富晶dw01+规格书

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1、 REV. 1.0 DW01+-DS-10_SC OCT 2013 Datasheet DW01+ 单节锂离子/锂聚合物电池保护单节锂离子/锂聚合物电池保护IC FORTUNE Properties For Reference Only DW01+ Fortune Semiconductor Corporation 富晶电子股份有限公司富晶电子股份有限公司 23F., No.29-5, Sec. 2, Zhongzheng E. Rd., Danshui Town, Taipei County 251, Taiwan Tel.:886-2-28094742 Fax:886-2-28094874

2、 www.ic- This manual contains new product information. Fortune Semiconductor Corporation reserves the rights to modify the product specification without further notice. No liability is assumed by Fortune Semiconductor Corporation as a result of the use of this product. No rights under any patent acc

3、ompany the sale of the product. Rev. 1.0 2/14 FORTUNE Properties For Reference Only DW01+ 1. 概述 概述 DW01+电池保护 IC 设计目的在于保护单节锂离子/锂聚合物电池系统应用(例如移动电话)由于过充,过 放,过流等而导致的电源寿命的损坏或衰退。 超小型封装和更少的外部元件需求使得 DW01+能够理想的集成到空间更小的电池组中。精确到50mV 的过 充检测电压以确保安全和高效的充电。当电池在储存时仅仅维持极低的自耗电。 2. 特点 特点 小型封装:SOT-23-6. 低耗电流: 工作模式:典型值 3

4、.0A(Vcc=3.9V)。 休眠模式:最大值 0.1A(Vcc=2.0V)。 高精度过充保护电压:4.3V50mV。 过充模式中的负载检测功能 2 种过流保护检测标准 各种延迟时间由内置电路来实现,不需外接电容。 3. 订购讯息 订购讯息 DW01 封装类型:SOT-23-6 工作温度范围:-40+85 过充保护电压:4.3V50mV 4. 应用 应用 单节锂离子/锂聚合物可充电电池组 5. 产品目录 产品目录 型号 封装 过充检测电压 VOCP(V) 过充释放电压 VOCR(V) 过放检测电压 VODP(V) 过放释放电压 VODR(V) 过流检测电压 VOI1(mV) SOT-23-6

5、DW01+ DW01+ 4.3000.050 4.1000.050 2.400.100 3.00.100 15030 6. 脚位信息 脚位信息 脚位 符号 说明 1 OD 放电控制用 MOSFET 门极连接端子 2 CS 过流检测输入端子,充电器检测端子 3 OC 充电控制用 MOSFET 门极连接端子 4 TD 减少延迟时间测试脚 5 VCC 电源端,通过一个电阻(R1)输入 6 GND 接地端 最顶部点:批次编码 底部点与线:年份 W:周,AZ或者AZ W 上面的点存在:无铅 W 上面的点不存在:无卤 Rev. 1.0 3/14 FORTUNE Properties For Referen

6、ce Only DW01+ 7. 方框图 方框图 8. 典型应用电路 典型应用电路 符号 用途 推荐值 备注 R1 静电保护作用和滤除电源 波动 100-470 为了避免因消耗电流引起的过充电检测精度的降低,请尽可 能的选择比较小的阻值。用 470 电阻能更好的起到静电保 护作用。 C1 滤除电源波动 0.1F R2 反向连接充电器时起保护 作用。 1K-2K 为防止充电器反向连接时产生的大电流,请尽可能的选择比 较大的阻值。 Rev. 1.0 4/14 FORTUNE Properties For Reference Only DW01+ 9. 绝对最大额定值 绝对最大额定值 (GND=0V

7、, Ta=25 除非特别说明) 项目 符号 规格 单位 VCC 和 GND 之间输入电压 VCC GND-0.3 to GND+10 V OC 输出端子电压 VOC VCC-24 to VCC+0.3 V OD 输出端子电压 VOD GND-0.3 TO VCC+0.3 V CS 输入端子电压 VCS VCC-24 TO VCC+0.3 V 工作温度范围 TOP -40 TO +85 储存温度范围 TST -40 TO +125 注意:DW01+包含了一个静电放电保护电路,但是请特别注意没有额外的应用电路用于保护过大的静电或过 大的电压。 10. 电器特性 电器特性 参数 测试条件 符号 最小

8、值 典型值 最大值 单位 工作电流 VCC=3.9V ICC 3.0 6.0 A 休眠电流 VCC=2.0V IPD 0.1 A 过充保护电压 DW01+ VOCP 4.25 4.30 4.35 V 过充释放电压 VOCR 4.05 4.10 4.15 V 过放保护电压 VODP 2.30 2.40 2.50 V 过放恢复电压 VODR 2.90 3.00 3.10 V 过流保护电压 VOIP(VOI1) 120 150 180 mV 短路保护电压 VCC=3.6V VSIP(VOI2) 1.00 1.35 1.70 V 过充延迟时间 TOC 80 200 ms 过放延迟时间 VCC=3.6V

