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1、目录ooo1拼音Xxiantouy1ngceliangfenx1X线头影(Cephalometries)，主要是测量X线头颅定位照像所得的影像，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量，从而了解牙颌、颅面软硬的，使对牙颌、颅面的、诊断由表面深入到内部的结构中去。几十年来X线头影测量一直成为及等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的重要手段。在我国，X线头影测量于60年代初开始在口腔正畸的科研及临床工作中应用。70年代末，计算机X线头影测量亦开始应用于我国口腔正畸临床及科研工作上。2X线头影测量的主要应用1研究颅面：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头
2、影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的。Brodie1941年以X线头影测量，对出生后3个月至8岁的的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。、张兴中等在90年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，
3、以及颅面生长发育的预测。2牙颌、颅面的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的，并应用到对畸形的诊断分析中去。3确定的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常合关系可存在于各种不同的颅骼结构关系中，而一些的位置能在一定的颌面结构下得到，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可确定颌位及牙齿矫治的位置，从而制
4、定出正确可行的矫治方案。4研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构的变化，从而了解矫正器的机制和矫治后的稳定及复发情况。如关于口外唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。5夕卜科正畸的诊断和矫治设计：通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形进行颅面软硬组织的分析，得出畸形的主要机制，以确定手术的部位、及所需移动或切除颌骨的数量，同时应用X线头影图迹进行剪裁，模拟拼对手术后牙颌位置，得出术后牙颌、颅面关系的面型图，为外科正畸提供了充分的根据，从而提高了其诊断及矫治水
5、平。6下颌分析：X线头影测量还可以用来研究下颌运动，语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。I3头颅定位X线照像和头影图的描绘(1) 3.1头颅定位X线照像头颅定位仪：用作头影测量的X线头颅像，必须要在头颅定位仪(cephalometer)的严格定位下拍摄。因为只有完全排除了因头位不正而造成的后，各才有分析的价值。头颅定位仪正是保证这一要求的仪器。自1931年Broadbent使用第一架头颅定位仪以来，出现了许多不同类型的头颅定位仪，其种类虽多，但定位的基本原理大致相同，只是近年来的，其结构更趋精密、准确。头颅定位仪的定
6、位，关键在于通过定位仪上的左右与眶点，三者构成一与地面平行的恒定平面的原理。在X线摄像时，先使头颅定位仪的两耳塞，进入头部左右道，然后上下调整头部位置，使眶点指针抵于眶点，此时头部便固定在眼耳平面与地面平行的位置上。每次照像时，头位均恒定于此不变。头颅定位仪的顶盘一般具有刻度并能旋转，当需投照后前位或一定角度时，只需转动90或一定角度即可。(2) X线照像投照距离：X线由球管射出时，呈辐射状，使投照物体的影像放大，而产生模糊的半影。X线球管至胶片的距离越大，则射出的X线越接近平行，所造成的半影也越小。在X线头颅摄影时要求有较大的投照距离，一般应不小于150cm。投照物体与胶片间距离，也是影响X
7、线影像清晰和真实的重要因素，物片距越小，则X线影像的放大和失真越小。因而在投照时，应尽量使投照物体与胶片盒紧贴，以减小其放大误差。通过加大球管至胶片距离也可减小由物片距所造成的放大误差。每次照像时使头位、X线球管及胶片三者之间的关系维持恒定，这样所得的X线片才能保证测量结果的可靠，及不同个体或不同时期分别测量所得结果的可比性。X线头影像的放大误差：由于X线头颅摄影时，X线不能达到平行的要求，而头部正中矢状平面与胶片间又有距离存在，因而，X线头影像必然有一定的放大误差，但由于摄影时，头部固定位置一致，故各片的放大误差基本一致，不会引起相互之间的差巳异。放大误差的计算公式为r=（SX（DD-dSX
8、）-1）100。r为放大误差率，D为X线球管焦点至胶片距离，d为头部正中矢状面至胶片距离。3.2头影图的描绘X线头影测量不能在X线头影像上直接进行，而需在描绘的头影图上进行，故描绘的头影图必须精确地与头影像上的形态完全一致。描图可于具有良好光源的X线看片灯下或专用的描图桌上进行。描图及测量时准备透片、描图纸、精确的毫米尺、半圆仪、细尖钢笔及硬质尖锐铅笔等。将X线头影描于硫酸纸上，再在描图纸上进行测量分析。描绘图的点线必须细小精确，以减少误差。在X线头影图像上，有因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现的部分左右影像不完全重合（头颅定位不准亦有此弊，应尽量避免），此时，则按其平均中点来作描绘
