微波暗室测试 ; 近场测试所谓近场天线测试的近场是指从测试探头到被测天线口平面的距离约为3λ 5λ. 合乎这样条件的天线测试即为近场测试.近场天线测试系统主要由这么几局部组成：1. 多轴扫描架子系统〔包括控制驱动器及电缆组件〕2. 被测天线定位子系统， 通常由一个单轴或多轴转台，控制驱动器及电缆组件组成 3. 射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件4. 系统主控器及一个负责给扫描架及转台子系统发定位指令，采集测试数据，近远场变换计算和分析测试结果的系统软件每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的近场天线测试系统也有很多不同规格的选择具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置远场测试所谓远场天线测试的远场就是指合乎r=2D2/λ条件的天线测试, 其中 r 就是测试场的收发间距离, D 就是被测天线的最大口径, 而 λ 测试频率的波长. 远场天线测试系统主要由这么几局部组成;1. 接收端单轴或多轴转台子系统〔包括控制驱动器及电缆组件〕2. 发射子系统， 通常由一个单轴转台，控制驱动器及电缆组件组成3. 射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件4. 系统主控器及一个负责给转台子系统发定位指令，采集测试数据和分析测试结果的系统软件。
每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的远场天线测试系统也有很多不同规格的选择具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置紧缩场测试紧缩场天线测试的紧缩场意思是指在一个相对小(紧缩)的空间里产生出传统远场天线测试所需要的平面波. 产生这种一致性很好的平面波的设备就需要在有限空间里增设双曲反射面来延伸辐射空间. 紧缩场天线测试系统主要由这么几局部组成;1. 被测天线的单轴或多轴转台子系统〔包括控制驱动器及电缆组件〕2. 馈源子系统， 通常由一个单轴或多轴转台，控制驱动器及电缆组件组成3. 双曲单反射面或双曲双反射面，用于在有限空间里产生合乎远场测试条件的平面波 4.射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件5. 系统主控器及一个负责给转台子系统发定位指令，采集测试数据和分析测试结果的系统软件 每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的紧缩场天线测试系统也有很多不同规格的选择具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置天线罩测试对天线罩进行测试其目的就是为了找出天线罩的电气特性,譬如天线罩的瞄准误差和天线罩透波率. 天线罩测试系统主要由这么几局部组成;1. 特殊的多轴转台子系统〔包括控制驱动器及电缆组件〕。
2. 寻零器扫描架子系统， 通常是一个小型的多轴扫描架，控制驱动器及电缆组件组成3. 射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件4. 系统主控器及一个负责给转台子系统发定位指令，采集测试数据和分析测试结果的系统软件 每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的天线罩测试系统也有很多不同规格的选择具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置 近场测量对于射电天文、雷达设备等应用的大口径天线，测量时很难满足所需的最小距离如天线口径 100米，工作波长10厘米，测试距这样大的测试场地事实上是无法办到的还由于地球外表曲率的影响,为使电磁波不为球形地球外表所遮挡,收发天线的高度也将到达不现实的程度对这样的大天线，其参量的测量通常有两种办法，即利用射电星的测量技术和近场测量技术射电星测量技术就是利用辐射稳定的射电星作为发射源，被测天线用于接收这样就可保证收发间距离远大于最小测试距离近场测量技术是在天线附近〔距天线外表仅几个焦距的距离范围内〕测量远区的天线参量近场测量技术包括缩距法、聚焦法和外推解析法① 缩距法：利用特定的信号发射天线，使收发天线之间的距离减少后，仍能保证发射天线在接收天线口径处产生如同远距离时一样的平面波。
一般的发射天线在其附近产生的是球面波为把球面波校正为平面波，可用附加的透镜或抛物面反射器等② 聚焦法：调整被测天线，使如抛物面反射器天线、透镜天线、相控阵天线等有聚焦特性的天线，原来对无穷远处的聚焦改变为聚焦于近场区〔几个焦距或几十个波长的距离内〕，然后在焦区测取其方向图使天线聚焦于近场区的办法是：对抛物面反射器天线可把馈源从焦点沿轴外移一小段距离；对透镜天线可把馈源安装在一个焦距到两个焦距的范围内；对相控阵天线那么可通过适当调整其移相器而到达③ 外推解析法：先测得天线口径上的场分布或天线导体外表上的电流分布，然后用解析的办法算出远区场分布，即天线的远区方向图微波暗室在普通实验室内进行天线参量的测量时，周围环境使电磁波产生反射、散射和绕射等现象，这些反射、散射和绕射场对测量场的“干扰〞导致测量精度的下降，这对方向图的零值深度和副瓣等微弱场的测量，影响尤为严重建立微波暗室可以解决这个问题微波暗室就是周围安装微波吸收材料的实验室暗室不但用于天线测量，还可用于目标散射场和绕射场等弱场强的测量使用暗室除能减弱干扰场因而提高测量精度外，还能保证有一个保密的、全天候的测量环境从1953年建立第一个微波暗室以来，暗室的技术指标已有很大的改良。
起初，暗室采用平板型吸收材料，这种材料的吸收频带较窄现代宽带微波暗室大多使用锥形或楔形吸收材料一个设计良好的微波暗室，在测量区内的干扰场可以做到-40分贝下列 。