stm实验分析及图像处理

STM 实验分析及图像处理摘要：本文介绍了扫描隧道显微镜扫描二维光栅及扫描中遇到的问题处理，并用 SPIP 软件对所得图像进行离线分析及修正，得到相关参数关键词：扫描隧道显微镜 SPIP 软件 傅立叶变换去噪The analysis of STM experiment and image processAbstract: This article describes the process of scanning two-dimension raster by STM and the solutions of the encountered problems. After the experiment, we analyze and correct the images off-line and get the relevant parameters of the raster.Key words: STM; SPIP software; Fourier 一、实验原理：1、 量子力学隧道效应当一个电子以能量 E 进入高度为 V0（V0>E）的势垒时，按照量子力学的观点电子是由一定概率隧穿此势垒，且隧穿的概率与能量差（V-E）及势垒宽度有关，下面用公式说明此问题。

考虑一维方势垒：由薛定谔方程：2[()]dmVxExhψ ψ可求得在 x>x2 的区域内： ；其中 , 为常数Asinψ （ k+φ ） 𝑘= 2mEhA和 φ透射率： ；其中 为势垒宽度02()mVEDhTe21x由此可见，透射率与电子能量以及势垒宽度有关，都成指数关系，所以透射率对这两个因素十分敏感2、隧道电流与隧道距离由于电子的隧道效应，金属中的电子并不完全局限于表面边界之内即，电子密度并不在表面边界突然降为零，而是在表面以外呈指数衰减；衰减长度约为10A将直径小到原子尺度的探针针尖和样品的表面作为两个电极,它们之间的介质相当于势垒.如果探针和待测样品靠得很近，那么，它们表面的电子云就可能发生重叠如果在两金属之间加一微小电压 V ，那就可以观察到它们之间的电流密度 （隧道电流密度）:M420mdheMVdΦΦ令 ；则120,CΦ Φ21de其中 h 为普朗克常数，m 为电子质量， 为针尖和样品的平均功函数（ ,Φ 12=+Φ （ Φ Φ ）为针尖功函数， 为样品功函数） ，d 为隧道距离（mm） ， 为常数， =0.5nm1Φ 2Φ 0d0下图为实验中针尖，样品及得到的图像的函数图:为针尖表面轮廓函数， 为样品表面函数， 为扫描得到的图像函数()txs()x()ix，将此公式带入上述电流公式，得到：()ditx2())(1CitsxMe成像点 处的总电流等于 在样品表面的积分：M2[())(]1()ixtxsIx在恒流模式下 为常数，从而得到：0I22()()32()ln[]CsxtxixeC 总之，隧道电流 与隧道距离有关系，当s 变化1A时， 呈数量级变化，十分灵()I I敏。

这样，当探针在样品上扫描时，表面上小到原子尺度的特征就显现为隧道电流的变化二、实验仪器及工作原理1、实验仪器：扫瞄隧道显微镜一般由头部系统、电子学系统和计算机系统3 部分构成,如图2. 头部是STM 的工作执行部分,包括信号检测装置及处理电路、针尖、样品、PZT 扫描器、粗细调驱进装置以及隔离震动的设备;电子学系统是STM 的工作控制部分,主要实现扫描器的各种预设的功能和维持扫描器状态的反馈系统, 如XY 扫描、STM 反馈计算、改变 STM 的针尖偏压、马达自动控制以及与计算机间的数据通讯等;计算机系统可实现人机交互软件的操作,指令电子学控制系统实现STM 头部功能,完成实时过程的处理、数据的获取、分析处理及输出.由上面实验原理可知，隧道电流与隧道距离有着指数关系,即当距离减小1A,隧道电流增加约一个数量级因此,根据隧道电流的变化, 我们可以得到样品表面微小的高低起伏变化的信息,如果同时对x, y方向进行扫描,就可以直接得到样品的三维图.2、 工作模式：1） 恒流模式：当STM扫描样品表面时，通过上下移动针尖保持隧道距离不变，从而保持针尖和样品之间的隧穿电流不变，这样针尖的上下移动就描述了样品表面的形态，得到样品表面原子排列的图像，这种模式主要应用于样品表面起伏较大的扫描。

2） 恒高模式：当STM扫描样品表面时，保持针尖的垂直高度不变，这样针尖和样品的距离随着样品表面的起伏而改变，从而隧道距离发生变化，隧道电流也跟着发生相应变化，这样我们根据电流的变化就可以推导出样品表面的起伏状况，也就得到了样品表面原子形貌图像，这种模式应用于样品起伏不大的扫描3） “接触”模式：恒流模式和恒高模式中针尖不与样品表面接触,形成空气势垒,隧道电流随势垒宽度指数衰减. 在关闭隧道电流反馈控制回路的条件下测量I-U 曲线,随着势垒宽度的不断减小 , I-U 曲线的斜率逐渐增大,当针尖接触到样品表面, 势垒就消失,曲线的斜率基本上不再改变, 这就是STM 的“接触”模式. 在有机分子材料的研究中,为了消除空气势垒的影响,常采用这种模式.三、实验过程及结果实验条件：样品：二维光栅 模式：恒高模式扫描范围：2000nm X-range：2000nm Y-range：2000nm Z-range：181.0nm扫描速度（time per scan line）：0.486s 图像扫描速度（time per image）：248.9s实验操作：调节Z-range 使得LineView 里的波形图处在Z-output值域内。

