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微电子器件试验-二极管高低温特性测试及分析

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微电子器件试验-二极管高低温特性测试及分析_第1页
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电子科技大学 微固 学院标准实验报告(实验)课程名称 微电子器件电子科技大学教务处制表电子科技大学实验报告学生姓名: 学号实验地点: 211楼 605指导教师:张有润实验时间:2017.6.12一、实验室名称: 微电子器件实验室二、实验项目名称:二极管高低温特性测试及分析三、实验学时:3四、实验原理:1、如图1,二极管的基本原理是一个PN结具有PN结的特性——单向导电性, 如图 2 所示門纺的内电场阳概————阴极二极管图1二极管构成原理2、 正向特性:二极管两端加正向电压,产生正向电流正向电压大于阈值电压时, 正向电流急剧增加,如图2 AB段3、 反向特性:二极管两端加上反向电压,在开始的很大范围内,反向电流很小直到反向电压达到一定数值时,反向电流急剧增加,这种现象叫做反向击穿,此时对应 电压称为反向击穿电压4、温度特性:由于二极管核心是PN结,导电能力与温度相关,温度升高,正向特 性曲线向左移动,正向压降减小;反向特性曲线向下移动,反向电流增大五、 实验目的:学习晶体管图示仪的使用,掌握二极管的高低温直流特性六、 实验内容:1、 测量当二极管的正向电流为100 A时的正向导通压降;2、 测试温度125度时二极管以上参数,并与室温下的特征参数进行比较。

七、 实验器材(设备、元器件):二极管、晶体管特性图示仪、恒温箱八、 实验步骤:1、测晶体管的正向特性各旋钮位置为:峰值电压范围极性(集电极扫描)功耗限制电阻0~10V正(+ )0.1〜1kQ(适当选择)• x 轴作用• y 轴作用电压0 .IV/度电流10pA/度2、测晶体管的反向特性各旋钮位置为:• 峰值电压范围• 极性(集电极扫描)• 功耗限制电阻• x 轴作用• y 轴作用0~10V正(+)10k〜100k Q(适当选择)电压1V/度电流0.1 pA/度3、对高温时的二极管进行参数测量九、实验数据及结果分析:实验数据:正向导通压降(100uA)常温0.4V125°0.24V图 3 常温二极管直流特性十、实验结论:通过测试,可以知道:高温时正向导通压降降低了,这与所学理论知识一致,实验 结果正确其常温下的正向直流特性如图 3 所示十一、总结及心得体会:二极管因其单向导通的特性,在很多方面均有应用,例如运用在整流电路、检波电 路、稳压电路、各种调制电路,尤其是近年来发光二极管的广泛推广,这些运用使得二 极管在现代社会中扮演着极其重要的角色所以对二极管直流和高低温的分析将使得 我们对二极管的认知更加深刻,对二极管的应用也大有帮助。

对于这样的基础元件我 们应牢牢掌握住他的作用原理以及基本电路,这样才能为以后的电子技术学习打下良 好的基础通过这次试验,让我们更加清晰地认识了二极管的特性,促进了我们能够结 合课本更加直观地认识二极管的相关概念,继而提高了自己对于二极管的学习兴趣, 为将来的学术和工作都打下了良好的的实践基础十二、对本实验过程及方法、手段的改进建议:高温特性测量的仪器就一台,测量效率不高,建议增加仪器数量报告评分:指导教师签字。

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