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高压介损试验

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高压介损试验_第1页
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第三章 介损、高压介损试验电介质在交流电压作用下,除电导和周期性缓慢极化引 起的损耗外,有时可能产生游离损耗,即电晕和局部放电损 耗,这些损耗统称为介质损耗介质损耗因数tg 6的测量, 习惯上简称“介损试验”.介质损耗因数tg6测试介质损耗因数tg 6是反映绝缘性能的基本指标之一介质损耗因数tg6反映绝缘损 耗的特征参数,它可以很灵敏地发现电气设备绝缘整体受潮、劣化变质以及小体积设备贯通 和未贯通的局部缺陷介质损耗因数tg 6与绝缘电阻和泄漏电流的测试相比具有明显的优点,它与试验电 压、试品尺寸等因素无关,更便于判断电气设备绝缘变化情况因此介质损耗因数t g6为高 压电气设备绝缘测试的最基本的试验之一介质损耗因数tg 6可以有效的发现绝缘的下列缺陷:(1)受潮;(2)穿透性导电通道;(3)绝缘内含气泡的游离,绝缘分层、脱壳;(4) 绝缘有脏污、劣化老化等测量原理、 、 、 、 、1=1 +1 II(c)相量图介质在交流电压作用下的情况如图3-l(a)所示,(a) (b)图 3 — l 绝缘介质在交流电压作用下的电路图和相量图 (a)电路示意图 (b)等值电路图通常把绝缘介质看成由一个等值电阻 R 和一个等值无损 耗电容C并联组成的电路,如图3-1(b)所示,通过介质的总 电流I是由通过R的有功电流I和通过C的无功电流I所组RC成。

i流过电阻R所产生的功率代表全部的介质损耗,iRR越大,介质损耗越大由i、和i所组成的相量图如3-i(c)RC所示,从图中可以看出i的大小与i和i之间的夹角§有关,RC§越大,i越大,因此,称§为介质损失角从图中可得出:R介质损耗p与介质损失角§之间有如下的关系式:i =u/r i 二u/x = scu tg§=i /i=i/sCRR C C R Cp=ui = ui tg§ ==u s cutg § =U2 s ctg §RC其中,p--绝缘介质中的损耗功率U——被试品上的交流电压有效值C-―被试品电容s―-电源角频率从上述关系式可以看出,通过测量tg §值可以反映出绝 缘介质损耗的大小二、测量仪器现场主要用 AI-6000 自动抗干扰精密介质损耗测量仪 和 2816 型自动 12KV 绝缘测试系统两种仪器进行测量AI—6000 —体机应用于现场抗干扰测量,内置了介 损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器采用变频 干扰和傅立叶变换全数字处理技术 ,全自动高度智能化测 量,干扰下测量数据非常稳定测量结果由面板液晶显示 屏显示,内置微型打印机可自动打印结果此仪器的主要 特点是能够自动分辨电容、电感、电阻型试品并进行测量。

电容型试品则显示CX和tg8;采用变频技术,解决了抗干扰问题其特有的 45HZ—55HZ 自动双变频测量能在 50HZ 强干扰环境中直接得出 50HZ 的结果数控变频电源, 测量电压从 500V-10V 连续设定,仪器自动缓慢升降压,整 个测量过程只需要大约 1 分钟时间另外,当高压短路、 击穿或测试电流波动时,仪器能快速切断高压仪器设有 断电保护,突然断电不会引起过电压三、测量接线及测试方法量接线方式有以下两种:1AI-6000自动抗干扰精密介质损耗测量仪一体机的主要测正 内 CN --Hz 10KV内电压(标准正接线)Test HV-RD反 内 CN --Hz 10KVTest HV-RD接线二:反接线、内标准电容、内电压(标准反接线)第3页共7页现场根据测量需要,选择合适的接线,正接线方式测量时高压 线芯线和屏蔽都可接到 CX 高压端,此时试品输入 CX 插座 输入试品电流,测试线芯线接 CX 低压信号端,屏蔽接 CX 屏蔽端;反接线时高压线芯线接到 CX 信号端,屏蔽接到 CX 屏蔽端(无屏蔽试品屏蔽悬空)然后根据该测量方式选择需要 的菜单选项用 儀移动光标到相应菜单,用 f键修改 光标处菜单内容。