9、。|4常用X线头影测量的标志点及平面4.1头影测量标志点标志点是用来构成一些平面及测量内容的点。理想的标志点应该是易于定位的标志，在生长发育过程中应相对稳定。但并不是常用的标志点均能符合这一要求，不少标志点的确定是由各学者提出的不同测量方法而定，而标志点的可靠性还取决于头颅X线片的质量以及描图者的。头影测量标志点可分为两类：一类是解剖的，这一类标志点是真正代表的一些解剖结构；另一类是引伸的，这一类标志点是通过头影图上解剖标志点的引伸而得，如两个测量平面相交的一个标志点。(1) 颅部标志点蝶鞍点(S.sella):蝶鞍影像的中心。这是常用的一个颅部标志点，在头颅片上较容易确定。鼻根点(N.nas
10、ion)：鼻额缝的最前点。这是前颅部的标志点，代表面部与颅部的结合处。有些X线片上，此点显示不太清楚，是因为其形态不规则骨缝形成角度之故。耳点(P.porion)：外耳道之最上点。头影测量上常以定位仪耳塞影像之最上点为代表，称为机械耳点。但也有少数学者使用外耳道影像之最上点来代表，则为解剖耳点。颅底点(Ba.basion)：大孔前缘之中点。一般此点较易确定，常作为后颅底的标志。Bolton点：枕骨髁突后切迹的最。上颌标志点眶点(O.orbitale:)眶下缘之最低点。当病人两侧对称及在完好的定位下，左右眶点才于同平，但实际上难以达到。一般X线片上可显示左右两个眶点的影像故常选用两点之间的点作为
11、眶点，这样可减小其误差。翼上颌裂点(Ptm.pterygomaxillaryfissure):翼上颌裂轮廓之最下点。翼上颌裂之前界为上颌窦后壁，后界为蝶骨翼突板之前缘，此标志点提供了确定了上颌骨的后界和磨牙的近远中向间隙及位置的标志。前鼻棘(ANS.anteriornasalspine):前鼻棘之尖。前鼻棘点常作为确定腭平面的两标志点之一，但此标志点的清晰与否与X线片的投照条件有关。一般不作近远中长度测量所用。后鼻棘(PNS.posteriornasalspine):硬腭后部骨棘之尖。上齿槽座点(A.subspinale):前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点。此点仅作为向测量所用。上齿槽缘点(S
12、Pr.superiorprosthion):上齿槽突之最前下点。此点常在上中切牙之牙界处。上中切牙点(Ul.upperincisor):上中切牙切缘之最前点。一般上中切牙的测量有两种方法，一种是以此点与根尖相连作为中上切牙牙长轴来作为角度测量的一个平面，另一种是测量此点与其他结构间的距离。下颌标志点髁顶点(.condylion):髁突的最上点。点(Ar.articulare):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点。关节点常在髁顶点不易确定时而代替髁顶点。下颌角点(Go.gonion):下颌角的点。可通过下颌支平面和下颌平面交角之分角线与下颌角之相交点来确定。下齿槽座点(B.supramental):
13、下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点。下齿槽缘点(Id.infradentale):下齿槽突之最前上点。此点常在下中切牙之牙釉质牙骨质界处。下切牙点(Li.lowerincisor):下中切牙切缘之最前点。颏前点(P.pogonion):颏部之最突点。颏下点(Me.menton):颏部之最下点。颏顶点(Gn.gnathion):颏前点与颏下点之中点。D点：下颌性联合部之中心点。这些标志点中，有些是在正中矢状面上，是单个的点。如鼻根点、蝶鞍点等。而有些则是双侧的点，如下颌角点，关节点等。若由于面部不对称而使两侧之点不重叠时，则取二点间的中点作为校正的位置。软组织侧面标志点额点(G.glbella)
14、:额部之最前点。软组织鼻根点(NSnasionofsofttissue):软组织侧面上相应的鼻根点。眼点(E.eye):睑裂之眦点。鼻下点(Sn.subnasale):鼻小柱与上唇之连接点。唇缘点(vermilionborders):上唇缘点(UL:)上唇粘膜与之连接点。缘点(LL:)下唇粘膜与皮肤之连接点。上唇突点(UL):上唇之最突点。下唇突点(LL):下唇之最突点。软组织之颏前点(Pos.pogonionofsofttissue):软组织颏之最前点。软组织颏下点(Mes.mentonofsofttissue):软组织颏之最下点。咽点(K)软组织颈部与咽部之连接点。4.2头影测量平面(1)
15、 平面：基准平面是在头影测量中作为相对稳定的平面。由此平面与各测量标志点及其他测量平面间构成角度、线距、比例等8个测量项目。目前最常用的基准平面为前颅底平面、眼耳平面和Bolton平面。前颅底平面(SN.SNplane):由蝶鞍点与鼻根点之连线组成，在颅部的矢状平面上，代表前颅底的前后范围。由于这一平面在生长发育上具有相对的稳定性，因而常作为面部结构对颅底关系的定位平面。眼耳平面(FH.Frankforthorizontalplane):由耳点与眶点连线组成。大部分个体在正常头位时，眼耳平面与地面平行。Bolton平面：由Bolton点与鼻根点连接线组成。此平面多用作重叠头影图的基准平面。固嵐A9港亚占1,前廡底平3S2.FSTBQ化lii-tonVM2)测量平面：腭平面(ANS-PNS.paltalplane):后鼻棘与前鼻棘的连线。全颅底平面(Ba-N):颅底点与鼻根点之连线。合平面(OP.occlusalplane):合平面一般有两种确定方法。一种是以第一恒磨牙的咬合中点与上下中切牙间的中点(覆合或的1/2处)的连线。另一种是的或称功能的合平面，由均分后牙合接而得，常使用第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一双尖牙的合接触点，这种方法形成的合平面不使用切牙的任何标志点。下颌平面(MP.mandibularplan
