光栅、编码器基本知识位置检测装置作为数控机床的重要组成部分，其作用就是检测位移量，并发出反馈信号 与数控装置发出的指令信号相比较，若有偏差，经放大后控制执行部件使其向着消除偏差的方 向运动，直至偏差等于零为止为了提高数控机床的加工精度，必须提高检测元件和检测系统 的精度其中以编码器，光栅尺，旋转变压器，测速发电机等比较普遍，下面主要对光栅和编 码器进行说明光栅,现代光栅测量技术简要介绍：将光源、两块长光栅（动尺和定尺）、光电检测器件等组合在一起构成的光栅传感器通 常称为光栅尺光栅尺输出的是电信号，动尺移动一个栅距，输出电信号便变化一个周期，它 是通过对信号变化周期的测量来测出动就与定就职相对位移目前使用的光栅尺的输出信号 一般有两种形式，一是相位角相差90度的2路方波信号，二是相位依次相差90度的 4路正 弦信号这些信号的空间位置周期为W下面针对输出方波信号的光栅尺进行了讨论，而对 于输出正弦波信号的光栅尺，经过整形可变为方波信号输出输出方波的光栅尺有A相、B 相和Z相三个电信号，A相信号为主信号，B相为副信号，两个信号周期相同，均为W,相 位差90o0 Z信号可以作为较准信号以消除累积误差。
一、栅式测量系统简述 从上个世纪50年代到70年代栅式测量系统从感应同步器发展到光栅、磁栅、容栅和球 栅，这 5种测量系统都是将一个栅距周期内的绝对式测量和周期外的增量式测量结合了起来， 测量单位不是像激光一样的是光波波长，而是通用的米制（或英制）标尺它们有各自的优势， 相互补充，在竞争中都得到了发展由于光栅测量系统的综合技术性能优于其他4种，而且制 造费用又比感应同步器、磁栅、球栅低，因此光栅发展得最快，技术性能最高，市场占有率最 高，产业最大光栅在栅式测量系统中的占有率已超过 80%，光栅长度测量系统的分辨力已 覆盖微米级、亚微米级和纳米级，测量速度从60m/min,到480m/min测量长度从lm、3m 达到 30m 和 100m二、光栅测量技术发展的回顾计量光栅技术的基础是莫尔条纹（Moire fringes）, 1874年由英国物理学家L.Rayleigh首 先提出这种图案的工程价值，直到20世纪50年代人们才开始利用光栅的莫尔条纹进行精密测 量1950年德国Heidenhain首创DIADUR复制工艺，也就是在玻璃基板上蒸发镀铬的光刻复 制工艺，这才能制造高精度、价廉的光栅刻度尺，光栅计量仪器才能为用户所接受，进入商品 市场。
1953年英国Ferranti公司提出了一个4相信号系统，可以在一个莫尔条纹周期实现4 倍频细分，并能鉴别移动方向，这就是4倍频鉴相技术，是光栅测量系统的基础，并一直广泛 应用至今德国Heidenhain公司1961年开始开发光栅尺和圆栅编码器，并制造出栅距为4p m（250 线/mm）的光栅尺和10000线/转的圆光栅测量系统，能实现1微米和1角秒的测量分辨力 1966年制造出了栅距为20p m （50线/mm）的封闭式直线光栅编码器在80年代又推出 AURODUR 工艺，是在钢基材料上制作高反射率的金属线纹反射光栅并在光栅一个参考标 记（零位）的基础上增加了距离编码在1987 年又提出一种新的干涉原理，采用衍射光栅实 现纳米级的测量，并允许较宽松的安装1997年推出用于绝对编码器的EnDat双向串行快速 连续接口，使绝对编码器和增量编码器一样很方便的应用于测量系统 现在光栅测量系统已 十分完善，应用的领域很广泛，全世界光栅直线传感器的年产量在60 万件左右，其中封闭式 光栅尺约占 85%，开启式光栅尺约占 15%三、当今采用的光电扫描原理及其产品系列 光栅根据形成莫尔条纹的原理不同分为几何光栅（幅值光栅）和衍射光栅（相位光栅）， 又可根据光路的不同分为透射光栅和反射光栅。