9、 to 2.0V TOD 40 100 ms 过流延迟时间(1) VCC=3.6V TOI1 10 20 ms 过流延迟时间(2) VCC=3.6V TOI2 5 50 s 充电器检测阈值电压 VCHA -1.2 -0.7 -0.2 V OD 脚输出“高电平”电压 VDH VCC-0.1 VCC-0.02 V OD 脚输出“低电平”电压 VDL 0.1 0.5 V OC 脚输出“高电平”电压 VCH VCC-0.1 VCC-0.02 V OC 脚输出“低电平”电压 VCL 0.1 0.5 V Rev. 1.0 5/14 FORTUNE Properties For Reference Only

10、 DW01+ 11. 测试方法 测试方法 11.1. 过充、过放测试电路及方法: R1 100 方法:1. 将 fluck 5500A 校准器的初始输出电压设置为 3.6V,再慢慢调升(幅度为 1mv)电压同时观察示波器 OC 脚位的电平,当 OC 脚电平从 H 变为 L 时,此时校准器的电压值为 VOCP(过充保护检测电压), 再慢慢下调校准器电压(幅度为 1mv),当 OC 脚的电平从 L 变为 H 时,此时校准器的值为 VOCR(过 充释放电压)。 2. 将 fluck 5500A 校准器的初始输出电压设置为 3.6V,再慢慢下调(幅度为 1mv)电压同时观察示波器 OD 脚位的电平,当

11、 OD 脚电平从 H 变为 L 时,此时校准器的电压值为 VODP(过放保护检测电压), 再慢慢调升校准器电压(幅度为 1mv),当 OD 脚的电平从 L 变为 H 时,此时校准器的值为 VODR(过 放释放电压)。 11.2. 过充延迟时间测试电路及方法: FS326 Series OC VDD FLUKE 5500 Calibrator C1 0.1uF VSS CSI R2 1k DS DW01+G OD Oscilloscope VSS VSS R1 100 F VDD S326 Series OC HP E3630A DC Power Supply VSS CSI R2 1k DS

12、C1 0.1uF HP 33120A Function Generator VSS VSS OD Oscilloscope DW01+G Trigger Rev. 1.0 6/14 FORTUNE Properties For Reference Only DW01+ 方法:用 fluck 5500A 校准器来代替 HP E3630 与 HP 33120A 充当信号源,将信号设置为幅度 1V(vpp),频率 0.2HZ,偏值电压为 3.9V 的信号,同时观察示波器 OC 脚位的电平,并采取 这样读取方式来获得 TOC(过充延迟时间) 。 11.3. 过放延迟时间测试电路及方法: R1 100

13、VDD 方法:用 fluck 5500A 校准器来代替 HP E3630 与 HP 33120A 充当信号源,将信号设置为幅度 1V(vpp),频率 0.2HZ,偏值电压为 2.7V 的信号,同时观察示波器 OD 脚位的电平,并采取 这样读取方式来获得 TOD(过放延迟时间)。 FS 326 S eries OC HP E3630A DC P ower S upply VS S CS I R2 1k DS C1 0.1uF HP 33120A Function Ge ne rator VS S VS S OD Oscilloscope DW01+G Trigge r Rev. 1.0 7/14

14、 FORTUNE Properties For Reference Only DW01+ 11.4. 过流测试电路及方法: R1 100 F VDD 方法:用 Agilent E3633A 来代替 HP E3630 充当电芯,将 Agilent E3633A 输出电压调到 3.6V,再将 fluck 5500A 校准器的初始输出电压设置为 0V,然后慢慢调升校准器(幅度为 1mv) 电压同时观察示波器 OD 脚位的 电平,当 OD 脚电平从 H 变为 L 时,此时校准器的电压值为 VOIP(过流保护检测电压)。 11.5. 过流、短路延迟时间测试电路及方法: 方法:1. 用Agilent E3

15、633A来代替HP E3630充当电芯,将Agilent E3633A输出电压调到3.6V,再将fluck 5500A 校准器的输出信号设置为幅度 190mv(vpp),频率 10HZ,偏值电压 100mv 的信号, 同时观察示波器 OD 脚位的电平,并采取这样读取方式来获得 TOI1(过流延迟时间)。 S 326 S erie s OC VS S CS I R2 1k DS C1 0.1uF VS S OD Oscilloscope FLUKE 5500 Ca librator HP E3630A DC P owe r S upply as Ba tte ry DW01+G VS S R1

16、100 FS326 Series OC VDD HP E3630A C Power SupplyD VSS CSI R2 1k DS C1 0.1uF VSS VSS OD Oscilloscope HP 33120A Function Generator DW01+G Trigger Rev. 1.0 8/14 FORTUNE Properties For Reference Only DW01+ 2. 5500A 校准器的输出信号设置为幅度 2V(vpp),频率 100HZ,偏值电压 1V 的信号,同时观察示波器 D 脚位的电平,并采取 用 Agilent E3633A 来代替 HP E3630 充当电芯,将 Agilent E3633A 输出电压调到 3.6V,再将 fluck O这样读取方式来获得 TOI2(短路延迟时间)。 11.6. 测试电路及方法: 方法:到 3.9V,同时用

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