实验一实验一 集成门电路逻辑功能测试集成门电路逻辑功能测试一、实验目的一、实验目的1. 验证常用集成门电路的逻辑功能;2. 熟悉各种门电路的逻辑符号;3. 熟悉 TTL 集成电路的特点，使用规则和使用方法二、实验设备及器件二、实验设备及器件1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00 四 2 输入与非门 1 片 74LS86 四 2 输入异或门 1 片74LS11 三 3 输入与门 1 片 74LS32 四 2 输入或门 1片74LS04 反相器 1 片3、实验原理实验原理集成逻辑门电路是最简单，最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路TTL 集成电路由于工作速度高，输出幅度大，种类多，不宜损坏等特点而得到广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用 TTL 电路较合适，因此这里使用了 74LS 系列的 TTL 成路，它的电源电压为 5V+10%,逻辑高电平“1”时＞2.4V，低电平“0”时＜0.4V实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口左，左下角第一脚为 1 脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
4 4、、实验内容实验内容㈠ 根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能 1. 利用 Multisim 画出以 74LS11 为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下按表 1—1 要求用开关改变输入端 A,B,C 的状态，借助指示灯观测各相应输 出端 F 的状态，当电平指示灯亮时记为 1，灭时记为 0，把测试结果填入表 1— 1 中2. 利用 Multisim 画出以 74LS32 为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下输入状态输出状态ABCY0000 0010 0100 0110 1000 1010 1100 1111按表 1—2 要求用开关改变输入端 A,B 的状态，借助指示灯观测各相应 输出端 F 的状态，把测试结果填入表 1—2 中3. 利用 Multisim 画出以 74LS04 为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下按表 1—3 要求用开关改变电平开关的状态，借助指示灯观测各相应输出端 F 的状态，把测试结果填入表 1—3 中表 1—3 74LS04 逻辑功能表输入输出状态（0|1）0100㈡ 根据管脚功能图连接，测试各门电路逻辑功能1.74LS00 四二输入与非门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑 功能。
输入状态输出状态ABY000011101111按表 1—4 要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的 状态，把测试结果填入表 1—4 中表 1—4 74LS00 逻辑功能表2.74LS86 四二输入异或门管脚功能如下图所示，用其中一个门测试其逻辑功能输入状态输出状态UAUBY001011101110按表 1—5 要求用开关改变输入端的状态，借助指示灯观测各相应输出端的 状态，把测试结果填入表 1—5 中 表 1—5 74LS86 逻辑功能表五、实验总结五、实验总结1.确保集成块完好，否则会耽搁实验进行，浪费时间在这次实验中，刚 开始由于没有检查集成块，而一直在检查电路，但实验箱上的灯始终不亮，换 了集成块后，电路立马成功导通，耽搁了实验的进程2.实验前应检查集成块是否插反，一旦大意，必然造成损失，烧坏集成块3.实验时要将电源电压接入+5V，过低电压导致实验测度不准，过高电压会 烧毁仪器ABC000011101110。