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1、XX大学申请购置大型贵重仪器设备论证报告设备 名称: 申请单位（公章） 设备购置责任人 设备管理实验室名称 填表 时间大功率X射线衍射仪XX大学XX学院XXXXXXX重点实验室2012年11月5日注：1.凡购置大型贵重仪器设备用于实验教学的，需附教学计划、教学大纲等有关资料。2. 凡教育部管23种仪器设备及单价10万元及以上大型贵重仪器设备需认真填写此表，一式三份XX大学申请购置大型贵重仪器设备论证报告（表1）申请单位：XX大学XX学院（公章）设备购置责任人：XXX名称大功率X射线衍射仪规格型号_,. TMSmartLab拟购仪器设备主要技术指标:见下页！制造国别制造厂家全名购置单价总价数量人
2、民币 (万元)美元(万元)人民币 (万元)美元(万元)日本Rigaku Co.115424.715424.7资金 来源安装 地点1号教学楼用房面积15m2仪器 设备 工作 条件用电功率使用电压对房屋、温度、湿度要求现有条件可否满足9KW380V常规条件满足系统的主要组成及技术指标一、系统的主要组成：1、X射线发生单元1) 9KW X 射线发生器(9KW X-ray generator)2) 防护罩(Radiati on en closure)3) 旋转阳极靶(Rotati ng An ode Cu )4) 阴极 0.48mm2)5) 灯丝 3pcs/set (Fillament 3pcs/se
3、t)2、测角仪单元(Gon iometer)theta-theta 三重光学编码高精度测角仪(SmartLab theta-theta gon iometer )3、光路单元：入射光路：聚焦/平行自动切换光学透镜(Cross Beam Optics);入射索拉狭缝(Incident soller slit 5.0deg );自动 可变分光狭缝(Automatic variable diverge nee slit )接受光路：自动可变散射狭缝(Automatic variable scattering slit );接受索拉狭缝(Receiving soller slit 5.0deg)； 平
4、行狭缝分光器(Parallel slit analyzer PSA 0.5);自动可变接受狭缝(Automatic variable receiving slit );石墨单色器 (Graphite coun ter mono chrometer )4、标准样品台单元：标准配置样品台 (Z轴可调)(Z-axis standard sample stage )5、Detector检测器单元：高灵敏度闪烁探测器(Scintillation countor )6、软件：1)专家智能操作系统(SmartLab Guida nee software )2) Data Processing Softwar
5、ePDXL with ICDD PDF-2 Data Base (数据处理软件PDXL,带 ICDD PDF-2 数据库), 包括Basic system 基本；Search-Match 定性分析;Application software PDXL応用解析(*点阵参数精密化&晶粒 大小与晶胞畸变；*结晶度分析)；ICDD PDF2 Database (ICDD PDF-2数据库)7、中国购(Local supply equipment (China made)1) X 射线发生器用循环水(Water chiller for X-ray generator )2) 控制计算机与打印机(Con t
6、roll PC (Win dows XP) and Printer)Dell brand WinXP PC Pe ntium Duo CoreDVD/RW; 17 inchs flat pa nel colour mon itorHP Laser Prin terMain Memory: 512M or more; Hard Disk: 120GB or more二、技术指标：1、设备名称、数量:1.1设备名称：X射线衍射仪1.2数量：1套2、工作条件2.1 电源 220V&380 V (10%), 50Hz2.2环境温度205T2.3相对湿度V 70 %2.4连续工作时间：连续操作3、技术要
7、求3.1 X射线发生器3.1.1最大输出功率：为kW3.1.2 管电压：20-45kV3.1.3 管电流：10-200mA3.1.4 X射线防护当量：0.5mm铅 当量3.1.5连锁保护3.2旋转阳极靶：3.2.1靶材：Cu靶一个3.2.2最大工作功率 为kW3.2.3 灯丝尺寸： 0.4 x 8mm3.3测角仪：3.3.1扫描方式：/ 方式3.3.2角度重现性：+/- 0.0001 度3.3.3最小可控步长：0.0001度3.3.4测角仪半径：為00mm3.3.5光学编码：双光学编码，测角仪入射轴和接收轴分别直接定位3.4程序式自动可变狭缝，围如下:341程序式自动入射狭缝，可变围 为.05
