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1、6sigma黑带改善 降低高内阻不良率项目,部 门: 项目黑带: 开始时间:2008.3.18 完成时间:2008.8.30,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,团队成员,负责方案培训、指导,客户和专业信息收集、分析指导,负责滚槽B班人员改善项目措施执行和控制,负责滚槽A班人员改善项目措施执行和控制,负责项目改善方案、措施的跟进,实验验证,制造三部高内阻改善项目,负责设备的管理和维护,原因分析和改进项目,Six sigma,项目进度表,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,Define 阶段,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,D阶段的思路,项目选择的
2、理由,明确客户需求,确定关键CTQ,Y的分布规律,预算财务收益,制造三部高内阻改善项目,MSA,Y的现状水平,Y的目标制订,现状分析,VOC/VOB调查,高内阻不良品的解剖,小组讨论,关键CTQ确定,确定关键CTQ的计算公式,图表展示Y现状,对Y的现状进行统计,确定Y和各小y的目标,按目标进行收益评估,Six sigma,VOC声音:发给客户高内阻电芯数量增多且不稳定,High IR Cell quantity in each batch out shipment to SMP,PCS,Batch,制造三部高内阻改善项目,07年高内阻Y的不良率分布,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,
3、汇总07年10-12月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:13800PPM;而占工序检测次品数不良率为: 24610PPM;右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个批次。,08年高内阻Y的公布:对比07年无明显下降趋势,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,汇总1-4月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:10200PPM;而占工序检测次品数不良率为: 15830PPM;右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个批次。,Six sigma,1.提高极耳焊接 合格率。 2. 提高卷绕焊接 合格率。,1.降低高内阻比 率,高内阻不良 品不流出厂。 2. 降低品质失败 成本。,高内阻出货为零,
4、内部顾客VOP 制程QC,内部顾客VOB 公司领导,外部顾客VOC 客户,VOC&VOB&VOP汇总,1、提高制程能力,减少高内阻电芯比率 2、降低品质失败成本,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,高内阻电池原因分析解剖流程图,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,图二:测帽盖内阻,图三:测卷芯内阻,图四:负极耳虚焊,图五:负极耳弯折未焊接,图六:负极耳弯折,半个焊点,图一:用管钳解剖,解剖寻找Y的CTQ,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,解剖507pcs高内阻电芯,进行原因分析,不良原因结果如下:,Six sigma,O 高内阻,I Y:负极耳
5、虚焊,制造三部高内阻改善项目,滚槽负极点焊,f (X),目前Y的CTQ,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,量具 R&R 方差分量 来源 方差分量 贡献率 合计量具 R&R 0.02055 0.33 重复性 0.02055 0.33 再现性 0.00000 0.00 测量人员 0.00000 0.00 部件间 6.26445 99.67 合计变异 6.28500 100.00 研究变异 %研究变 来源 标准差(SD) (6 * SD) 异 (%SV) 合计量具 R&R 0.14335 0.8601 5.72 重复性 0.14335 0.8601 5.72 再现性 0.00000 0.0
6、000 0.00 测量人员 0.00000 0.0000 0.00 部件间 2.50289 15.0173 99.84 合计变异 2.50699 15.0419 100.00,由无人员误差,测量系统非常好。,MSA测量系统:%研究变异30%,测量系统合格,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,y1:负极耳虚焊,94.28%,Y的类别,所占工序不良率,所占产出率PPM,9617PPM,按08年1月至4月份止产出的高内阻不良品数, 不良率合计是10200PPM计算得出,按二八法则提取对 高内阻影响最大的 y,结合y的现状能 力,分析得出: 高内阻不良是: Y负极耳虚焊, 数量占各项目Y 的9
