电子技术部分电子技术第01讲半导体器件

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1、第1讲,第15章 半导体器件,15.1半导体的基础知识,P型硅,N型硅 15.2 PN结及半导体二极管 15.3 稳压二极管 15.4 半导体三极管 15.5 场效应管,15.1.1 本征半导体,现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们的最外层电子(价电子)都是四个。,15.1 半导体的基本知识,通过一定的工艺过程,可以将半导体制成晶体。,完全纯净的、结构完整的半导体晶体,称为本征半导体。,在硅和锗晶体中,每个原子与其相临的原子之间形成共价键,共用一对价电子。,硅和锗的共价键结构,共价键共 用电子对,+4表示除去价电子后的原子,共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为束缚电子,常温下束

2、缚电子很难脱离共价键成为自由电子,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的导电能力很弱。,形成共价键后,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。,共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。,15.1.2杂质半导体,在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显著变化。,其原因是掺杂半导体的某种载流子浓度大大增加。载流子:电子,空穴,N型半导体(主要载流子为电子,电子半导体) P型半导体(主要载流子为空穴,空穴半导体),N型半导体,在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷(或锑),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相临的半导体原

3、子形成共价键,必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的离子。每个磷原子给出一个电子,称为施主原子。,硅或锗 +少量磷 N型半导体,N型半导体,多余电子,磷原子,硅原子,P型半导体,在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相临的半导体原子形成共价键时,产生一个空穴。这个空穴可能吸引束缚电子来填补,使得硼原子成为不能移动的带负电的离子。由于硼原子接受电子,所以称为受主原子。,硅或锗 +少量硼 P型半导体,空穴,P型半导体,硼原子,硅原子,空穴被认为带一个单位的正

4、电荷,并且可以移动,杂质半导体的示意表示法,15.2.1 PN 结的形成,在同一片半导体基片上,分别制造P型半导体和N型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处就形成了PN结。,15.2 PN结及半导体二极管,P型半导体,N型半导体,空间电荷区,PN结处载流子的运动,扩散的结果是使空间电荷区逐渐加宽,空间电荷区越宽。,内电场越强,就使漂移运动越强,而漂移使空间电荷区变薄。,所以扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡,相当于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚度固定不变。,15.2.2 PN结的单向导电性,PN结加上正向电压、正向偏置的意思都是: P区加正、N区加负电压。,PN结加上反向电压

5、、反向偏置的意思都是: P区加负、N区加正电压。,PN结正向偏置,内电场减弱,使扩散加强, 扩散飘移,正向电流大,P,N,+,_,PN结反向偏置,N,P,+,_,内电场加强,使扩散停止, 有少量飘移,反向电流很小,反向饱和电流 很小,A级,15.2.3 半导体二极管,(1)、基本结构,PN结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。,(2)、伏安特性,导通压降: 硅管0.60.7V,锗管0.20.3V。,反向击穿电压U(BR),(3)静态电阻Rd ,动态电阻 rD,静态工作点Q(UQ ,IQ ),(3)静态电阻Rd ,动态电阻 rD,静态电阻 :Rd=UQ/IQ (非线性),动态电阻: rD =UQ

6、/ IQ,在工作点Q附近,动态电阻近似为线性,故动态电阻又称为微变等效电阻,例1:二极管:死区电压=0 .5V,正向压降 0.7V(硅二极管) 理想二极管:死区电压=0 ,正向压降=0,二极管半波整流,例2:二极管的应用,uo,15.3 稳压二极管,当稳压二极管工作在反向击穿状态下,当工作电流IZ在Izmax和 Izmin之间时,其两端电压近似为常数,正向同二极管,稳定电流,稳定电压,例:稳压二极管的应用,稳压二极管技术数据为:稳压值UZW=10V,Izmax=12mA,Izmin=2mA,负载电阻RL=2k,输入电压ui=12V,限流电阻R=200 。若负载电阻变化范围为1.5 k 4 k

