1试验对象：该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、子系统和外部设备2试验内容静电放电的起因有多种， 但该标准主要描述在低湿度情况下， 通过摩擦等因素，使操作者积累了静电， 电子和电气设备遭受直接来自操作者的静电放电和对临近物体的静电放电时的抗扰度要求和试验方法对电子产品而言，因操作者的静电放电造成受设备干扰或损坏的几率相对其他静电放电起因大得多若电子产品能提高针对因操作者的静电放电的抗扰性，则针对因其他因素的静电放电的抗 扰性也会有相应的提高3试验目的试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力它模拟：(1)操作人员或物体在接触设备时的放电2)人或物体对邻近物体的放电4 ESD的模拟下图ESD发生器的基本线路其中高压真空继电器是目前唯一的能够产生重复与高速的放电波形的器件(放电开关)放电线路中的储能电容 CS代表人体电容，现公认 150pF比较合适放电电阻Rd为330Q,用以代表手握钥匙或其他金属工具的人体电阻 现已证明，用这种放电状态来体现人体放电的模型是足够严酷的ns«27-3等级指示电压 kV放电的第一个修值 电沈仕10%) A放电开关操作时的 上升时间友ns在3加时的电施仕30%)A在60ns时的电用(±30%) A127.50.7~14 -2:24150.7-184381 22.50.7-112648300,7 〜1168.图27-3 静电放电发生器输出电流的典型波形静电试验的波形5试验方法该标准规定的试验方法有两种：接触放电法和空气放电法。
接触放电法：试验发生器的电极保持与受试设备的接触并由发生器内的放电开关激励放电 的一种试验方法空气放电法：将试验发生器的充电电极靠近受试设备并由火花对受试设备激励放电的一种 试验方法接触放电是优先选择的试验方法，空气放电则用在不能使用接触放电的场合中b)接触放电6试验等级及其选择试验电平以最切合实际的安装环境和条件来选择， 表2提供了一个指导原则 表2同时也给出了静电放电试验等级的优先选择范围，试验应满足该表所列的较低等级标准中接触放电之所以可以用比较低的试验电压来进行试验，是因为接触放电有着极其陡峭的上升时间，其谐波成分更丰富，对设备的考核也更严格等级的选择取决于环境等因素，对具体的产品来说，往往已在相应的产品或产品族标准中加以规定表2:试脸等级选择接触放电空气放电安装条件环境条件等级电压 kV等级电压 kV抗静电 材料合成材 料相对湿度 %RH1212/352424/1036| 38/5048415/10特麻X*特殊/r~ /7注：* 是一个开放等级，必须在专用设备的规范中加以规定7试验环境对空气放电该标准规定了环境条件：环境温度：15C~35C、相对湿度：30%~60%RH、大气压力：86kPa~106kPa对接触放电该标准未规定特定的环境条件。
8试验布置该标准对试验布置也做出了详细的规定，下图所示为台式设备的试验布置示意图在木桌上放置一个1.6m x 0.8m的金属板，这作为水平耦合板，可以对这个金属板直接放电另外在距 EUT 0.1m的地方还要垂直放置一块 0.5m x 0.5m的金属板这块金属板与水 平的金属板要相互绝缘这作为垂直耦合用受试设备距离水平板边缘的距离不能小于 0.1m当EUT较大时，可增加一块水平耦合板，但不能搭接起来，而要距离 0.3m,短边相邻，通过电阻和铜片连到公共地上I桌面设备的静电试验方法» - - - ■直接放电的典型位■#直接放电的典型位置通过VCP间接放电保护导线A = 0. 1m 的绝缘架接地叁考平面对VCP放电的典型位量电源电缆470kfl信号电缆9试验实施实施部位：直接放电施加于操作人员在正常使用受试设备时可能接触到的点或面上； 间接放电施加于水平耦合板和垂直耦合板直接放电模拟了操作人员对受试设备直接接触时发生的静电放电情况间接放电则是对水平耦合板和垂直耦合板进行放电，模拟了操作人员对放置于或安装在受试设备附近的物体放电时的情况直接放电时，接触放电为首选形式只有在不能用接触放电的地方（如表面涂有绝缘层，计算机键盘缝隙等情况）才改用气隙放电。
试验中一般以1次/秒的速率进行放电，以便让设备对试验来得及响应对选定点以正极性或负极性中最敏感的极性至少施加 10次单次放电另外正式试验前可用 20 次/秒的放电速率，对被试设备表面很快扫视一遍，目的是找出设备对静电放电敏感的部位间接放电：选用接触放电，试验次数、试验间隔及试验极性同直接放电试验电压由低等级到高等级逐渐增加到规定值 （ 由于被测设备与实验电压可能存在非线形关系，高等级通过有时并不能确保低等级也能通过）不同的产品或产品族标准对试验的实施可能根据产品的特点有特定的规定10 试验结果静电放电可能产生的如下后果：（ 1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏 2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作对不同试验结果，可以根据该产品的工作条件和功能规范按以下内容分类：A:技术要求范围内的性能正常；B ：功能暂时降低或丧失，但可自行恢复性能；C:功能暂时降低或丧失，要求操作人员干预或系统复位；D ：由于设备（元件）或软件的损坏或数据的丧失，而造成不可恢复的功能降低或丧失符合 A 的产品，试验结果判合格这意味着产品在整个试验过程中功能正常，性能指标符合技术要求符合 B 的产品，试验结果应视其产品标准、产品使用说明书或者试验大纲的规定，当认为某些影响不重要时，可以判为合格。
符合 C 的产品，试验结果除了特殊情况并且不会造成危害以外，多数判为不合格符合 D 的产品判别为不合格符合 B 和 C 的产品试验报告中应写明 B 类或 C 类评判依据符合 B 类应记录其丧失功能 的时间。