7、4.28%,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,负极耳虚焊分布机台 左图是从解剖电芯的数据,分析负极耳虚焊所 产出的设备分布规律 柏拉图,从图中可得出:2#滚槽机负极耳虚焊数量占三台机器所产出的70.6%,为三台机器中最高。 故:后续改善可着重分析2#滚槽机点焊工序。,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,参照汇总至08年4月份止高内阻电芯现状, 按达到0缺陷的方向提高70%的比率计算:总体目标=10200PPM*(10.7)=3100PPM 故:项目目标是将高内阻不良率降低至3100PPM以下。,综合Y的分布规律和 历史数据, 得出:主要改善方向 是对滚槽机负极耳 点焊工序进行
8、改善, 从而降低高内阻电芯 的产出。 目标如左图,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,财务分析: 高内阻电芯的不良率, 由10200PPM减少到3100PPM, 统计08年高内阻降档数据分析, 1、降为B品的数量为8.82%, 成本损失6元人民币; 2、降为C品的数量为91.18%, 成本损失为10元人民币。 注:损失价格从财务部门获得。 故按月200万电芯计算得出, 每年节约成本约人民币: 1,643,882元,Six sigma,Measure 阶段,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,焊接不良原因 鱼骨图,Six sigma,制造三部高内阻改善项目
9、,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,滚槽负极耳点焊因果矩阵图: 根据流程图的项目,用因果矩图分析, Y有两个项目: 1、焊接强度; 2、焊接外观。 结果: 1、红色区域是对负极耳点焊有重要影响的项目; 2、黄色区域是对负极耳点焊次重要影响的项目; 3、蓝色区域是对负极耳点焊次要影响的项目。,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,FMEA: 制作FMEA,将对负极耳焊接有轻微影响的日常项目管控起来,将其影响减至最低。 后续做优化焊接参数DOE实验。,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,根据大家的专业知识和专业技能经验,找到9个影响点焊强度的因子: 升压时间-R1;焊接时间
10、-W1;焊接压-P;显示/焊接电流-Heat1; 冷却时间-CO;下降后延时;焊完后延时;预压时间-SQ1;保压时间-HO。 据以往工艺参数实验数据,可判定预压时间(SQ1)和保压时间(HO),对焊接强度 无影响,固本次DOE实验将此两项目参数根据以往结论固定,分别设定为50*10ms 和0ms。 此次点焊DOE实验设计定为:7因子,两水平,加7个中心点,得出机器A、B侧实验 次数分别为39次,先在滚槽1#机上进行(后续完成再分别做2#滚槽机和3#滚槽机)。 实验目的:筛选出7个主因子中的主要影响因子,查看其交互作用,再得出因子X与 焊接强度Y之间的函式,得出发展方向,再进行下一步优化和固定因
11、子水平,得出 最佳焊接参数,提升制程点焊一致性。 附:焊接打磨统一由机电科专业人员进行,以保障焊针的实效性。 后续优化焊针针头标准。,下页附DOE实验设计具体参数设置表,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,DOE具体参数设置表(1#滚槽机),实 验 结 果 : 焊 接 强 度 Y,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,DOE因子实验结果(1#滚槽机),Six sigma,制造三部高内阻改善项目,因子显著性分析矩阵图: 根据DOE因子分析,影响焊接强度Y的是两个显著主因子,如下: 1、焊接时间; 2、焊接压力。 结论: 除上述两个主因子对焊接强度Y的影响显著外,其它主因子及交互作用
12、均不显著。 所以,下一步实验将固定其它主因子参数。,DOE因子参数分析,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,DOE因子反应曲面分析,显著因子反应曲面: 根据DOE显著因子反应曲面分析: 根据焊接强度Y值分布(9.25N-21.6N) ,而我们实验对Y的期望值是越大越好,故可从图中看出,焊接压力选择小的方向,焊接时间选择大的方向。,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,主效应因子图: 根据主效应图分析,我们发现影响Y值是主因子有: 1、焊接时间W1; 2、焊接压力P; 3、下降后延时。 其中W1正方向影响Y;P和下降后延时反方向影响Y。,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,Six sigma,制造三部高内阻改善项目,下一步实验: 3因子:焊接时间(W1),焊接压力(P),下降后延时 3水平:W1(915ms),P(412psi); 延时(00.2ms) 其它各因子取原标准的中点。,