7、,是否还能稳压?,UZW=10V ui=12V R=200 Izmax=12mA Izmin=2mA RL=2k (1.5 k 4 k),iL=uo/RL=UZ/RL=10/2=5(mA) i= (ui - UZ)/R=(12-10)/0.2=10 (mA) iZ = i - iL=10-5=5 (mA) RL=1.5 k , iL=10/1.5=6.7(mA), iZ =10-6.7=3.3(mA) RL=4 k , iL=10/4=2.5(mA), iZ =10-2.5=7.5(mA),15.4 半导体三极管,15.4.1 基本结构,NPN型,PNP型,三极管符号,基区:较薄,掺杂浓度低,

8、集电区:面积较大,发射区:掺 杂浓度较高,发射结,集电结,15.4.2 电流放大原理,发射结正偏,发射区电子不断向基区扩散,形成发射极电流IE。,1,进入P区的电子少部分与基区的空穴复合,形成电流IB ,多数扩散到集电结。,EB,RB,Ec,从基区扩散来的电子漂移进入集电结而被收集,形成IC。,2,要使三极管能放大电流,必须使发射结正偏,集电结反偏。,静态电流放大倍数,静态电流放大倍数,动态电流放大倍数,动态电流放大倍数,IB : IB + IB,15.4.3 特性曲线,IB 与UBE的关系曲线(同二极管),(1)输入特性,死区电压,硅管0.5V,工作压降: 硅管UBE 0.7V,(2)输出特

9、性(IC与UCE的关系曲线),IC(mA ),Q,Q,输出特性,IC(mA ),当UCE大于一定的数值时,IC只与IB有关,IC=IB , 且 IC = IB 。此区域称为线性放大区。,此区域中UCEUBE,集电结正偏,IBIC,UCE0.3V称为饱和区。,此区域中 : IB=0 , IC=ICEO , UBE 死区电压,,称为截止区。,输出特性三个区域的特点:,(1) 放大区 BE结正偏,BC结反偏, IC=IB , 且 IC = IB,(2) 饱和区 BE结正偏,BC结正偏 ,即UCEUBE , IBIC,UCE0.3V,(3) 截止区 UBE 死区电压, IB=0 , IC=ICEO 0

10、,例: =50, USC =12V, RB =70k, RC =6k 当USB = -2V,2V,5V时, 晶体管的静态工作点Q位 于哪个区?,USB =-2V, IB=0 , IC=0, Q位于截止区,USB =2V, IB= (USB -UBE)/ RB =(2-0.7)/70=0.019 mA IC= IB =500.019=0.95 mA ICS =2 mA , Q位于放大区 IC最大饱和电流ICS = (USC -UCE)/ RC =(12-0)/6=2mA,例: =50, USC =12V, RB =70k, RC =6k 当USB = -2V,2V,5V时, 晶体管的静态工作点Q

11、位 于哪个区?,USB =5V, IB= (USB -UBE)/ RB =(5-0.7)/70=0.061 mA IC= IB =500.061=3.05 mA ICS =2 mA , Q位于饱和区(实际上,此时IC和IB 已不是的关系),三极管的技术数据:(自学) (1)电流放大倍数 (2)集-射间穿透电流ICEO (3)集-射间反向击穿电压UCEO (BR) (4)集电极最大电流ICM (5)集电极最大允许功耗PCM,15.5 场效应晶体管,场效应管与晶体管不同,它是多子导电,输入阻抗高,温度稳定性好。,结型场效应管JFET,绝缘栅型场效应管MOS,场效应管有两种:,MOS绝缘栅场效应管(N沟道),(1) 结构,P型基底,两个N区,SiO2绝缘层,金属铝,N导电沟道,N沟道增强型,(2)符号,N沟道耗尽型,栅极,漏极,源极,耗尽型N沟道MOS管的特性曲线,输出特性曲线,UGS=0V,UGS=+1V,UGS=+2V,夹断电压UP=-2V,耗尽型N沟道MOS管的特性曲线,转移特性曲线,跨导gm,= ID / UGS,=(3-2)/(1-0)=1/1=1mA/V,本课重点,(1)二极管的特性曲线,静态电阻, 动态电阻。 (2)稳压二极管的特性曲线及稳压计算。 (3)晶体管的特性曲线,三个工作区域, 电流放大倍数。 (4)N沟道 MOS绝缘栅场效应管的特性 曲线,跨导。,

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