光标必须停在 Test 处按启/停键一秒钟以上 开始升压测量不显示 Test 项,则表示设置不正确,不允许 测量菜单项设定好后自动记忆,试验人员不必反复修改 菜单)整个测量过程大约需要一分钟时间测量的任何时候, 仪器必须可靠接地 ,以防外壳带电紧急情况下应立即关闭 “总电源开关"反接线法适用于一端接地的被试设备,但此 方法受外界环境因素及设备表面脏污情况的影响较大2. 2816 型自动 12KV 绝缘测试系统的接线图如下图所示按试验接线图接好线,确认安全后,打开 2816 的主电源, 同时注意 GRUND 灯是否亮;选择模式后,抓住安全开关并按 住它,OPERATOR灯亮(能听到一声笛声,若听不到,旋转 HIGH VOLTAGE到0%);按下HV ON 按钮,高压灯亮;此 时,模板上有一行时间显示,按 RUN 键,电容/功率因数将 显示测量值;调压到所需电压值,按 PRINT 键,打印结果; 释放安全按钮,降压;再旋转HIGH VOLTAGE到0%,试验 结束利用 2816 进行试验时需注意以下几点:试品周围必须 有醒目的障碍线,试验设备必须离开线并且要标明;在试验 接线完之前,接地棒一定要接在高压端头,试验设备还须配备 一个安全开关;当在封闭环境里工作时,必须有足够的换气 设备,空气中无易燃气体;确信设备良好接地,大多数的试验 设备只有在试品地和设备电源电压地连接好后才能提供电 压.试验前,决不能不接地 ;不能超过设备固有的电流、电压 限制。

四. 影响因素1. 表面影响被试品的表面泄露对绝缘电阻影响很大,对tg §的测量也 同样如此 ,影响的程度与被试品的电容量有关 .电容量较 小的试品,当表面脏污受潮后表面泄露增加,回带来严重 的影响,有可能引起误判断因此,对小电容量的试品, 必须注意消除表面泄露的影响 ;而对大电容量的试品 ,影 响较小测量中,应除去表面脏污,如遇空气湿度大时,应 对表面采取必要的措施,但不宜加屏蔽环,否则将使电场 分布改变,会得出错误的测量结果.2. tg8的综合(整体)值与个别值的关系一般电气设备的结构是多个部件组成的各部件的绝缘又 是由不同绝缘材料构成的因此,在对电气设备试验结果 分析时,可如实地把设备的绝缘部件看成是由多个介质的 等值电路串联、并联、及串并联组成的电路这样我们所 测得设备的tg §值,实际上是各部件的等值电路组合后的 综合值•经计算可得出:并联后的综合tg §必然大于其中 最小的,而小于其中最大的,一般可认为,综合tg §主要代 表并联各元部件中电容量最大者的介质损耗值;串联后的 综合tg§值介于元件中的最大与最小两个介质损耗角正 切值之间,各元件的值相差不大时 ,他们都将接近于综合 值,相差较大时,综合值主要反映串联元件中电容量最小 者的介质损耗角正切值;串并联介质电路的综合tg§值在 两个元件的值之间。

五. 测量中的异常现象及初步分析六. 测量结果的分析判断1. 将试验结果与现行标准进行比较.所测得的tg §值不 应超过规程规定的标准,如有超过标准,应查明原因2. 与设备历年(次)试验结果比较因为一般电器设备 都应定期地进行预防性试验,如果设备绝缘在运行过 程中没有什么变化 ,则历次的试验结果都应当比较接 近如果有明显的差异,则说明绝缘可能有缺陷3. 同一设备相间相互比较因为同一设备,个相的绝缘 情况应当基本一样 ,如果三相试验结果相互比较差异 明显,则说明有异常相的绝缘可能有缺陷4. 与同类型设备试验结果相互比较因为同一类型的设 备而言,其绝缘结构相同,在相同的运行和气候条件 下,其测试结果应大致相同.若悬殊很大,则说明绝缘 可能有缺陷5. 利用tg 5 =f (U)的曲线进行判断良好的绝缘在击穿 电压值以下,随着电压的升高,介质中的有功分量和无 功分量都按正比例增大,两者的比值保持不变,因此 tg5=f(U )为一条水平直线因此,在不同的试验电 压下,测出不同的tg 5值,并绘出tg 5 =f(U)的曲线,即 能判断出绝缘状况。

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