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1、I8000 第一次压合参数DOE分析一、实验目的 针对压合产生的不良，研究分析影响压合不良的各种因子，首先通过第一阶段实验找出影响压合不良的显著因子，再通过第二阶段实验寻找最优参数组合。二、因子筛选 1、压合原理介绍压合处 压合为ITO触摸屏制作的关键步骤，它主要利用脉冲热压机的高温高压去实现屏体与FPC的连接功能，使得触摸屏与外界功能实现。下图为压合处截面图。2、因子选择 根据以往不良记录，产生的压合不良现象的原因有：压合杂物，银胶断线氧化，PFC偏位，引线压反，引线不良，组合偏位，压合铜铂有效长度过短、有效宽度过窄，压头过大或过小，压合时间太长或太短，压合温度过高或过低、压合平整度不良。
2、以上不良中，压合杂物，PFC偏位，引线压反，引线不良，银胶断线氧化，组合偏位，都是人为或来料不良；而压合铜铂有效长度过短、有效宽度过窄，这是设计问题，与压合工序没有直接关系，因此在第一阶段实验可以忽略这些项目不良。同时，压合平整度可以通过仪器控制压头和机台的平整度和水平度以及通过机台的调节，达到平整度的目的，这是一个完全可控的因子，所以也不做考虑。在第一阶段实验只考虑以下4个因子：实际压力，上模温度，下模温度，恒温时间。三、第一阶段实验设计1、因子水平对照表因子水平12交互作用A实际压力/KG3.04.0B上模实际温度/120130C下模温度/7080D恒温时间/S812 2、找显著因子 每个
3、实验号做50次实验，用L(2)统计实验结果如下：实验号列号1234产量XKABCD11111182111223312212941222375212135621224372211398221245K1107119125121总产量269K2162150144148Q55311927由此得出：S=378.125，S=120.125，S=45.125，S=91.125计算总离差平方和：Q=9683.00，S=637.875，S=3.3753、整理成方差分析表如下：方差来源离差平方和自由度平均离差平方和F值临界值显著性贡献率A378.1251378.125336.11 F(1,3)= 34.12*59
4、.28%B120.1251120.125106.78 *18.83%C45.125145.12540.11 *7.07%D91.125191.12581.00 *14.29%误差3.37531.1250.53%总和637.8757100% 4、第一阶段实验结论由前面可以得出A，B，C，D均为显著因子，它们总贡献率为99.47%。四、第二阶段实验设计 为了找出最佳的参数组合，故将第一阶段实验找出的显著因子A、B、C、D再进行第二阶段实验，每个因子拟3个水平，每个实验号做50次实验，实验结果如下：1、 因子水平对照表因子水平123交互作用A实际压力/KG3.084.085.08B上模实际温度/12
5、0130140C下模温度/708090D恒温时间/S813182、 点线图21210681139353、 用L(3)统计实验结果如下：列号实验号1235689101213产量XKAB(C*D)2C(B*D)2(A*D)2D（A*D)1(B*D)1(C*D)11111111111115 2111222222225 3111333333319 4122112223322 5122223331133 6122331112230 7133113332217 8133221113324 9133332221128 10212121232338 11212232313136 12212313121233
6、13223122311235 14223233122347 15223311233142 16231123123132 17231231231241 18231312312321 19313131323216 20313212131324 21313323212123 22321132132132 23321213213238 24321321321322 25332133211329 26332211322121 27332322133213 K1213229245236233249250 251 260 262 总产量756K2325301255289245236286 246 254 2
7、48 K3218226256231278271220 259 242 246 Q112751158453566131816由此得出： S=889.56，S=400.67，S=229.56，S=242.67，S=79.11，S=139.33，S=25.11计算总离差平方和： Q=23270.00，S=2102.00，S=96.004、整理成方差分析表如下：方差来源离差平方和自由度平均离差平方和F值临界值显著性优方案A889.556 2 444.778 27.799 F(2,12)=6.93 *A2B400.667 2 200.333 12.521 *B2C229.556 2 114.778 7.
8、174 *C2D242.667 2 121.333 7.583 *D2A*D79.111 4 19.778 1.236 F(4,12)=5.41 B*D139.333 4 34.833 2.177 C*D25.111 4 6.278 0.392 误差96.000 6 16.000 总和2102.000 26 5、第二阶段实验结论 经过第二阶段实验，A、B、C、D都是显著因子，而它们之间的相互作用都为隐性，最佳参数组合为A2B2C2D2 。五、实验确认为了对最优参数进行验证，考虑到质量及制作成本，采用实际压力4.084.20KG（脉冲热压设定值为1.3KG），上模实际温度1305（机器设定值160210），下模温度80，压合恒温时间1115秒（机器设定值1418秒）为最佳作业参数；投产了2000pcs，只有1pcs不良，良品率为99.95%。这充分验证了实验结果是正确的，可以全面推行。制作： 日期： 审核： 日期： 核准： 日期： 在清洗液中硅表面为负电位有些颗粒也为负电位，由于两者的电的排斥力作用可防止粒子向晶片表面吸附，但也有部分粒子表面是正电位，由于两者电的吸引力作用，粒子易向晶片表面吸附。