光米级和亚微米级的光栅测量是采用几何光 栅，光栅栅距为100p m至20p m远于光源光波波长，衍射现象可以忽略，当两块光栅相对 移动时产生低频拍现象形成莫尔条纹，其测量原理称影像原理纳米级的光栅测量是采用衍射 光栅，光栅栅距是8p m或4p m,栅线的宽度与光的波长很接近，则产生衍射和干涉现象形 成莫尔条纹，其测量原理称干涉原理现以 Heidenhain 产品采用的 3 种测量原理介绍如下1. 具有四场扫描的影像测量原理（透射法）采用垂直入射光学系统均为 4 相信号系统，是将指示光栅（扫描掩膜）开四个窗口分为 4 相，每相栅线依次错位四分之一栅距，在接收的4 个光电元件上可得到理想的 4 相信号，这 称为具有四场扫描的影像测量原理Heidenhain的LS系列产品均采用此原理，其栅距为20 M m,测量步距为0.5p m,准确度为土 10、±5、±3p m三种，最大测量长度3m,载体为玻 璃2. 有准单场扫描的影像测量原理（反射法）反射标尺光栅是采用 40M m 栅距的钢带，指示光栅（扫描掩膜）用二个相互交错并有不 同衍射性能的相位光栅组成，这样一来，一个扫描场就可以产生相移为四分之一栅距的四个图 象，称此原理为准单场扫描的影象测量原理。
由于只用一个扫描场，标尺光栅局部的污染使光 场强度的变化是均匀的，并对四个光电接收元件的影响是相同的，因此不会影响光栅信号的质 量与此同时，指示光栅和标尺光栅的间隙和间隙公差能大一些 Heidenhain LB 和 LIDA 系 列的金属反射光栅就是采用这一原理LIDA系列开式光栅其栅距为40m m和20p m，测量步 距0.1m m,准确度有±5p m、±3p m,测量长度可达30m，最大速度480m/minLB系列闭 式光栅栅距都是40m m,最大速度可达120m/min3. 单场扫描的干涉测量原理 对于栅距很小的光栅，指示光栅是一个透明的相位光栅，标尺光栅是自身反射的相位光栅，光束是通过双光栅的衍射，在每一级的诸光束相互干涉，就形成了莫尔条纹，其中+1 和 -1 级组干涉条纹是基波条纹，基波条纹变化的周期与光栅的栅距是同步对应的光调制产生 3 个相位相差 120°的测量信号，由 3 个光电元件接收，随后又转换成通用的相位差90°的正弦 信号. Heidenhain LF、 LIP、 LIF 系列光栅尺是按干涉原理工作，其光栅尺的载体有钢板、钢带、 玻璃和玻璃陶瓷，这些系列产品都是亚微米和纳米级的，其中最小分辨力达到1 纳米。
在80年代后期栅距为10m m的透射光栅LID351 （分辨力为0.05m m）其间隙要求就比 较严格为（0.1±0.015） mm由于采用了新的干涉测量原理对纳米级的衍射光栅安装公差就 放得比较宽，例如指示光栅和标尺光栅之间的间隙和平行度都很宽（表1 所示）只有衍射光 栅LIP372的栅距是0.512m m,经光学倍频后信号周期为0.128m m,其他栅距均为8m m和4 M m,经光学二倍频后得到的信号周期为4p m和2p m,其分辨力为5nm和50nm,系统准确 度为土0.5》m和土 Ip m,速度为30m/minLIF系列栅距是8p m,分辨力O.lp m,准确度土 Ip m,速度为72m/min其载体为温度系数近于0的玻璃陶瓷或温度系数为8ppm/K的玻璃 衍射光栅LF系列是闭式光栅尺，其栅距为8p m,信号周期为4p m,测量分辨力0.1p m, 系统准确度±3p m和±2p m,最大速度60m/min,测量长度达到3m,载体采用钢尺和钢膨 胀系数（10ppm/K） —样的玻璃四、光栅测量系统的几个关键问题1. 测量准确度（精度） 光栅线位移传感器的测量准确度,首先取决于标尺光栅刻线划分度的质量和指示光栅扫 描的质量（栅线边沿清晰至关重要）,其次才是信号处理电路的质量和指示光栅沿标尺光栅导 向的误差。