8、-7mm （0.01mm/步）3.4.2程序式自动接收狭缝，可变围 为.05-7mm （0.01mm/步）3.4.3程序式自动防散射狭缝，可变围 为.05-7mm （0.01mm/步）3.5器件识别和安装：3.5.1所有器件具有ID自动识别标识，通过传感器自动识别3.5.2附件采用一触式”连接技术3.6标准样品台：3.6.1自带Z轴，可在垂直方向上自动调整样品位置3.6.2调整围：羽0mm3.6.3 最小步进：0.0005mm3.7闪烁计数器：3.7.1探测器类型：Nal闪烁计数器3.7.2 动态围：1x106cps3.7.3配备高反射率的石墨单色器3.8软件：3.8.1仪器通过Guida n
9、ee智能引导软件控制，系统可以自动判断测试时需要更换的组件和测量条件，并自动对光路、样品位置进行调节。3.8.2配备专家数据库系统，并根据样品情况给出最合适的测试条件软件。3.8.3可进行设备控制。数据采集，数据处理，分峰拟合，图形处理.3.9计算机系统：至少3.0GHz, 4GB存，硬盘500GB，22”显示器,DVD-RW可擦写光驱，激光打印机，Windows 7 OS3.10水冷系统：3.10.2工作要求：连续工作3.10.3控温精度：优于C3.10.4供水流量：满足9KW发生器工作要求3.10.5水的温度：可调3.11设备安装、调试和验收：3.11.1仪器到达最终用户现场后，在接到用户
10、通知一周，卖方安排有经验的工程技术人员到用户现场安装、调试，按验收指标逐项测试至到达到验收要求；仪器的安装调试需在接到用户 通知后30日完成。3.11.2技术培训：仪器安装调试合格后，卖方工程师在买方现场对买方人员进行操作及日常维护培训，直到买方人员能独立操作3.11.3维修响应时间：卖方应在24小时对用户的服务要求作出响应，女口果需要上门服务，保证在5个工作日到达用户现场3.11.4保修期：保修期一年3.12配件：Word资料3.12.1抛物面透镜:3.12.1.1多层膜人工抛物面晶体，将发散 X光转化为平行光，用于纳米级薄膜样品测定。3.12.1.2 发散度 0.04 度, KdK B 9
11、9.5%3.12.1.3聚焦光路及平行光路通过选择狭缝切换，不需装卸透镜。3.12.2旋转样品台：3.12.2.1旋转方向：360旋转3.12.2.2 旋转速度：1120 rpmXX大学申请购置大型贵重仪器设备论证报告（表2）申请单位：XX大学XX学院（公章）设备购置责任人： XXX申请 购置 设备 的服 务对 象及 使用 效率教 学 部 分服务对象适用专业年均 人数学时/年计划人时数博士、硕士研究生电子科学与技术、材料类40602400本专科生电子科学与技术、材料类80201600继续教育及其它培训-每年教学开放机时数120可否对外开放可以教学主要用途及能利用该设备的专业电子科学与技术专业，
12、0材料类专业的本科生及研究生可使用该设备。填表说明： 年均人数”为可能使用拟购置设备的专业学生人数；学时/年”为利用该设备所开实验的预计年学时数;计划人时数”=年均人数” X学时/年”。XX大学申请购置大型贵重仪器设备论证报告（表3）申请单位：XX大学XX学院（公章）设备购置责任人：XXX申请 购置 设备 的服 务对 象及 使用 效率科 研 部 分每年科研开放机时数1600可否对外开放可以科研项目 级别项数主要项目名称项目合同编号级31.2.3.省部级41.2.3.4.校级其它每年开机总时数合计(小时)1940其中:教学(120)小时,科研(1600)小时,对外开放(120)小时，其它(100
13、)小时XX大学申请购置大型贵重仪器设备论证报告（表4）申请单位：XX大学XX学院（公章）设备购置责任人：XXX设备序号姓名性另y年龄所学专业职务职称人员周工作量（小时/周）专职1XXX男35微电子与材料学教授40管理2XX男31微电子学讲师40人员兼职1XXX男28材料科学与工程副教授40管理2XX女35微电子学副教授40人员3XXX男31电子科学与技术讲师40其它需要说明的问题:无！XX大学申请购置大型贵重仪器设备论证报告（表5）申请单位：XX大学XX学院（公章）设备购置责任人：XXX一、大型贵重仪器设备购置的必要性（1说明教学实验、科研实验或其他方面急需购置的理由；2、本校、省其他院校和科
14、研单位是否有同类设备，能否共享；3、如果本校已有该类设备，说明该设备工作情况；4、国外供货商以及相关设备的比较。）根据学科发展规划和实验室的科研需要，急需购买一台X射线衍射仪。XRD测试是所有材料研究中几乎是必不可少的测试，通过XRD对可以材料进行物相分析、晶粒尺寸及结晶度分析、晶格参数测量等，对材料成分等物质的基本判断至关重要。X射线衍射仪是用于各种材料物相测试非破坏性的重要工具，是材料性能评价和质量控制不可或缺的方法。目前，国的许多重点高校如北京大学、清华大学、大学、大学、电子科技大学、中南大学 等都使用了相关的XRD设备进行材料科学和半导体科学等领域的研究，我省师大、农学院有XRD粉末衍射早期产品，均为常规的小功率X射线衍射仪，其对微量杂质不敏感，对稀土材料掺杂等低含量成分无法检测，
