深圳市恒宝通光电子有限公司作业类指导书可靠性试验规定作业指导书（试行版）HPT3-W-I-53制订部门工程部版本号A修订状态0发放编号受控印章制订审核批准制订日期审核日期批准日期修改记录版本号修改状态修改内容修订人/日期A0首次发布1. 目的：验证产品的光电性能和机械性能的可靠性，验证产品的设计是否满足 顾客的需求2. 适用范围：本程序适用于恒宝通无铅化（符合ROHS标准）产品为SM 1x9光 模块、SFF、GBIC、SFP和BiDi光模块，以及新开发的光模块等产品的可靠 性测试3. 参考文件： Bellcore TA-NWT 000983Bellcore TR-NWT 000468 MIL-STD-8834. 可靠性试验监控程序如有批量生产（每月 1000 个以上），则下述产品要提供规定的样品数量做可 靠性试验作为监控产品的可靠性质量4.11.25Gb/s、2.5Gb/sSM1x9 光模块；1.25Gb/s、2.5Gb/s SFF； 1.25Gb/s、2.5Gb/s SFPDDM 光模块等4.1.1 每季度的可靠性试验（每季度的可靠性试验流程参考第4.3节）测试条件样品数量频率测试说明高低温冲击-40°C至到+85°C,温度 保持时间为15分钟， 温度转换时间为5分 钟11PCS每季度一次20个温度循环高温老化85 C,每季度一次48小时4.1.2 每半年的可靠性试验在样品进行长期的可靠性试验前，要求对样品进行预处理试验。
关于长期的可靠性试验监视计划工艺流程，请参看4.3节测试条件样品数量频率测试说明高温老化（HTOL）85 C11PCS每半年168小时温度循环（TC）-40C +85C15min dwell, 5min 转移400次11PCS每半年100次循环高温高湿（BDH）+85C /85%RH,11 PCS每半年168小时4.2GBIC、SFP 和各类 BIDI 等4.2.1 每半年的可靠性试验（每半年的可靠性试验流程参考第4.3节）测试条件样品数量频率测试说明高低温冲击-40 C到+85 °C,温度保 持时间为15分钟，温度 转换时间为5分钟11PCS每半年一次100个温度 循环高温老化85 C每半年一次168小时4.2.2 每年的可靠性试验 在样品进行长期的可靠性试验前，除了进行机械震动和振动试验外,要求 对样品进行预处理试验关于长期的可靠性试验监视计划工艺流程，请参 看 4.3 节T测试条件样品数量频率测试说明高温老化(HTOL)85 °C,5.0/3.3V >168 小 时11pcs每年500小时温度循环(TC)-40Cto +85C 15min dwell, 5min 转移11 pcs每年200次循环高温高湿(BDH)+85°C/85%RH,11 pcs每年500小时高低温冲击-40 C 到+85°C，温 度保持时间为15 分钟，温度转换时 间为5分钟11 pcs每年100个循环机械冲击(MS)1500g, 0.5ms, 5 次/轴，11 pcs每年After MS变频振动(MV)20g, 20~2000Hz,4分钟/循环，4循环/轴，11 pcs每年After MVEMI/EMCEN550226pcs每年ESD500V6pcs每年4.3．工艺流程4.3.1 每季度的可靠性试验4.3.2 每半年/年的可靠性试验每季度/半年的可靠性试验所 每年的可靠性试验试验所用的模块是 用的模块是在完成测试后可以 在完成测试后不能发货的，依照保留时 发货的模块 期所保留的模块4.3.3每季度/半年可靠性试验在光、电测试后不合格品处理流程发现季度/半年可靠性测试失效产品工程师/研发经理确认并签名NO停止该流程通知总经理徳工相关部门进行评审，对这批模块决定处理办法4.3.4 每年可靠性试验在光、电测试后不合格品处理流程发现年可靠性测试失效产品工程师/ 研发经理确 认并签名NO停止该流程通知总经理/总工¥NO只是参数 值的问题执行矫正方法4.4 不合格定义 不合格就是不符合监控测试部分的规范说明书。
不合格类型被更进一步分解为两 组， 即灾难性和参数失败4.4.1 灾难性就是（1）一个模块不工作2）一个模块测量出来的参数在测试软件所规定的范围以外3）EEPROM 测试失败4）外壳或者屏蔽罩破裂、漏电、表面破损5）一个模块所测量出的参数变化范围超出标准范围（包括测试仪器所允许最 大 0.8dB 的偏差）LOP 3dB CSEN 3dB4.4.2 参数失败就是：（1） 上升沿时间，下降沿时间，占空比，PWD, Threshold，消光比，老化前后 偏差；（2） 功率和灵敏度变化在1.5dB与3dB之间，包括测试仪器的R&R所允许的最 大偏差0.8dB4.4.3 'Infan t st age '就是在下面所列项或之前的测试点：（1） 达到20次温度循环之前（2） 168小时的HT0L和高温高湿（3） 10次基于抗湿的循环（4） 100次温度循环（ 5）机械震动和振动4.4.4 来自其他测试点的失败被认为是长期失败5．记录： 《模块可靠性测试记录》 HPT4-53-01。