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1、1,Statistical Process Control,SPC 統計過程管制,2,講議大綱,Spc的產生 管制圖的分類 X-R管制圖制作步驟 管制圖的判讀法 Ca 、Cp、Cpk,3,一、SPC 產生過程,SPC經曆了：1910年-1924年-1939年-1940年四個階段 美國在二次世界大戰中為了武器的品質曾經普遍的推廣興使用統計方法 故說:品管史就是戰爭史，品管因戰爭而進步,4,A.計量值管制圖 a.平均值与全距管制圖(X-R Chart) b.中位值与全距管制圖(X-R Chart) c.個別值与移動全距管制圖(X-Rm Chart) d.平均值与標准差管制圖(X-R Chart)
2、B.計數值管制圖 a.不良率管制圖 b.不良數管制圖 c.缺點數管制圖 d.單位缺點數管制圖,二、管制圖的分類,5,平均值與極差管制圖 ( X R ),A 收集資料 A1 選擇子組大小、頻率和資料 A2 建立管制圖及記錄原始資料 A3 計算每個子組的平均值 ( X ) 和極差 ( R ) A4 選擇管制圖的刻度 A5 將平均值和極差，標記到管制圖上,三、 X-R管制圖制作步驟,6,(1)建立管制圖之步驟 a:選定管制項目 b:收集數據 C:按產品生產之順序或測定順序排列數據 d:數據之分組 sample=25, group=2025 e:將分組之數據紀錄數據記錄表 f:計算平均值X bar g
3、:計算全距 R,平均值與極差管制圖 ( X R ),7,h:計算總平均值 X I:計算全距之平均值 R j:查係數A2, D4, D3( 表 12-2 ) k:計算管制界限 l:繪管制界限 m:點圖 n:管制界限之檢討 (1)全界限內並隨機分佈-直接建立管制用管制圖 (2)有點超出規格-調查消除並重新計算管制界限,平均值與極差管制圖 ( X R ),8,(3)有點超出原因不明或已查出但無法消除這些點無須 除去. (4)重新計算管制界線後仍有點超出新管制界,無須去除. O.畫直方圖 p.與規格比較 (1)(USL-LSL)(UCL-LCL) =製程能力O.K. (2)(USL-LSL)=(UCL
4、-LCL) =製程能力需調整 (3)(USL-LSL)製程能力 N.G.,需做製程 能力之改善 (2)建立管制用管制圖 a:記入必要事項 b:做管制界限,平均值與極差管制圖 ( X R ),9,平均值與極差管制圖 ( X R ),C 過程控制說明 C1 首先分析極差圖上的資料 任何超出管制限的點 連續 7 個點，全在中心線之上，或連續上升 連續 7 個點，全在中心線之下，或連續下降 可能為：模具受損或機器固定鬆動，或換班、換批 ，或量測系統改變(新人、新量具)。,10,平均值與極差管制圖 ( X R ), 其他明顯非隨機的圖形 各點與 R 的距離：一般大約 2 / 3 的點，應落在中心線 為中
5、心的 1 / 3 管制區域內，若非如此，則需進行調查 並改善。 可能為： 管制上、下限或描點計算錯或標示錯。 若有 2 / 3 的點，落在中心線為中心的 1 / 3 管制區域內，則 人、機、料、法已達相當穩定之狀況， ，以此來作為下一階段的監控和持續改善。,11,平均值與極差管制圖 ( X R ),C 過程控制說明 C2 識別並標注特殊原因極差圖 C3 重新計算管制上、下限( 極差圖 ) C4 分析平均值圖上的資料 如同C1之分析 C5 識別並標注特殊原因平均值圖 C6 重新計算管制上、下限( 平均值圖 ),12,管制圖判讀法,1.檢定規則一:有單獨一點出現在三個標準差區域之外,2.檢定規則二
6、:連續三點中有兩點落在A區或甚至A區之外者.,13,3.檢定規則三:連續五點中有四點落在B區或甚至B區之外者,4.檢定規則四:連續八點落在C區或甚至C區之外者,管制圖判讀法,14,5.檢定規則五:連續五點上升或下降-注意動態 連續六點上升或下降-開始調查原因 連續七點上升或下降-立即採取措施,管制圖判讀法,15,6.點出現在中心線之單側較多時： a. 連續11點中有10點以上(含10點) b. 連續14點中有12點以上(含12點) c . 連續17點中有14點以上(含14點) d. 連續20點中有16點以上(含16點) 7點出現在管制界限之近旁超出2區域： a . 連續3點中有2點以上(含2點
