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1、超声仪器系统性能测试规程1范围1.1 本规程适用于模拟式、数字式的 A 型超声探伤系统性能 的测试与检定。1.2 本规程只规定测试方法而不涉及合格指标。1.3 本规程只适用于手工探伤系统。2引用标准下列标准是本规程的重要参考技术资料，其中包含的某些 条文已被引用构成本技术规程的内容。拟定时的下列版本有 效，使用本规程时应注意其版本的变化。GB/T 18694-2002 无损检测 超声检验 探头及其声场的表征 GB/T 18852-2002 无损检测 超声检验 测量接触探头声束 特征的参考试块方法YB/T 144-1998超声探伤信号幅度误差测量方法YB/T 145-1998法钢管探伤对比试样人
2、工缺陷尺寸测量方GB/T 11259-1999验方法超声波检验用钢制对比试块的制作与校JB/T 8428-1996校正钢焊缝超声波检测仪器用标准试块JB/T 9214-1999A试方法型脉冲反射式超声探测系统工作性能测ZBY230-84A 型脉冲发射式超声探伤仪通用技术条件(JB/T 10061-1999)ZBY231-84超声探伤仪用探头性能测试方法( JB/T10062-1999)ZBY232-84超声探伤用 1 号标准试块技术条件( JB/T10063-1999)JB/T 7406.2-1994试验机术语 无损检测仪器ZB Y334-85超声探伤用探头型号命名方法JB3111-82无损检
3、测名词术语( GB/T 12604.1-1990)3 术语定义探伤系统是指探伤仪连同探伤时必须与之电气连成一体 的各种器件的总和。4 测定探伤系统的噪声水平4.1 概述探伤系统噪声水平是指在规定的灵敏度下，由于各种原 因在探伤系统荧光屏上出现的干扰信号幅度。4.2 测定方法将探头脱离工作放置，将探伤仪的灵敏度和扫描范围调 至最大，在避免外界干扰的条件下，读取时基线上电噪声幅 度在垂直刻度上的百分数。4.3 报告格式及记录表，见附件 1-65 探伤系统灵敏度余量的测定5.1 概述使指定的标准反射体回波到规定幅度的探测灵敏度与 最大探测灵敏度的差值，称为探伤系统灵敏度余量。单位是 分贝。5.2 直
4、探头系统灵敏度余量的测定5.2.1 测定方法仪器的衰减器、抑制均为零，将探伤仪增益调至最大， 其他调整取适当值。若此时噪声幅度小于满屏高度的 10%， 则设此时衰减器读数为SOdBo若此时噪声幅度超过满屏高度 的 10%，则调整衰减器，使噪声幅度等于满屏高度的 10%，并设调整后的衰减器读数为S0dB。将探头置于DB-PZ20-2型 （参见JBT9214-1999）试块上（图1）,将适当耦合剂，仅 调节衰减器，使平底孔回波高度降至满刻度的 50%，设此时 衰减器读数为S1dBS二S1-S。即为该探伤系统的灵敏度余量。图1直探头探伤系统灵敏度余量的DB-PZ20-2型试块5.2.2报告格式及记录
5、表1 （编号：）。5.3 斜探头系统灵敏度余量测定5.3.1 测定方法抑制为零，将超探仪增益调制最大，其他调整取适当值。 如此时噪声幅度小于满屏高度的10%，则设此时衰减度读数 为a0dB。若此时噪声幅度超过满屏的10%,则调整衰减器， 使噪声幅度为满屏高度的 10%，若调整后的衰减器读数为 a0dBo将探头置于CSK-IA型号标准试块（参见JBT 9214-1999，JB/T 10063）上（图2），加适当耦合剂，调节 衰减器，使R100mm曲面回波高度降至满刻度的50%,设此时 衰减器读数为a1dBo a=a1-a0即为使用探测头时该探伤系统 的灵敏度余量。5.3.2 报告格式及记录表 2
6、（编号：6 测定探伤系统垂直线性6.1 概述超探仪荧光屏上回波幅度与接收信号成正比关系的程 度称为探伤系统垂直线性。它与探伤仪增益线性和衰减器精 度有关。6.2 测定方法将抑制置为零。将一直探头置于试块DB-PZ20-2 （图1） 上，加适量耦合剂。将平底孔回波调制时基的中部。调节衰 减器或移动探头使平底孔回波幅度恰等于满屏高度。此时衰 减器至少应有 30dB 的余量。然后，以每次 2dB 的增量调节 衰减器，每次调节后用满刻度的百分比值记录回波高度。一 直到增量为 26dB 为止。测量精度为 1%。将测定值填入附件 3 的表中。测试值与理论值的差为偏差。表中最大正偏差 d （+ ）和最大负偏