改变P-Gain,I-Gain, 以及扫描速度使得图像清晰实验结果：获得周期性图像，图像颜色的深浅表示样品各处的高度，右边颜色条与高度相对应四、扫描中的问题及处理为了更快速且有效地获得理想的扫描图像，就必须对各方面可能影响图像效果的因素考虑进去，通过不断地改变实验条件或者排除环境带来的影响来获得清晰理想的扫描图像实验中可能遇到的问题有环境噪声及振动太大，正反扫描图像不一致（图像漂移） ，图像不清晰等首先，对于环境噪声及振动，由于实验扫描的是纳米量级，任何微小的振动,包括实验室附近机器的工作振动,实验室外公交车的疾速来往, 甚至实验室内人的走动和说话的声音都会对STM 工作的稳定性产生影响. 由于本实验采取的是弹簧悬吊减震措施，确保了去除轻度噪声和振动的影响，所以实验中应避免较大振动以及确保弹簧的静止其次，当扫描图像时发现正扫描的图像与反扫描的图像不一致，有一定平移，这就是图像飘移问题，这是由于针尖刚扫描样品时，应力的作用使得针尖发生形变，扫描中微小的变化都会导致图像的变化，所以这时应当多次扫描图像，等待应力的消失，一段时间后，应力自然释放，图像变得稳定另外，图像模糊或者根本没有周期性图像的情况最为常见。

图像模糊可能是由于扫描速度太快，反馈电路跟不上导致，这时应减小扫描速度，或改变P-Gain， I-Gain提高反馈速度来适应图像模糊还可能是由于针尖吸附微小颗粒导致，实验中可以先将电压改大然后立刻变小去除颗粒或者用丙酮再次清洗后再扫描图像模糊的另外一个原因是针尖距离样品太远，虽然有隧穿电流的显示，但是电流太小使得分辨率太低，所以应当尽量使得针尖和样品的距离小对于没有周期性图像的情况很大可能是由于针尖的不合格导致实验对针尖的要求十分高，针尖的纵横比以及曲率半径都是衡量针尖好坏的量度实验中应采用纵横比小、曲率半径小的铂铱针尖，如果发现没有明显图像，可以采取换针尖的方法五、图像处理利用SPIP（Scanning Probe Image Processor）软件对STM扫描所得到的图像进行修正和分析，SPIP可以显示扫描平面与Z轴构成的三维图像，更加形象地表现被测样品表面原子的排列及物理性质，更重要的是可以用Fourier 变换对图像进行去噪处理使图像更接近真实情况另外此软件还能自我分析图像周期性找到基元（重复出现的基本单位） ，并得出有关基元的特征1、 对原实验结果图像用3D图表示：2、 找到重复出现的基本单位——基元（Unit）1） 用Fast Unit Cell Detection对图像进行周期性分析并找到Unit，则原图像被周期性地分割成下图：图中每个平行四边形内表示一个基元（Unit） 。

在找到Unit后，从Unit Cell and Calibration Results中可以得到基元的两个基矢 、 ， ， ，两基元夹角arb609.3nm504.1bnrUnit Area=,91.3abo523.071n并得到Fourier频谱图（将连续或离散的函数序列从空域映射到频域上）：2)用FFT找到周期性及Uniti)点击软件中的FFT功能项后出现如上图所示的Fourier频谱图ii)弹出Fourier Menu后点击Peak1，并在Fourier频谱图中找到一个峰值，这个值即为最高傅立叶项，同理点击Peak2，在频谱图中找到另外一个最高傅立叶项，在Fourier Menu中的Measure里可以得到 Peak1、Peak2的信息：Peak1：坐标 波长0.285,3.967,021.590fHZ502.89nmPeak2：坐标 波长44787如上图所示此后系统自动分析周期性，并找到基元，随即出现上面所说的周期性分割图像，每一个平行四边形代表一个基元，并给出基元性质，并在Unit Cell and Calibration Results中得到：， ，两基元夹角 Unit Area=503.1anmr578.2bnr ,8.3abo52.910nm下面将手动找 和 的值并检验上面两种方法那种更加精确。

利用软件中的maker在原图像的X-range 方向拉一条贯穿-1 ～1的线段，如下图所示：之后会出现Profile图像：右边给出cursors的信息，将cursor移动到Z值（图像中的Y值）最大的点，读出X 值：10.52[]M衸 21.0745[]M衸 31.69[]MX衸软件设定：1 =1000nm衸31-0nm=56.82br同理得到： 3142MMY-+-a10nm=56.r（ ） （ ）可以看出手动找出的 、 与FFT方法得出的结果更接近，所以用FFT比用Fast Unit Cell brDetection更精确3、 用Plane Correction以及Fourier变换对图像修正1） Plane Correction以及修正后求解精确 和arbPlane Correction用来修正图像的扭曲，由于SPM仪器在lateral plane和Z 轴耦合是非线性的，故Plane Correction可以用来修正此类图像失真以下是修正后的图像：再利用marker找出 、 ，方法同上得到： ，arb51.0anmr574.0bnr2） 用傅立叶及反傅立叶变换处理图像。

傅立叶变换有以下作用：分析lattice和line结构，检测主要噪声和振动情况，并用反傅立叶变换过滤以下是变换去噪之后的图像：总结：由于此实验的样品为二维光栅，故只对其周期性及基元进行分析，找出了基元及基矢的大小，并对图像进行修正，包括非线性及去噪的修正，运用了傅立叶及反傅立叶变换过滤了高频噪声，而对粗糙度等性质没分析，主要是因为样品不是晶体，没必要做此分析，但像石墨等晶体又由于实验仪器的限制不能作为样品，故只对二维光栅进行扫描分析参考文献：[1 ] 张研研,陈祺. 渤海大学学报 2008.9 第 29 卷第 3 期[2 ] 马进，俞熹. 石墨原子 STM 图像的形变分析. 《物理实验 》2008.5 第 28 卷第 5 期 。