影响光栅尺测量准确度的是在光栅整个测量长度上的位置偏差和光栅一个信号周期 内的位置偏差光栅尺的准确度（精度）用准确度等级表示，Heidenhain定义为：在任意lm测量长度 区段内建立在平均值基础上的位置偏差的最大值Fmax均落在土a （M m）之内，则土a为准 确度等级Heidenhain 准确度等级划分为：±0.1、±0.2、±0.5、±1、±2、±3、±5、±10 和±15p m由此可见Heidenhain光栅尺的准确度等级和测量长度无关，这是很高的一个要求， 现在还没有见到其他生产厂家能够达到这一水平现在Heidenhain玻璃透射光栅和金属反射光栅的栅距只采用20p m和40p m,对衍射光 栅栅距采用4p m和8p m, （1nm光栅除外）光学二倍频后信号周期为2p m和4p m0Heidenhain 要求开式光栅一个信号周期的位置偏差仅为±1%,闭式光栅仅为±2%,光栅信号周期及位置 偏差见表 2表2光栅类别 信号周期, p m） 一个信号周期内的位置偏差, p m）几何光栅 20和 40 开启式光栅尺±1%,即±0.2~±0.4 封闭式光栅尺±2%,即±0.4~± 0.8衍射光栅 2和 4 开启式光栅尺±1%,即±0.02~±0.04封闭式光栅尺±2%,即±0.02~±0.082. 信号的处理及栅距的细分光栅的测量是将一个周期内的绝对式测量和周期外的增量式测量结合在一起,也就是说 在栅距的一个周期内将栅距细分后进行绝对的测量,超过周期的量程则用连续的增量式测量。
为了保证测量的精度,除了对光栅的刻划质量和运动精度有要求外,还必须对光栅的莫尔条纹 信号的质量有要求,因为这影响电子细分的精度,也就是影响光栅测量信号的细分数,倍频数） 和测量分辨力,测量步距）栅距的细分数和准确性也影响光栅测量系统的准确度和测量步距 对莫尔条纹信号质量的要求主要是信号的正弦性和正交性要好；信号直流电平漂移要小对读 数头中的光电转换电路和后续的数字化插补电路要求频率特性好，才能保证测量速度大Heidenhain有专门为光栅传感器和CNC相联结设计了光栅倍频器，也就是将光栅传感 器输出的正弦信号（一个周期是一个栅距）进行插补和数字化处理后给出相位相差 90°的方 波，其细分数（倍频数）有5、10、25、50、100、200和400，再考虑到数控系统的4 倍频后 对栅距的细分数有20、40、100、200、400、800和1600，能实现测量步距从1nm到5p m, 倍频数选择取决于光栅信号一个栅距周期的质量随着倍频数的增加光栅传感器的输出频率要 下降，倍频器的倍频细分数和输入频率的关系见表3表3倍频细分数 0 2 10 25 50 100 200 400输入频率 kHz 600 500 200 100 50 25 12.5 6.25选择不同的倍频数可以得到不同的测量步距。
在Heidenhain的数显表中可以设置15种 之多的倍频数，最高频数可达1024，即 1、 2、 4、 5、 10、 20、 40、 50、 64、 80、 100、 128、 200、 400、 1024在微机上用的数量卡最大倍频数可到40963. 光栅的参考标记和绝对座标（1） 光栅绝对位置的确立 光栅是增量测量，光栅尺的绝对位置是利用参考标记（零位）确定参考标记信号的宽度和光栅一个栅距的信号周期一致，经后续电路处理后参考信号的脉冲宽度和系统一个测量步 距一致为了缩短回零位的距离，Heidenhain设计了在测量全长内按距离编码的参考标记，每 当经过两个参考标记后就可以确定光栅尺的绝对位置，例如栅距为4p m和20p m的光栅尺 扫描单元相对于标尺移动20mm后就可确定绝对位置，栅距为40p m的光栅尺要移动80mm 才能确定绝对位置2） 绝对坐标传感器为了在任何时刻测量到绝对位置，Heidenhain设计制造了 LC系列绝对光栅尺，它是用 七个增量码道得到绝对位置，每个码道是不同的，刻线最细码道的栅距有两种，一种是16p m,另一。