线，呼入，呼出的难易 程度）产生影响。（对天线方面的知识可以参看本公司的相关资料）测试设备：Agilent66319B/D电源，综合测试仪（HP8960）,射频线。测试步骤：a）用射频线连接主板
2、射频口；b）由程控电源供电；c）主板插入仪器用的SIM卡；d）开机呼通后开始各参数测试，将测试数据填入下表中。 必要时对各个信道做一次全面扫描。天线耦合测试结果样机编号测试项目发射功 率(dBm)功率/ 时间 包络频率误 差(Hz)相位 误差 (峰值)相位 误差 (平均)调制 谱开关 谱灵敏 度(dBm)发射功率(dBm)1#(GSM) PCL5101519332P/F452003.5P/FP/F-10223 313 35 5TCH1TCH62TCH124TCH975(DCS) PCL051015302P/F902003.5P/FP/F-10220 310405TCH512TCH698TCH8852#(GSM) PCL5101519332P/F452003.5P/FP/F-10223 313355TCH1TCH62TCH124TCH975(DCS) PCL051015302P/F902003.5P/FP/F-10220 310405TCH512TCH698TCH885
