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(19 )中华人民共和国国家知识产权局(12 )发明专利申请(21)申请号 CN201210129143.3(22 )申请日 2012.04.27(71)申请人华为技术有限公司地址518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼(72 )发明人刘宇;李翔汪锋;何建波 (74 )专利代理机构北京中博世达专利商标代理有限公司代理人申健(51) Int.CI权利要求说明书说明书幅图(54 )发明名称芯片测试方法及芯片(57)摘要本发明实施例公开了一种芯片测试方法及 芯片，所述方法包括：对联合测试行为组织JTAG 管脚和功能管脚进行复用，复用后的所述J TAG管 脚用于配置测试访问口 TAP中的自定义寄存器的 控制信号，所述控制信号用于控制多路选择器 MUX选通特定的测试信号，复用后的所述功能管 脚用于输出所述测试信号；为TAP内部添加自定 义寄存器，所述自定义寄存器用于根据复用后的 所述J TAG管脚的配置产生相应的控制信号，并控制所述MUX选通特定的测试信号。本发明适用于芯片内部信号的调试。法律状态法律状态公告日法律状态信息法律状态2013-10-30公开公开2013-11-27实质审查的生效实质审查的生效2016-08-03授权授权权利要求说明书芯片测试方法及芯片的权利要求说明书内容是请下载后查看说明书芯片测试方法及芯片的说明书内容是请下载后查看
