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模拟电子试卷5参考答案一、 1、IS(-1) 2、100 3、共射、共基；共射、共集；共基；共集；共射 4、抑制共模信号能力增强 5、-135， -225二、 1、 2、 3、 4、 5、三、由温度变化所引起的半导体器件参数的变化是产生此现象的主要原因。四、（1）U+2=Uo= U-2，U+1=UI2， Uo=10（1+）（UI2-UI1）（2）Uo=100mV（3）R2=9.989K五、VEE=VBEQ1+IEQRW+2IEQReIEQ=0.517mA ， Ad=-=97 Ri=10.4K六、(1) m和g相连、p和h相连、f和J相连、h和e相连(2) Rf =190K七、（1）Uo1：上正下负 Uo2：下正上负 （2）全波 （3）+18V -18V