7、差（-）的绝对值之和为Ad （以百分比计）。6.3报告格式及记录表3 （编号：）。7 测定探伤系统水平线性7.1 概述超探仪系统对于不同距离的反射体所产生的一系列回波 （通常是平行工件底面的多次反射波）的显示距离与反射体 实际距离之间能按比例方式显示的能力，称为水平线性。7.2 测定方法使用检测面与底面平行的表面光滑的任何试块，试块的 厚度原则上相当于探测生成的 1/5，采用某一直探头，探伤 仪抑制置于零。将探头压在试块上，加适当耦合剂，调节增 益和扫描范围，时屏幕上呈现 6 次底波，设它们分别是 B1、B2、B3、B4、B5、B6。设水平刻度为100。反复调整“水 平移位”和“扫描范围”的按
8、钮，使得 B1、 B6 的幅度分别 为 50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度 0 和 100。再 依次分别将底波 B2、 B3、 B4、 B5 调到 50%刻度，分别读出 他们的前沿与刻度 20、 40、 60、 80 的偏差 a1、 a2、 a3、 a4 （以格数计），取其中最大的偏差值amax则水平线性误差L （以百分比值计）二（| amax| /80）X100%O7.3报告格式及记录表4 （编号：）。8 测定超探系统分辨力8.1 概述超探仪系统能够将荧光屏上相邻的两个回波区分开的能力成为探伤系统的分辨力。8.2 直探头超探系统分辨力的测定8.2.1 测定方法使抑制为零。将直探头置于C
9、SK-I试块的图3 （a）所示 的位置上，加适当耦合剂。调整增益并左右移动探头，使来 自 A、 B 两个面的回波幅度相等，且为满屏刻度的 20%-30%， 如图3 （b）中的hl。调节衰减器，使A、B两波峰间的波谷 高度h2上升到hl的高度。此时衰减器释放的dB数（等于h1 和 h2 的分贝高度差)即为以分贝表示的使用直探头时探 伤系统的分辨力。图 3 直探头超探系统分辨力的测定。8.3 斜探头超探系统分辨力的测定8.3.1 测定方法使抑制为零。将斜探头置于CSK-IA试块的图4 (a)或(b)所示的位置上，加适当耦合剂。调整增益并左右移动 探头，使 50mm和 44mm两孔的回波A、B幅度相
10、等, 且为满屏刻度的20%-30%，如图5中的hl。调节衰减器， 使 A、 B 两波峰间的波谷高度 h2 上升到 h1 的高度。此时衰减器释放的 dB 数（等于 h1 和 h2 的分贝高度差）即为分贝 表示的使用斜探头时探伤系统的分辨力。图 4 测定斜探头系统分辨力图5使50mm和40mm两孔的回波A、B幅度相等9 测定探伤系统盲区9.1 概述从探测面到最近可探测到的标准反射体的距离称为探伤 系统盲区。“可探测到”意味着其幅度达到规定值，并能够 与始波区分开。9.2 测定方法图 6 使用直探头时探测系统盲区的 DZ-I 型试块 使抑制为零。将探头置于 DZ-I 试块上（图 6，参见 JB/T
11、9214-1999），使深度为 31mm 的横孔回波达满屏刻度的 50%。 选择能够分辨得开的最短探测距离的 2mm 横孔回波，并将 其幅度调至满屏刻度的 50%。如果此时回波的前沿与始波后 沿交叉点（见图 7）的高度高于满屏刻度的 10%，则取与之 相邻的较深孔再图 7 测试探伤系统盲区 测，直至回波的前沿与始波后沿交叉点的高度低于满屏刻度 的 10% 为止，此时的横孔离探测面的距离即为使用直探头时 探测系统的盲区。9.3 报告格式（编号年月日超声波探伤仪校验报告编号：仪器型号仪器编号探头型号耦合剂测试依据下次测试日期性能参数JB4730.3-2005 要求水平线性W1%垂直线性W5%备注测试人审核人资格UT- II资格UT-III测试日期审核日期附表 1：水平线性测试表a2a3a4amax8第一次测量第二次测量第三次测量附表 2：垂直线性测试表高度相对波高理想相对波高10079.463.150.139.831.625.119.915.812.610.07.96.3偏差
