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1、-材料分析试题库选择题：一、1. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征*射线称 B A. K；B. K；C. K；D. L。2. 当*射线发生装置是Cu靶，滤波片应选 C A Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。3. 当电子把所有能量都转换为*射线时，该*射线波长称 A A. 短波限0；B. 激发限k；C. 吸收限；D. 特征*射线4.当*射线将*物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生 D A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. A+C二、1.最常用的*射线衍射方法是 B 。A. 劳厄法；B. 粉末法；C. 周转
2、晶体法；D. 德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是D A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A和B3.晶体属于立方晶系，一晶面截*轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为 BA、(364) B、(234) C、(213) D、(468)4.立方晶系中，指数一样的晶面和晶向B A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度围 D、无必然联系5.晶面指数111与晶向指数111的关系是 C 。A. 垂直；B. 平行；C. 不一定。6.在正方晶系中，晶面指数100包括几个晶面 B 。A. 6；B. 4；C. 2 D. 1；。7.用来进展晶体构造分析的*射线学分支是B
3、 A.*射线透射学；B.*射线衍射学；C.*射线光谱学；D.其它三、1、对于简单点阵构造的晶体，系统消光的条件是 A A、不存在系统消光 B、h+k为奇数 C、h+k+l为奇数 D、h、k、l为异性数2、立方晶系100晶面的多重性因子为 D A、2 B、3 C、4 D、63、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是 A A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是 B A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍
4、射强度的影响5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是 C A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有 C A、112 B、113 C、101 D、1117、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有 C A、200 B、220 C、112 D、1118、热振动对*-ray衍射的影响中不正确的选项是E A、温度升高引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、改变布拉格角 E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为 C
5、A、构造因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸收因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样外表转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角?BA. 30度；B. 60度；C. 90度。2、不利于提高德拜相机的分辨率的是 D 。A. 采用大的相机半径；B. 采用*射线较长的波长；C. 选用大的衍射角；D.选用面间距较大的衍射面。3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是 C A、正装法B、反装法C、偏装法D、以上均可4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是 B A、11 B、21 C、12 D、没有确定比例5、关于相机分辨率的影响因素表达错误的选项是 C A、相机半径越
6、大，分辨率越高 B、角越大，分辨率越高 C、*射线波长越小，分辨率越高 D、晶面间距越大，分辨率越低6、粉末照相法所用的试样形状为 C A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意形状7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为 A A、正装法B、反装法C、偏装法D、任意安装都可8、以气体电离为根底制造的计数器是 DA、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、A和B9、利用*射线激发*种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与*射线强度成正比的特性而制造的计数器为 C A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、锂漂移硅检测器五、1、测定钢中的奥氏体含量，假设采用定量*射
7、线物相分析，常用方法是 C 。A. 外标法；B. 标法；C. 直接比拟法；D. K值法。2、*射线物相定性分析时，假设材料的物相可以查 C 进展核对。A. 哈氏无机数值索引；B. 芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D. A或B。3、PDF卡片中，数据最可靠的用 B 表示A、i B、* C、 D、C4、PDF卡片中，数据可靠程度最低的用 C 表示A、i B、* C、 D、C5、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比拟而进展的定量分析方法称为 A A、外标法 B、标法 C、直接比拟法 D、K值法6、在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的*根
8、衍射线条强度与掺入试样中含量的标准物质的*根衍射线条相比拟，从而获得待测相含量的定量分析方法称为 B A、外标法 B、标法 C、直接比拟法 D、K值法九、1、 透射电子显微镜中可以消除的像差是 B 。A球差 ；B. 像散 ；C. 色差。2、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为 A A、球差 B、像散 C、色差 D、背散3、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为 B A、球差 B、像散 C、色差 D、背散4、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为 C A、球差 B、像散 C、色差 D、背散5、制造出世界上第一台透射电子显微镜的是 B A、德布罗意 B、鲁斯卡 C、德
9、拜 D、布拉格十、1、透射电镜中电子枪的作用是 A A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光镜的作用是 B A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是 C A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像4、透射电镜中电中间镜的作用是 D A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是B A、第二聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑6、物镜光阑
10、安放在 C A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面7、选区光阑在TEM镜筒中的位置是 B A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将 A A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合 C、关闭中间镜 D、关闭物镜9、透射电镜成形貌像时是将 B A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合 C、关闭中间镜 D、关闭物镜10、为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个 B A、第二聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑11、假设H
11、-800电镜的最高分辨率是0.5nm，则这台电镜的有效放大倍数是 C 。A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000。十二、1、单晶体电子衍射把戏是 A 。A. 规则的平行四边形斑点；B. 同心圆环；C. 晕环；D.不规则斑点。2、 薄片状晶体的倒易点形状是 C 。A. 尺寸很小的倒易点；B. 尺寸很大的球；C. 有一定长度的倒易杆；D. 倒易圆盘。3、 当偏离矢量S0时，倒易点是在厄瓦尔德球的 A 。A. 球面外；B. 球面上；C. 球面；D. B+C。4、 能帮助消除180不唯一性的复杂衍射把戏是 A 。A. 高阶劳厄斑；B. 超构造斑点；C. 二次衍射斑；D. 孪
12、晶斑点。5、 菊池线可以帮助 D 。A. 估计样品的厚度；B. 确定180不唯一性；C. 鉴别有序固溶体；D. 准确测定晶体取向。6、 如果单晶体衍射把戏是正六边形，则晶体构造是 D 。A. 六方构造；B. 立方构造；C. 四方构造；D. A或B。7、有一倒易矢量为，与它对应的正空间晶面是 C 。A. 210；B. 220；C. 221；D. 110；。十三、1、将*一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是 C 。A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。2、 当t=5s/2时，衍射强度为 D 。A.Ig=0；B. Ig0；D. Ig=Ima*。3、 一
13、位错线在选择操作反射g1=110和g2=111时，位错不可见，则它的布氏矢量是 B 。A. b=0 -1 0；B. b=1 -1 0；C. b=0 -1 1；D. b=0 1 0。4、 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是 C 。A. 质厚衬度；B. 衍衬衬度；C. 应变场衬度；D. 相位衬度。5、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小 B 。A. 小于真实粒子大小；B. 是应变场大小；C. 与真实粒子一样大小；D. 远远大于真实粒子。6、中心暗场像的成像操作方法是 C 。A以物镜光栏套住透射斑；B以物镜光栏套住衍射斑；C将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。十四、1、仅仅反映固体样品外表形貌信息的物理信号是 B 。A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。2、在扫描电子显微镜中，以下二次电子像衬度最亮的区域是 B 。A.和电子束垂直的外表；B. 和电子束成30的外表；C. 和电子束成45的外表；D. 和电子束成60的外表。3、可以探测外表1nm层厚的样品成分信息的物理信号是 D 。A. 背散射电子；B. 吸收电子；C. 特征*射
