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1、实验二 组合逻辑电路一、实验目的1掌握组合逻辑电路的功能测试。2验证半加器和全加器的逻辑功能。3学会二进制数的运算规律。二、实验所用仪器和仪表1二输入四与非门 74LS00 3. 数字万用表（DT9106）2二输入四异或门 74LS86 三、实验内容 1组合逻辑电路的功能测试（1） 用 2 片 74LS00 组成图 2-1 逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号和引脚号。（2） 图中 A、B、C 、接电平开关， Y1、Y2 接电平指示灯（LED） 。（3） 按表 2-1 要求，改变 A、B、C 的状态,填表并写出 Y1、Y2 的逻辑表达式。（4） 将运算结果与实验结果进行比较。 输
2、入 输 出A B C Y1 Y20 0 00 0 10 1 11 1 11 1 01 0 01 0 1表 2-12测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知，半加器 Y 是 A、B 的异或，而进位 Cn上是 A、B 相与。Sn=AiB i Cn=AiBi 其中代表半加故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成。如图 2-20 1 0（1） 在实验箱上用异或门(74LS86)和与非门(74LS00) 按图 2-2 接电路。Ai、B i 接电平开关，S n、C n 接电平指示灯。(2)按表 2-2 要求改变 Ai 、B i 状态，将测试结果填入表 2-2 中。表 2-2Ai 0 1 0 1输入端Bi 0 0 1 1Sn输出端Cn3测试全加器的逻辑功能（1） 写出图 2-3 电路的逻辑表达式。（2） 根据逻辑表达式列出真值表。（3） 根据真值表画出 Sn、C n 的卡诺图.（4） 按原理图接电路并测试，填写表 2-3 各点状态。表 2-3Ai Bi Ci-1 Y Si Ci0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1四、实验报告1整理实验数据、图表，并对实验结果进行分析。2总结组合逻辑电路的分析方法。
