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1、X射线名词解释终极版 e俄歇效应：原子在入射色X射线光子或电子的作用下失掉一个k层电子变为k激发态，若该过程中所释放出来的能量用来产生二次电离，使另一个核外电子脱离原子变为二次电子的现象。产生的二次电子的能量含有固定值，这种含有特征能量的电子称为俄歇电子。标识x射线谱：在连续谱的基础上叠加若干条含有一定波长的谱线。短波限：连续X射线谱的强度是随波长的改变而连续改变的，每条曲线全部有一个强度最大值，并在短波长方向上有一个波长极限，称为。相干散射：物质中的电子在x射线电场的作用下，产生强迫震动，每个受迫振动的电子便成为新的电磁波源向空间各个方向辐射同频率的电磁波，这些新的散射波之间能够发生反射作用
2、，吧这种散射显像称为相干散射。吸收限：物质对电磁辐射的吸收随辐射波长的减小而减小，当波长的减小至某一程度是质量衰减系数骤然增大，此时你的波长称吸收限。吸收限为x射线性状的特殊标志量，而且和原子能级的精细结构一一对应。选择反射：x射线投射到原子面上是，只有当d三者之间满足布拉格方程是才发生反射x射线的这种反射称为选择反射。干涉指数：干涉面的面指数称为指数，干涉指数互为质数是，她就代表一族真是的晶面。原子散射因子：用来表示一个原子散射和一个电子散射之间的对应关系的参量f=一个原子散射的相干散射波振幅一个电子散射的相干散射波振幅=AaAe结构因子：用来表征单胞的相干散射和单原子散射的相干散射之间的对
3、应关系的参量：FHkL=一个单胞内全部原子散射的相干散射振幅一个电子散射的相干散射振幅=AbAe她是倒空间的衍射强度分布函数。系统消光：因为结构因子FHkL=0而使衍射线小时的现象称为系统消光。包含点阵消光和结构消光。晶面指数：空间点阵中不论哪一个方向全部能够画出很多相互平行的阵点平面。同一方向上的阵点平面不但相互平行，而且等距，各平面上的阵点分布情况完全相同。不过，不一样方向上的阵点平面却含有不一样的特征。阵点平面之间的差异关键取决于她们的取向。在晶体学中阵点平面的空间取向用晶面指数表示。晶带定律：通常属于uvw晶带的晶面，她们的晶面指数hkl全部必需符合hu+kv+lw=0的条件。多重性因
4、子：等同晶面族的反射强度全部重合在一个衍射圆环上。吧同族晶面hkl的等同晶面数P称为衍射强度的多重性因子。布拉格方程：衍射矢量方程：/l=r*HkL倒易矢量的基础性质：1、倒易矢量垂直于正点阵中的HkL晶面2、倒易矢量的长度等于HkL晶面的面间距dHkL的倒数。光电效应：光子激发原子所发生的激发和辐射过程成为光电效应。被击出的电子称为光电子。X射线强度：垂直和X射线传输方向的单位面积上在单位时间内所经过的光子数目标能量总和。非相干散射：X射线光子和束缚力不大的外层电子或自由电子碰撞，电子取得一部分能量成为反冲电子，光子离开原来的传输方向；碰撞后光子的能量降低，波长增加，这么的散射称为非相干散射
5、。线 质量 衰减系数：单位体积 重量 物质对X射线强度的衰减程度。倒易点阵：在晶体点阵的基础上根据一定的对应关系建立起来的几何图形，是晶体整点正点阵的另一个表示方法。很多性质和晶体点阵存在着倒易的关系。晶体投影：三维晶体结构中的晶向和晶面位置关系和数量关系投影到二维平面上来。晶带轴定律：凡属于uvw晶带的晶面，它的晶面指数hkl肯定满足Hu+kv+Lw=0的关系式；这个关系式称为晶带轴定律。X射线定性分析注意事项：1、试验数据存在一定误差。2、晶面间距比相对强度3、低角度线比高角度线主要4、强线比弱线主要5、重视特征线6、搞清式样和化学成份。步骤：1、取得衍射花样2、计算晶面间距和相对强度值3、查阅PDF卡片4、检索匹配X射线定量分析k值法原理和公式推导：测定j相含量，内标物质s依据衍射强度公式：k值测定：制备一个待测相和内标物质重量百分数1：1的复合式样，经过测定强度比的值便可求出kk值法优点：lk的值和待测相和内标物质含量无关，所以能够任意选择内标物质。lk值的测定简单，不需要测绘定标曲线。lk值含有常数意义。只要待测相，内标物质相同，试验条件一定，全部能够使用同一个准确测定的k值。
