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日期:合力泰微电子有限公司Quality Microelectronics Co., Ltd包装跌落测试报告产品名称电容屏机种编号DR0115客户料号客户编号TOM测试数量20测试日期2011/1/15测试仪器NA生产口期2011/1/15测试方法1 一角、三棱X?、2落卜嫄位1.先角,再测试标准3落卜扃度勾选以上项目余恩重量轮阐落卜图度备注25kg以下60V26504551 753576 10030按包装箱产品的重量选定规定的落F高度按上述测试方法分儿次自由落F后,抽样检查产品应无破裂,功能应该 OK产品编号无破裂功能产品编号外观功能1无破裂0K11无破裂0K2无破裂0K12无破裂0K3无破裂0K13无破裂0K4无破裂0K14无破裂0K5无破裂0K15无破裂0K6无破裂0K16无破裂0K7无破裂0K17无破裂0K8无破裂0K18无破裂0K9无破裂0K19无破裂0K10无破裂0K20无破裂0K结论合格不合格员:审核:EI期: