TYJCC1-NDT-001承压设备对接焊接接头射线检测通用工艺规程分解

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1、山东泰阳特种设备检测科技有限公司文件号TYJC/C1-NDT-001页码第 13 页 共 14 页检测工艺规程版本号第2版修订号0主 题承压设备对接焊接接头射线检测通用工艺规程实施日期2015-01-101 适用范围11本工艺规程适用于板厚2100mm钢制承压设备的熔化焊对接焊接接头X射线和射线AB级检测技术。12本工艺规程规定了射线检测应具备的人员资格、设备、器材、工艺、验收标准等。2 引用标准JB/T4730.1承压设备无损检测 第一部分:通用要求JB/T4730.2承压设备无损检测 第二部分:射线检测3 要求3.1 射线检测人员3.1.1检测人员必须经过技术培训,按特种设备无损检测人员考

2、核规则要求取得与其工作相适应的资格证书。3.1.2 在施工现场从事射线检测的人员应进行辐射安全知识的培训,并取得辐射安全与防护培训合格证书。3.1.3从事评片的检测人员应每年检查一次视力,未经矫正或矫正近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0(小数记录值为1.0),测试方法应符合GB11533的规定。评片人员应能辨别距400mm远的一组高为0.5mm,间距为0.5mm的印刷字母。3.2辐射防护:321放射卫生防护应符合GB18871、GB16357和GB18465的有关规定。322现场进行X射线检测时,应划定控制区和管理区、设置警告标志。检测作业人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。实施检测

3、前根据公司工艺规程制定施工现场防护方案。323现场进行射线检测时,应划定控制区和监督区、设置警告标志。检测作业时,应围绕控制区边界测定辐射水平。检测作业人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。实施检测前根据公司工艺规程制定施工现场防护方案。3.3设备器材和材料3.3.1射线源和能量的选择3.3.1.1使用设备见下表表1制造厂型号有效焦点尺寸(mm)透照厚度范围(mm)备注丹东XXH-25051.02.4230周向丹东XXHG-3505Z1.02.5250周向丹东XXHG-3505Z1.02.5250周向丹东XXG-35052.52.5250定向丹东XXG-25052.02.0230定向丹东XX

4、G-25052.02.0230定向注:采用源在中心透照方式,在保证像质计灵敏度达到表3要求的前提下,允许射线最小透照厚度取表1下限值的1/2;采用其它透照方式,在采取有效补偿措施并保证象质计灵敏度达到表3要求的前提下,经合同各方同意,Ir192最小透照厚度可降至10mm,Se75最小透照厚度可降至5mm。3.3.1.2透照不同厚度的钢制承压设备时,允许使用的最高管电压应控制在下图的范围内。1234567891020304050100200300150允许的最高管电压KV透照厚度W,mm图1 X射线机不同透照厚度允许的最高管电压3.3.2胶片和增感屏3.3.2.1在满足灵敏度要求情况下一般X射线

5、选用下列T3型胶片:爱克发、柯达、富士;射线选用下列T2型或T3型胶片:爱克发、柯达、富士。采用射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用T2类或更高类别的胶片。经过试验并经公司批准,也可采用满足灵敏度要求的其它品牌胶片。3.3.2.2增感屏采用金属增感屏,金属增感屏的厚度选择见下表表2射线种类增感屏材料前屏厚度(mm)后屏厚度(mm)300KV铅0.030.03Se-75铅0.10.1Ir-192铅0.10.13.3.2.3胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。3.3.3像质计采用线型金属丝像质计,其型号和规格应符合JB/T7902的规定,JB/T7902中未包含的丝径、线号等内容,应

6、符合HB7684的有关规定。3.3.3.1像质计的选用由、级人员按不同的透照方式和透照厚度选择表3中规定的丝号。3.3.3.1.1像质计一般应放置在工件源侧表面焊接接头的一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝应横跨焊缝,细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。如底片黑度均匀部位(一般是邻近焊缝的母材金属区)能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的。专用像质计至少应能识别两根金属丝。3.3.3.1.2透照厚度:指射线照射方向上材料的公称厚度。单层透照时,透照厚度为公称厚度;多层透照时,透照厚度为通过的各层材料公称

7、厚度之和。焊缝两侧母材厚度不同时以薄板计。表3-1 像质计灵敏度值单壁透照、像质计置于源侧透照厚度W(mm)应识别丝号丝径(mm)-180.0632170.0802.03.5160.1003.55.0150.1255.07140.160710130.201015120.251525110.322532100.40324090.50405580.63558570.88515061.0表3-2 像质计灵敏度值双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧透照厚度W(mm)应识别丝号丝径(mm)-180.0632170.0802.03.5160.1003.55.5150.1255.511140.16011

8、17130.201726120.252639110.323951100.40516490.50648580.638512570.83.3.3.2像质计的放置a)单壁透照规定像质计放置在源侧,如果像质计无法放置在源侧时,允许放置在胶片侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。b)单壁透照中,像质计放置在胶片侧时,应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放置一个像质计,用与工件相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的差异,以此修正应识别像质计丝号,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。c)当像质计放置在胶片侧时,应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记

9、同时出现在底片上,且应在检测报告中注明。3.3.3.3原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时,使用的像质计数量允许减少且应符合以下要求:a)环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等间隔的放置3个像质计。b)球罐对接焊接接头源置于球心的全景曝光时,至少在北极区、赤道区、南极区附近的焊缝上沿纬度等间隔的各放置3个像质计,在南、北极的极板拼缝上各放置1个像质计。c)一次曝光连续排列的多张胶片时,至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。3.3.4 无用射线和散射线屏蔽a)应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施,屏蔽散射线和无用射线,限

10、制照射场范围。b)对初次制定的检测工艺,或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是:在暗盒背面贴附“B”铅字标记,一般“B”铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像。则说明背散射防护不够,若底片上不出现“B”字影像或出现黑度高于周围背景影像黑度的“B”字影像则说明背散射防护符合要求。3.3.5识别系统:识别系统由定位标记和识别标记构成。3.3.5.1 定位标记焊缝透照定位标记包括:搭接标记()(或标定尺)和中心记( )局部检测时搭接标记称为有效区段标记。当100%检测时

11、,用铅质数字代替搭接标记,可不用中心标记。3.3.5.2识别标记识别标记包括:产品编号、对接焊接接头编号、底片编号、工件厚度和透照日期等,返修部分还应有R1,R2(数码表示返修次数),扩大检测比例的透照还应有扩大检测标记K1、K2(数码表示扩检底片张数)。3.3.5.3标记位置1片号/搭接标记2搭接标记04101524A1L3L33/4(a)数字标记a)像质计和识别系统的位置如图2所示,识别系统编号至少距焊缝边缘5mm。位置标记源象质计B铅字识别标记产品编号拍片日期04101524 A1 - 1焊缝编号片号5(a)搭接号标记T8厚度图2 像质计和标记的布置b)搭接标记除中心全景曝光外,一般置于

12、射源侧的工件表面上但对于源在曲面工件内,且焦距大于曲率半径时,必须放于胶片侧。c)受检部位上的永久性标记按附录A执行,工件不适合打钢印标记时,应采用绘图和漆标的方法办理。3.3.6观片灯和评片室3.3.6.1观片灯观片灯的亮度至少应能观察最大黑度4.5的底片,且观片窗的漫射光亮度可调,并备有遮光板,对不需观察或透光量过强部分予以屏蔽。3.3.6.2评片室评片应在评片室进行,评片室光线应暗淡但不能全暗,周围环境亮度应大致与底片上需观察部位透过光亮度相当。室内照明光线不应在观察的底片上产生反射。3.3.7黑度计和比较黑度片采用TD-210型黑度计和仪器自带比较黑度片,黑度计可测的最大黑度不小于4.

13、5,黑度计误差0.05,黑度片至少每半年校验一次。校验方法参照JB/T4730.2附录B。3.4受检部位的表面准备3.4.1同一条焊缝的余高在允许范围内应均匀,以保证底片黑度处于规定范围内。3.4.2距焊缝中心各50mm范围内焊疤、飞溅、成型粗糙及表面缺陷应补焊、修磨,处理,不应掩盖或干扰缺陷在底片上影像的分辨。3.4.3焊缝及热影响区的表面质量,应经焊接检查员严格检查,确认合格。3.4.4受检表面在探伤员受理委托后,在透照之前,对其进行检查认可。3.5检测技术、级人员按工艺卡及受检部件具体情况合理选择设备、器材和材料对其进行检测。3.5.1几何条件3.5.1.1最小焦距应按JB/T4730.

14、2中诺模图确定或按下式计算f/d102/3b式中: f:为源至被检部位工件表面的距离d:焦点尺寸(方焦点取边长,矩形焦点取长短边之和的1/2)b:被检部位工件表面至胶片的距离3.5.1.2分段曝光时,每次曝光所检测的焊缝长度称一次透照长度,一次透照长度除满足几何不清晰度的要求处,还应满足透照厚度比K值的要求,对于AB级而言,纵缝K1.03,环缝1.1。3.5.2透照技术只要实际允许则均应采用单壁透照技术,只有当单壁透照技术不可行或因具体结构原因执行有困难时方可使用双壁透照技术。3.5.2.1单壁透照(包括纵缝透照法,环缝外透法和环缝内透法)a)胶片、像质计和标记布置如图2所示。b)搭接标记的放置按3.3.5.3要求。c)像质计型号选用、数量和放置满足3.3.3要求。d)纵缝透照。纵缝单壁透照一般f10d.b2/3如图

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