7、) b . 連續7點中有3 點以上(含3點) c . 連續10點中有4點以上(含4點),管制圖判讀法,16,例: 品質特性：內胎長度,規 格：50 10 cm,X = 50.25 R = 5.4,17,解析用管制圖 ( X R ),計算管制上、下限 計算平均極差( R )，過程平均值 ( X ) 計算管制上、下限，並標記管制線 極差： UCLR = D4 R LCLR = D3 R 平均值：UCLX = X + A2R LCLX = X A2R,18,X 管制圖,CL = X = 50.25 UCL = X + A2R = 53.38 LCL = X - A2R = 47.12,R 管制圖,C
8、L = R = 5.4 UCL = D4R = 11.39 LCL = D3R = 0,19,X 管制圖,20,R 管制圖,特殊原因,21,一 確立製造流程,二 決定管制項目,三 實施標準化,四 過程能力調查 Ca、Cp、Cpk,五 管制圖的運用,六 問題分析解決,六 問題分析解決,七 製程繼續管制,Cpk1,Cpk1,製程條件變動時,22,利用5W1H已掌握製程狀態,WHY(為何) WHAT(做什麼) WHERE(何處) WHEN(何時)- WHO(何人) HOW(如何),23,決定管制項目,管制項目的定義 為維持產品的品質，作為管制對象所列舉的項目 特殊特性： 尺寸、材質、性能、外觀,24
9、,實施標準化,意義：所做的每一件工作、產品，都是 可以成為可靠的工作與可靠的產品 目的：不會做出標準以下的工作、產品 步驟：1.成立標準化體制 2.標準化的計劃 3.標準化的運作 4.標準化的評價,25,數值法過程能力分析,製程準確度Ca(Capability of Accuracy) 衡量自產品中所獲得產品資料的實績平均值(X),與規格中心值(u)其間偏差的程度,是期望製程中生產的每個產品的實際值能與規格中心值一致 (1)Ca之計算方式如下： 實績平均值-規格中心值 X-u Ca=-*100% = -*100% 規格公差/2 T/2 T=SU-SL =規格上限-規格下限,集中趨勢,26,Ca
10、值的等級判定 Ca值是正值-實績平均值較規格中心值偏高 Ca值是負值-實績平均值較規格中心值偏低 Ca值愈小,品質愈佳。依Ca值大小一般分為四級：,27,(4)處置原則,A級：維持現狀 B級：改進為A級,C級：立即檢討改善 D級：立即採取緊急措施，全面檢討， 必要時停止生產,28,製程精密度Cp(Capability of Precision) 衡量自產品中所獲得產品資料的6個估計實績標準差(),與規格公差(T)其間相差的程度,是期望製程中生產的每個產品以規格中心值為目標，其變異寬度愈小愈好，換言之，即在衡量規格公差範圍與製程變異寬度兩者間相差程度 (1)Cp之計算方式如下：,離散趨勢,29,
11、Cp值的等級判定 Cp值愈大-規格公差(T)大於估計實績標準差( )愈多， 即表示製程的變異寬度遠小於規格公差 Cp值愈大,品質愈佳。依Cp值大小一般分為五級：,30,(3)Cp等級之說明,6 E 級,6 D 級,6 C 級,6 B 級,6 A 級,規格中心值,規格上限,規格下限,Cp 0.67,Cp = 0.67,Cp = 1.00,Cp = 1.33,Cp = 1.67,T = 10 ,T = 8 ,T = 6 ,T = 4 ,31,過程能力指數 Cpk ( 穩定的制程 ),Cpk =,( 1 Ca ),* Cp,當 Ca = 0 時，Cpk = Cp,單邊規格時，Cpk 即以 Cp 值計之,集中趨勢,離散趨勢,32,(3)Cpk 等級之說明 ( 當 Ca = 0 ),6 E 級,6 D 級,6 C 級,6 B 級,6 A 級,規格中心值,規格上限,規格下限,Cpk 0.67,Cpk = 0.67,Cpk = 1.00,Cpk = 1.33,Cpk = 1.67,T = 10 ,T = 8 ,T = 6 ,T = 4 ,Cpk = 2.00,T = 12 ,
